微彎測試方法C解析與優化

■ 王小泉 謝曉紅 （南京烽火藤倉光通信有限公司 江蘇 南京 210038）

曹姍姍 （中天科技集團股份有限公司 江蘇 南通 226009）

李春生 （北京郵電大學研究所 北京 100876）

微彎測試方法C解析與優化

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李春生 （北京郵電大學研究所 北京 100876）

微彎測試作為中國標準化協會TC6/WG3的研究項目,由6家光纖制造商和3家實驗室共同建立一個研究小組，研究光纖微彎測試方法，微彎測試方法在IEC TR 62221被提及，測試方法主要有四種，這篇論文主要研究IEC TR 62221中的方法C，針對現有的方法C，通過實驗了解此方法存在的問題分，提出方法C做改進意見，并對改進前后的數據做對比，為保證測試的一致性，確定實驗裝置的要求以及實驗方法的要求以及實驗過程中應注意的問題做了詳細說明。

微彎測試方法C 濾膜 IEC TR 62221 應力

前言

隨著光通信行業的迅猛發展，微彎測試被越來越多的人提及，在光纖通信系統中，光纖的微彎損耗的累計可以導致光纖傳輸整體損耗的增加，最終影響光纖通信鏈路的各項傳輸性能。導致光纖微彎的原因包括非均勻的外部壓力，例如光纜護套料帶來的壓力，光纖和光纖的接觸等，并且這種微彎損耗在低溫下尤其明顯。但是關于微彎損耗的 測試確沒有一個具體明確的方法，IEC也有關于微彎測試的技術報告，其中有四種測試方法被提及。中國的標準協會CCSA也關注改性能參數，并……