張培培 呂震宇 趙爽 吳紅霞
摘要:針對帶鋼表面缺陷檢測系統的速度滯后,精度偏低等問題,在分析成像理論和圖像檢測理論的基礎上,設計并實現了一種帶鋼表面缺陷高速高精度在線檢測系統,該系統首先采用大功率半導體均勻發光激光器技術、高速線掃描成像技術和基于圖形處理器的Gabor紋理濾波技術實現了高速高分辨率的圖像采集和處理,然后采用基于嵌套循環的K-折交叉驗證、信息增益率和BP神經網絡方法構建了高準確率的分類器,以達到對帶鋼表面缺陷高速高精度在線檢測,實驗結果表明,該系統滿足了現有帶鋼生產速度的要求,具有較高的精度和準確率。
關鍵詞:圖像采集和處理;圖像檢測;Gabor紋理濾波;神經網絡
DoI:10.15938/j.jhust.2016.06.009
中圖分類號:TPl83;TP391.4
文獻標志碼:A
文章編號:1007-2683(2016)06-0044-06
0.引言
鋼鐵企業為了提高競爭力,對帶鋼的生產提出了新的要求,也對帶鋼表面檢測系統提出了更高的要求,既要有更高的檢測速度還要有更加準確的檢測精度,而與此同時,跟隨機器視覺技術的發展,帶鋼表面檢測系統也得到了廣泛的研究與應用,主要研究包括:①光源技術,由于帶鋼檢測對光源要求頻度高、體積小,這限制了傳統光源在其應用,激光具有方向性好、亮度高、體積小等優點,被廣泛應用于帶鋼檢測應用中,國內的徐科等提出熱軋鋼檢測中用綠光作為激光光源,但激光照明需解決均勻性問題.②掃描技術,由于電荷耦合元件(charge-coupled device,CCD)能夠實現實時檢測,成為目前研究和應用的主流技術,但是,CCD電荷耦合器需在同步時鐘的控制下,以行為單位一位一位地輸出信息,速度較慢,而互補金屬氧化物半導體(complementary metal oxide semiconductor,CMOS)光電傳感器采集光信號的同時就可以取出電信號,還能同時處理各單元的圖像信息,速度比CCD電荷耦合器快很多,③圖像處理算法,受限于帶鋼加工過程的特性,帶鋼表面呈現出隨機紋理的特點,對于隨機紋理圖像的處理分析,目前常用的方法有共生矩陣法、頻域濾波法、分形法等,作為頻域濾波法的代表,二維Gabor濾波器有著與生物視覺系統相近的特點,廣泛應用于紋理圖像的處理分析,但是,CPU很難滿足現在的帶鋼檢測的實時要求,④分類算法,特征選擇的主流算法是主成分分析和信息增益,主成分分析存在特征向量方向不一致的問題,而且如何確定主成分存在主觀性,信息增益可以衡量特征的優劣,利用它可對特征進行排序,方便后面的特征選擇,但信息增益適用于離散特征,信息增益率既適用于離散特征也適用于連續特征,被廣泛應用于特征選擇的過程中,圖像分類算法主流算法包括支持向量機和BP神經網絡,支持向量機不適用于大樣本的分類問題,BP神經網絡方法具有能夠解決非線性分類問題,對噪聲不敏感等優點,被廣泛應用于帶鋼檢測中,如王成明等提出的基于BP神經網絡的帶鋼表面質量檢測方法等,但是BP神經網絡的超參的設定往往具有隨機性,這嚴重影響了分類效果。
本文首先介紹了帶鋼表面缺陷高速高分辨率成像系統的設計,針對光源的不均勻性、圖像處理速度慢等問題,提出改進方法,然后介紹了分類器的構建,針對樣本劃分的隨機性、特征選擇的隨機性以及BP神經網絡超參設定的隨機性問題,做出改進,最后介紹試驗結果。
1.帶鋼表面缺陷高速高分辨率的成像系統的設計
1)大功率半導體均勻發光激光器技術,激光能夠保證帶鋼表面缺陷的檢出率,本系統選用808mm半導體激光器作為照明源,出光功率可達30w,亮度可達1500流明,激光照明需解決均勻性的問題,本文采用了基于鮑威爾棱鏡的激光線發生辦法,解決了激光照明的均勻性問題,其光路如圖1所示。
該方法首先在激光聚焦位置放置圓形球面透鏡,負責將發散的激光束匯聚成準平行光,同時控制光柱的粗細,然后,利用鮑威爾棱鏡的擴散效果對圓柱的一個方向進行擴束,最終形成激光線,為保證亮度及寬度的適應性,激光器出光口距離圓透鏡、鮑威爾棱鏡的距離可以精密調整,為了降低反射亮度損失,在透鏡表面鍍上808±5nm的T≥99%的增透膜。
GPU的算法分為兩個流程:訓練過程主要針對無缺陷圖像進行,通過訓練完成紋理圖像的背景建模,一方面消除背景變化帶來的干擾,另一方面形成有效的Gabor卷積參數,以便在檢測過程中得到最優的檢出效果.檢測過程對實際拍攝的缺陷圖像進行分析,首先按照GPU的核心數和緩存大小對圖像進行分解,本文所有GPU的核心數為1024,顯存2G,因此將原始圖像分解為1000塊,分別加載到1000個核心中,同時并發運行卷積運算.最后將各個窗口的卷積結果合并到一起,得到完成的濾波結果,最后借助于背景模式,將背景的干擾消除,得到干凈的缺陷區域。
3)成像系統,根據缺陷檢測的精度要求(1800m/min的檢測速度,0.25mm的精度),帶鋼的規格要求(1900 mm規格),對帶鋼進行成像系統設計,基于互補金屬氧化物半導體(CMOS)的成像芯片具有速度快,用電低等優勢,選用兩個4K線掃描CMOS相機作為成像核心器件,選用Camera Link Full接口作為數據輸出,兩個4K掃描中間重疊100mm作為圖像拼接區,兩組線激光光源與線掃描組成系統的主要成像模塊,成像系統結構如圖3所示。
2.構建分類器
檢測缺陷類別及其特征描述如表1所示:
1)訓練集和樣本集劃分.主要缺陷類別有5個,每個類別收集樣本7000,共計35000個樣本,為了避免訓練集和樣本集劃分的盲目性,采用10一折交叉驗證的方式劃分訓練集和測試集,即將樣本集分成10份,從中選1份為測試集,剩下的為訓練集,如圖4所示,究竟選擇哪一份作為測試集,需在后面的嵌套循環中實現。
2)特征選擇,缺陷區域的長度、寬度、面積、區域對比度等共計138個特征形成初始特征集合,利用信息增益率來對各個特征排序。
上述各循環組合在一起就是一個嵌套循環,其N-S盒圖如圖5所示,最外層是測試集和訓練集的10折交叉驗證,第1層是確定最優的特征數,第3層是確定最優的隱含層節點數,第4、5層是確定最優的輸入層和隱含層、隱含層和輸出層的初始權值。
經以上循環,確定D3作為測試集,最優特征數為23個,最優的隱含層節點數是46個,同時也確定了最優的初始權值,對應的3層BP神經網絡的網絡模型如圖6所示。
3.實驗結果
1)鮑威爾棱鏡與柱透鏡進行對比在實際工作距離1.5m處,采用0.1m為間隔使用光功率計測試光源功率,如圖7所示,橫軸為測試點,縱軸為測試點的光功率。實驗表明,鮑威爾棱鏡均勻性優于柱透鏡。
2)Gabor濾波方法與其他方法比較將動態閾值法+Blob分析法(方法A)和灰度共生矩陣紋理背景消除法(方法B)兩種方法與Gabor濾波方法進行比較,如圖8所示.由于缺陷與背景灰度相近(圖(a)),致使方法A缺陷丟失(圖(b)),由于缺陷與背景紋理相近(圖(d)),致使方法B產生噪聲(圖(e)),Gabor方法取得了不錯的效果(圖(e)、(圖(f)))。
3)GPU與CPU比較以4096×4096的圖像為例,選10幅有代表性圖像,利用CPU(最新的intel◎i7-2600處理器,4核8線程,2.6GHz,內存8G)和GPU(nVidia◎GTX970,4G緩存顯卡)進行Ga-bor運算,計算時間如表2所示,GPU計算效率明顯優于CPU,其中CPU的平均耗時為290.4ms,而GPU的平均耗時為31.7ms。
4)檢測效果在產線速度為1775m/min,最小檢測缺陷的尺寸為0.25mm的檢測系統中,對帶鋼的主要4種類型缺陷進行檢測統計,檢測結果如表3所示。
可計算出整體檢出率99.9%,檢測準確率99.4%。
4.結論
本文提出將基于鮑威爾棱鏡的大功率激光器應用到光源的設計中,保證光源光照的均勻性;提出了新的帶鋼表面缺陷檢測系統的成像系統結構設計,保證了快速、高精度的生成圖像;提出了基于GPu的二維Gabor濾波圖像處理的算法,滿足了實時處理的要求;提出了基于嵌套循環的分類器擇優算法,避免了樣本集選擇、特征選擇和BP神經網絡參數設定的盲目性。借助上述技術,系統實現了較好的效果,滿足當前帶鋼生產的檢測需求。