趙學玲+馬紅娜+張紅妹
摘 要:利用平板式等離子增強化學氣相沉積(PECVD)法,在反應溫度為300℃,NH3:SiH4比例為3:1和沉積壓強為0.2-0.4mbar的條件下,在多晶硅片上沉積了具有不同光學和電學性能的SiNx膜。實驗研究了不同壓強對SiNx膜的鈍化效果以及電池轉換效率的影響。
關鍵詞:板式PECVD;少子壽命;太陽電池
中圖分類號:TN304 文獻標識碼:A 文章編號:1671-2064(2017)04-0050-01
SiNx薄膜具有良好的絕緣性、化學穩(wěn)定性和致密性等特點,被廣泛地用于半導體的絕緣介質層或鈍化層。PECVD法沉積的SiNx膜具有沉積溫度低,沉積速度快、薄膜質量好、工藝簡單等優(yōu)點,被大量應用于晶體硅太陽電池產業(yè)中[1]。通過調整SiH4和NH3的流量比,可以改變SiNx薄膜中的Si和N原子的比例,實現(xiàn)薄膜折射率的變化(1.8-2.3),以獲得更好的鈍化和減反射效果[4]。本文研究了SiNx薄膜不同壓強下,少子壽命和太陽電池轉換效率的變化規(guī)律,給出了優(yōu)化的壓強范圍。
1 實驗方法
太陽電池基底為鑄造p型多晶硅片(15.6×15.6cm)。先利用HNO3和HF混合液腐蝕表面以制備絨面結構,然后利用液態(tài)三氯氧磷(POCl3)進行磷(P)摻雜以形成pn結,結深約為0.5μm,表面方塊電阻為60Ω/□,接著對擴散后的樣品進行濕法刻蝕以去除表面的磷硅玻璃。沉積SiNx膜層的設備為德國Roth&Rau公司的板式PECVD設備,沉積條件為:溫度300℃,NH3:SiH4氣體比例3:1,帶速220cm/min,射頻功率3000W,壓強0.2-0.4mbar,對獲得的SiNx膜,在 centrotherm設備中,利用絲網印刷正背面電極并進行高溫燒結。分別對磷摻雜后、沉積SiNx后以及高溫燒結后的多晶硅片的少子壽命進行了測試。利用berger測試設備對相應太陽電池的轉換效率進行了分析測量。
2 結果與討論
2.1 壓強對少子壽命的影響
多晶硅基底中少子壽命的大小對太陽電池轉換效率有著重要的影響。因為SiNx膜在太陽電池中不僅起著減反射的作用,同時還起到了鈍化的作用,有助于減少基底中的缺陷,增大少子壽命,所以對不同壓強條件下沉積的SiNx膜的少子壽命進行了研究。
另外還發(fā)現(xiàn),沉積SiNx膜后,少子壽命增長幅度較小。是由于SiNx膜形成過程中,大量H沉積在氮化硅膜中,部分H向硅片表面和內部擴散從而進行表面和體內鈍化。經過燒結之后,少子壽命進一步的提升,這可能是因為擴散后的硅片與非擴散后硅片相比,產生了新的物質,在氮化硅和硅之間有一個緩沖層[3],經過燒結之后,Si-H鍵和N-H鍵發(fā)生斷裂后的氫不容易形成氫氣溢出,擴散到硅片表面和體內對硅片體內的缺陷和懸掛鍵進行了鈍化,少子壽命進一步提升。
2.2 壓強對太陽電池轉換效率的影響
電池表面的SiNx膜層對太陽電池起著減反射和鈍化的作用,對提高太陽電池的轉換效率有著重要的作用。實驗對比了壓強分別為0.25、0.30、0.35和0.40mbar時所沉積的SiNx膜對太陽電池轉換效率的影響。從三次電池轉換效率的嚴格對比中可以看出,當壓強從0.25mbar增加到0.30mbar時,折射率升高,鈍化效果增強,開路電壓升高,但同時消光系數(shù)增加,又會降低短路電流;開路電壓增加的幅度大于短路電流的降低的幅度,太陽電池轉換效率有了0.1%的提升;當壓強從0.30mbar增加到0.35m bar時,開路電壓和短路電流變化不明顯,太陽電池轉換效率趨于持平;而當壓強從0.35mbar增加到0.40mbar時,開路電壓沒變,短路電流下降,太陽電池轉換效率開始下降。說明,在反應壓強為0.3-0.35mbar時,沉積的SiNx薄膜的鈍化和減反效果較好,對電池效率的增加有較好的促進作用。
3 結語
實驗對比了板式PECVD在不同壓強下所沉積的SiNx膜對少子壽命的影響。結果顯示,隨著反應腔室壓強的增加,少子壽命受壓強的變化影響較小。不同壓強下沉積的SiNx膜對太陽電池轉換效率的影響表明:隨著壓強的增大,太陽電池轉換效率先增加后減小。因此,在板式PECVD生產線上為了獲得較高質量的SiNx薄膜,提高太陽電池轉換效率,反應壓強應控制在0.3-0.35mbar。
參考文獻
[1]吳清鑫,陳光紅.PECVD法生長氮化硅工藝的研究[J].功能材料,2006,38(5):703.WU Qingxin, CHEN Guanghong.Research Process in Deposition of SiN thin films by PECVD[J].Function materials,2007,38(5):703.
[2]李新貝,張方輝,牟強.等離子增強型化學氣相淀積條件對氮化硅薄膜性能的影響[J].材料保護,2006,39(7):12。LI Xinbei,ZHANG Fanghui,MOU Qiang.Effect of plasma enhanced chemical vapor deposition conditions on the properties of silicon nitride thin films[J].materials protection,2006,39(7):12.