李強(qiáng) 邢剛
摘要:為實(shí)現(xiàn)自動(dòng)化檢測某產(chǎn)品的性能指標(biāo)是否合格,以DSP芯片DSPIC30F6014A為核心,構(gòu)成一個(gè)集AD采集、DA模擬量輸出、串口屏通信顯示的小型專用測試設(shè)備。DSP芯片12位ADC模塊能夠?qū)崟r(shí)采集產(chǎn)品的供電輸入信號(hào)及輸出狀態(tài)信號(hào)。16位DAC芯片在DSP芯片控制下按照產(chǎn)品的測試時(shí)序,產(chǎn)生動(dòng)態(tài)變化的高精度模擬信號(hào)作為產(chǎn)品的輸入激勵(lì),實(shí)現(xiàn)產(chǎn)品的自動(dòng)測試。測試系統(tǒng)將每一步的測試數(shù)據(jù)自動(dòng)進(jìn)行處理,產(chǎn)生的測試結(jié)果通過RS232通信,傳輸至串口屏實(shí)時(shí)進(jìn)行顯示輸出。
關(guān)鍵詞:DSPIC30F6014A;AD采集;DA輸出;自動(dòng)測試
中圖分類號(hào):TB
文獻(xiàn)標(biāo)識(shí)碼:A
doi:10.19311/j.cnki.16723198.2017.13.087
0引言
隨著計(jì)算機(jī)和信息技術(shù)的飛速發(fā)展,DSP技術(shù)取得了迅速發(fā)展,特別是隨著半導(dǎo)體制造工藝的發(fā)展和計(jì)算機(jī)體系結(jié)構(gòu)等方面的改進(jìn),DSP芯片的功能越來越強(qiáng)大,通常包含多種外圍接口和總線,通過簡單的配置即可使用各種復(fù)雜的接口。
某產(chǎn)品測試時(shí)需要對(duì)其提供“正激勵(lì)信號(hào)”和“負(fù)激勵(lì)信號(hào)”兩路變化的激勵(lì)信號(hào),變化范圍為0V~±15V,精度要求為±0.05V。測試步驟如下:
(1)正門限電壓測試:“負(fù)激勵(lì)信號(hào)”保持-15V輸出電壓不變,“正激勵(lì)信號(hào)”輸出電壓從0V逐漸升高至+15V,測試出產(chǎn)品輸出狀態(tài)信號(hào)變化時(shí)對(duì)應(yīng)的“正激勵(lì)信號(hào)”電壓值并顯示;
(2)負(fù)門限電壓測試:“正激勵(lì)信號(hào)”保持+15V輸出電壓不變,“負(fù)激勵(lì)信號(hào)”輸出電壓從0V逐漸降低至-15V,測試出產(chǎn)品輸出狀態(tài)信號(hào)變化時(shí)對(duì)應(yīng)的“負(fù)激勵(lì)信號(hào)”電壓值并顯示。
使用人工進(jìn)行測試時(shí),容易引入較大的人為誤差,且測試操作繁瑣,效率低下,當(dāng)測試量大時(shí),造成大量的人工成本浪費(fèi),為此研制本測試系統(tǒng),實(shí)現(xiàn)產(chǎn)品的自動(dòng)測試,并對(duì)測試結(jié)果進(jìn)行判斷、顯示,生成測試報(bào)表。……