測試成本的挑戰及對策

章慧彬

（中國電子科技集團公司第五十八研究所，江蘇無錫 214035）

1 引言

集成電路測試是唯一貫穿于集成電路設計、制造、封裝、應用全過程的產業，見圖1。隨著集成電路進入后摩爾時代，高復雜性、高集成度、高性能的產品給測試成本和難度帶來了巨大的挑戰。

圖1 測試貫穿于集成電路制造全過程

2 測試經濟學

為了保證產品的高質量，需要在產品研制過程中對每個測試階段進行大量的投資，包括設備、場地、人力、技術等，這些投資即為測試成本。雖然產品質量要求測試投資盡可能多，但產品的經濟效益（如成本）卻限制了測試方面的投資，如何在保證產品質量的前提下盡可能降低成本，這就是測試經濟學。

測試最本質的意義是檢查產品與需求的一致性，即檢查產品的“好”與“壞”，并將所有不合格產品在到達用戶手中之前剔除出去。但是從測試經濟學意義上看，測試還有一個價值就是要體現產品的經濟性，如果測試成本居高不下，客戶難以接受，產品就失去了生產的意義。有學者指出，未來的集成電路測試成本可達整個產品成本的40%～50%甚至更高。如何有效降低測試成本，就成了測試經濟學的主要研究內容。

成本是可測量的數量，它在經濟學中起著關鍵作用。成本主要包括固定成本和可變成本。總成本是指固定成本和可變成本的總和，隨產量增加而增加；平均成本是總成本除以產量，平均成本隨著產量的增加而降低。固定成本是必須的，并且不隨著使用而改變，例如廠房和設備這些成本不隨生產數量改變而改變，不管是生產100只電路還是生產10000只電路，固定成本保持不變，但分攤到每只電路上的固定成本卻隨著產量的增加而降低；……