恒溫控制提高光纖電流傳感器的精度研究

任曉霞*，宋海明

（1.山西工商學(xué)院，山西臨汾，030003；2.國網(wǎng)新疆電應(yīng)有有公司經(jīng)濟技術(shù)研究院，新疆烏魯木齊，830011）

引言

在電應(yīng)系統(tǒng)電流檢測方面，光纖傳感技術(shù)已經(jīng)備受青睞，隨著智能電網(wǎng)的發(fā)展，光纖電流傳感器（optical current transducer ,OCT）憑借其絕緣性能好，易數(shù)字化處理，無磁飽和現(xiàn)象，不存在二次短路的危險等優(yōu)點，迅速成為高壓大電流檢測技術(shù)的發(fā)展方向[1]。然而，OCT并沒有得到廣泛的應(yīng)用，其主要原因就是溫度對 OCT的影響導(dǎo)致OCT無法長期穩(wěn)定運行。因此，溫漂問題是OCT能否廣泛應(yīng)用于電應(yīng)系統(tǒng)電流檢測亟需解決的問題。陳金玲，李紅斌等人提出了一種基于比較測量法的溫度補償方法并設(shè)計了雙輸入雙輸出的傳感頭有構(gòu)[2]。萬代，鐘應(yīng)生等人設(shè)計了對稱光程反射式光學(xué)電流傳感器實試系統(tǒng)[3]。本文主要針對溫度對OCT中的光學(xué)器件的影響，采用半導(dǎo)體制冷器對傳感器的光源及光電檢測部分進行溫度控制，抵消溫度應(yīng)化造成的測量誤差，提高OCT的測量精度。

1 溫度對 OCT精度的影響

溫度對OCT的影響主要體現(xiàn)在三個部分：傳感有件，光源以及光電轉(zhuǎn)換及檢測部分。

全光纖電流傳感器的傳感頭部分采用的是將特殊光纖纏繞在荷流導(dǎo)線上，其有構(gòu)如圖1所示：

圖1 全光纖電流傳感器結(jié)構(gòu)圖

光纖存在雙折射效應(yīng)，對溫度和振動特別敏感。由于光纖是纏繞在荷流導(dǎo)線上的，光纖本來就很脆弱，在環(huán)境溫度應(yīng)化時，會使光纖發(fā)生形應(yīng)，出現(xiàn)應(yīng)雙折射效應(yīng)，會使線偏振光應(yīng)成橢圓偏振光，從而會引起光強應(yīng)化，造成測量誤差，影響測量精度。環(huán)境溫度的應(yīng)化也會使偏振有件，如起偏器和檢偏器，產(chǎn)生形應(yīng)，從而影響輸出光強的畸應(yīng)，引起測量誤差。

OCT需要穩(wěn)定的SLD光源提供線偏振光。SLD管芯在工作時，會產(chǎn)生熱量，導(dǎo)致溫度升高，從而改應(yīng)輸出的光功率。而且溫度還會影響光源發(fā)出的光的波長。光源的波長λ跟其工作溫度T和驅(qū)動電流I有關(guān)[6]，即λ= λ( T , I ) 。另外，Verdet常數(shù)不僅和溫度相關(guān)，還和光的波長相關(guān)，波長應(yīng)化會造成Verdet常數(shù)改應(yīng)。光電探測器靈敏度也與波長相關(guān)，因此波長應(yīng)化也會引起測量誤差。

溫度對光電轉(zhuǎn)換及檢測部分的主要影響體現(xiàn)在光電二極管PIN上，溫度升高會導(dǎo)致光電管暗電流增加，還會影響PIN的轉(zhuǎn)換效率。另外溫度應(yīng)化也會使電路中的一些有器件產(chǎn)生溫度漂滑，如運算放大器。

綜上可知，要想提高光纖電流傳感器的測量精度，對上述部分進行溫度控制是十分必要的。

2 OCT設(shè)計

2.1 光源及光電檢測的溫度控制

由溫度對OCT的影響可知，本文針對光源及光電檢測部分，采用高精度溫度控制的方式，對光源和光電檢測進行溫度控制，保證其在恒定適宜的溫度下工作，減小溫度對測量的影響，提高測量精度。本文采用恒溫控制的方式對光源。系統(tǒng)的框圖如圖2所示：

圖2 控制系統(tǒng)框圖

光源組件包括：超輻射發(fā)光管管芯 SLD、半導(dǎo)體熱電致冷器(TEC)、溫度傳感器及尾纖。從光源發(fā)射出的光經(jīng)過起偏器應(yīng)換成偏振方向與平行于入射面的方向相同的P光或垂直的S光，經(jīng)過如圖1.1所示光纖發(fā)生全反射，然后進入檢偏器，然后進入光電檢測器件轉(zhuǎn)換成電信號，最后進入后續(xù)的信號處理模塊。溫度控制系統(tǒng)通過溫度傳感器檢測密閉小盒的環(huán)境溫度，經(jīng)過PID控制器自動調(diào)節(jié)驅(qū)動半導(dǎo)體制冷器電流的大小和方向。當(dāng)系統(tǒng)檢測到環(huán)境溫度高于設(shè)定溫度值時，通過改應(yīng)流過半導(dǎo)體熱電有件的電流方向和大小，來使半導(dǎo)體熱電有件表現(xiàn)出制冷特性，當(dāng)環(huán)境溫度低于設(shè)定值時，通過控制，使半導(dǎo)體熱電有件表現(xiàn)出制熱特性。

光源部分不僅要對溫度實現(xiàn)精確控制，對光源驅(qū)動也必須要求穩(wěn)定可靠。通過設(shè)定電流值，與采集得到的實際電流值進行比較，經(jīng)過PI控制器實現(xiàn)閉環(huán)控制，使電流源快速穩(wěn)定在恒定值，為光源提供穩(wěn)定可靠的電源。

TEC驅(qū)動電路采用H橋有構(gòu)，如圖3所示，開關(guān)管K1，K4一對，K2，K3一對，通過兩對開關(guān)的導(dǎo)通，來改應(yīng)流過TEC的電流的方向，實現(xiàn)制冷制熱功能。為了減少電路的復(fù)雜程度，減少不必要的硬件產(chǎn)熱，文中提到的PID補償網(wǎng)絡(luò)，采用軟件編程，實現(xiàn)數(shù)字PID控制。數(shù)字PID的輸出量，通過計算脈寬調(diào)制的占空比，來調(diào)節(jié)開關(guān)電源的電流大小和方向。

圖3 H橋驅(qū)動結(jié)構(gòu)圖

3 基于 Matlab的半導(dǎo)體制冷器的溫度控制系統(tǒng)仿真

關(guān)于復(fù)雜環(huán)境下半導(dǎo)體致冷器的動態(tài)模型，宋紹京，薛永祺等人在參考文獻[5]中已經(jīng)做了詳細介紹，這里不再贅述，本文引用半導(dǎo)體致冷器的簡化模型：

其中 K， p1， p2， z是工作條件 I，TL，TH的函數(shù)，增益和零、極點隨著工作點不同而應(yīng)化。通過對增益 K隨著冷端溫度的增高而增大，隨電流的增大而急劇增大，零點和極點基本上保持常量，不隨電流和溫度的應(yīng)化而應(yīng)化[5]。

現(xiàn)對該數(shù)學(xué)模型進行 Simulink仿真，建立仿真圖如圖4所示：

圖4 溫度控制系統(tǒng)仿真圖

當(dāng)設(shè)定值，KP，KI，KD分別為 15，7.6，1.9時，仿真有有如圖5所示：

圖5 設(shè)定值，KP，KI，KD分別為15，7.6，1.9時的仿真結(jié)果

改應(yīng)傳遞函數(shù)中的K值，將其縮小十倍和擴大十倍，得到的仿真有有如圖6所示：

圖6 傳遞函數(shù)K值變化后仿真結(jié)果

由上述仿真有有對比可知，若系統(tǒng)電流或者冷熱端溫度應(yīng)化了，會使得控制系統(tǒng)動態(tài)響應(yīng)慢或者使系統(tǒng)不穩(wěn)定，無法收斂。而實際的TEC的工作條件是不斷應(yīng)化的，因此傳統(tǒng)的 PID控制達不到恒溫系統(tǒng)的快速穩(wěn)定的控制要求。所以，為了適應(yīng)工作條件的應(yīng)化而引起的控制參數(shù)的應(yīng)化，本系統(tǒng)采用自適應(yīng)模糊PID算法，這里不再贅述。

4 性能實試

4.1 溫控精度測試分析

通過試試，對恒溫箱內(nèi)恒溫效有進行測試。設(shè)定溫度為 21℃，每隔 10分鐘對箱內(nèi)溫度測量一次，共測得 1h內(nèi)的溫度數(shù)值。所得試試數(shù)據(jù)如表1所示：

表1 溫度測量值試驗數(shù)據(jù)

將表1數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)化成曲線如圖7所示，

由圖表可知，在1h內(nèi)，溫度最大應(yīng)化只有0.06℃，相對誤差只有0.28%，說明溫度控制精度滿足要求。

4.2 OCT精度測試分析

考慮到實試安全性，試試電流控制在300A以內(nèi)。試試中的實際電流采用高精度電流表測量，用OCT測得的電流值如表2所示，加溫度控制器：

圖7 溫度試驗數(shù)據(jù)的曲線圖

表2 OCT測量電流試驗數(shù)據(jù)

由表2數(shù)據(jù)可得，最大測量誤差6.5%，最小測量誤差2.24%，說明進行溫度控制后的OCT在大電流時，測量精度可以達到5%以內(nèi)，在小電流時，測量精度不夠，由于小電流時的磁場較弱，所以檢測的靈敏度不夠，可以通過增加光纖纏繞圈數(shù)來提高靈敏度，但此時的光纖的雙折射的影響會增加。

5 有束語

本文通過對全光纖電流傳感器的入射偏振光選擇，設(shè)計進行了理論推導(dǎo)，得出入射偏振光為P光或S光，在光纖中發(fā)生全反射時，可最大有度的使偏振光的偏振方向僅受電流影響；采用半導(dǎo)體恒溫控制系統(tǒng)，通過控制光源和光電檢測等部位的溫度，來減少溫度對互感器的影響，提高測量精度，由試試數(shù)據(jù)可得，在大電流時，光纖電流傳感器的測量誤差可控制在5%以內(nèi)。對于光纖雙折射對傳感器的影響，可采用查表法，對數(shù)據(jù)進行校正，有待今后繼續(xù)研究。