美科學家首次實現電子結構可視化

美國沃里克大學和華盛頓大學物理學家們研發出測量原子層薄的、二維材料制成的微電子器件中電子能量和動量的技術，利用此技術可創建材料電學和光學特性的可視化，以指導工程師最大限度地發揮電子元件的潛力，為下一代電子產品---二維半導體鋪平道路。

科學家使用角分辨光電子能譜（arpes）“激發”材料中的電子：將一束紫外線或X射線聚焦在一個局部的原子上，被激發的電子從原子中打出。然后，科學家測量電子的能量和運動方向，利用能量守恒定律，計算它們在材料中所具有的能量和動量，再將此計算與最先進的電子結構計算得出的理論預測進行比較。

通過這項技術，科學家們將獲得開發“微調”電子元件所需信息，使電子元件工作效率和性能更高、功耗更低，有助于發展下一代電子產品-僅由幾層原子組成的二維半導體。