基于QC工具的收發組件測試產能提升

童紅蘭 尤東妹

本文論述了一種雙通道收發組件的測試方法提升探索。通過測試方法的提升，解決了該組件需要重復測試、重復壓接的現狀，實現測試產能的提升。有效提高了工作效率，對生產有重要的推廣應用價值和現實意義。

引言

隨著有源相控陣雷達的發展及應用，收發組件越來越受設計師們的青睞。收發組件的測試需要借助測試夾具實現組件指標的采集。因此，為了保證發射和接收通道與儀表之間的互通，夾具上必須有供發射通道放大的射頻激勵端口、發射通道的功率輸出端口;同時還需要有接收通道的回波輸入端口以及將接收通道得的信號傳送出去的端口。為了確保測試的精度及速度，各端口與組件的連接貼合度非常重要。

一部雷達的收發組件數量少則上百個，多則上萬個，且組件的工作頻帶寬、測試指標多，如果測試效率不能得到有效保證，將大大影響生產效率，因此，提升組件的測試效率有重要的現實意義。

測試實現方法

采用計算機對收發組件和儀表進行直接控制的方式，通過測試軟件編寫控制測試儀表及提供數字控制信號，對儀表的采集結果進行讀取、保存。操作時，只需將儀表開啟后進行初始化，按要求正確連接組件的方向于夾具上，點擊開始測試即可，操作簡單、方便高效。在進行數據分析時發現：需要對某些組件進行再次測試，同時也發生過由于壓接的原因導致的測試不準確的現象，經分析與試驗發現：測試中會發生需要多次測試與壓接，可能由于組件的工作頻率高、接口復雜等原因。針對組件的重復測試、重復壓接的現狀，通過對人、機、料、法、環等多因素的排查及試驗發現：

（1）卯紐扣探針氧化 針對組件的重復測試、重復壓接的現狀，通過對人、機、料、法、環等多因素的排查及試驗發現：測試工裝上的卯紐扣探針屬于易損耗品，壓接頻數過多，使用時間過長，卯紐扣探針會氧化，從而導致測試中斷或者測試產品不合格，同時還需考慮卯紐扣探針有一定的使用壽命。

（2）卯紐扣探針松動 測試過程中，若信號不能正常導通，則測試無法正常進行。通過選取3個批次310件組件測試其電源導通率，電源導通率僅有73.6%。其中有82件組件電源不導通，針對這82件，仔細查找了原因，進行了二次分層，其中因為卯紐扣探針松動所導致的電源不通的占89.0%。因此，卯紐扣探針松動是影響電源不導通的因素。

（3）卯紐扣探針頭半徑小 由于整個測試工裝是采用卯紐扣探針壓接式接觸法，所以探針的準確壓接是保證組件與工裝完美契合的核心，作用是可以使信號順暢輸出。在保證通電率百分百的情況下，選取之前測試合格的組件，對其壓接情況進行統計發現：在保證通電率百分百的情況下，組件的壓接通過率仍然很低，平均僅達到24.9%。

測試方法的提升研究

根據試驗得到的導致需要多次測試或壓接的原因，采取了提升方法如下：

首先，對卯紐扣探針有定期的更換時間，確保卯紐扣探針無氧化。

其次，頻繁的壓接測試使卯紐扣探針上下方向松動，導致卯紐扣探針壓接不緊。基于定位板厚度相同、探針長度相同，使用游標卡尺直接對工裝上的露出卯紐扣探針長度L進行測量驗證。發現露出的探針長度對組件電源導通率有較大影響;

為了驗證探針長度與組件電源導通率的相關性，采用分層抽樣法，得出露出的探針長度L與信號導通率呈強負相關。

最后，為了判斷探針頭半徑對壓接通過率的影響情況，我們對探針進行打磨，得到不同半徑的探針，控制工裝不變，抽取100個模塊進行試驗。基于探針頭過大，無法裝入卯紐扣里，探針半徑取值小于等于0.025mm，并制表二如下：探針頭半徑與測試的壓接通過率成二次關系。根據實際測試情況，要達到既定目標，該探針的壓接通過率必須大于90%。

考慮到探針頭半徑小和探針松動都是探針的問題，在這里針對卯紐扣探針的3個因子進行了詳細分析，采用DOE正交試驗法確定最佳方案。

1、確認試驗因子水平

為了減小探針與測試點接觸面積和使探針與工裝更緊密的結合，做到無松動，提高組件通過率，對卯紐扣及探針進行測量得出探針長度、探針頭半徑和卯紐扣高度。

2、確定最佳參數

經過研究，得出3個因子需要確定的最佳條件

利用試驗結果制作新的工裝，用于產品的測試并對測試產能進行了跟蹤分析。

結束語

通過測試產能的提升，提高了組件的測試日產量，排查了收發組件重復壓接和重復測試兩個關鍵因素，為后續的多套產品測試奠定了堅實的基礎，節約了大量的人力成本。

參考文獻：

[1]呂春明 收發組件測試技術研究 雷達科學與技術 第3期 2012年6月

[2]邢文英 QC小組基礎教材（二次修訂版）{M}。中國社會出版社.2005

（作者單位：中國電子科技集團公司第三十八研究所）