王 蕾,張忠武,王 震,孫方金, 王春喜, 張鐵犁, 劉曉旭
(北京航天計(jì)量測(cè)試技術(shù)研究所,北京 100076)
圓分度角[1,2]常用排列互比法進(jìn)行測(cè)量,利用這種誤差分離技術(shù),可以得到消減陪檢工具偏差后的被檢設(shè)備分度偏差,以及消減被檢設(shè)備分度偏差后的陪檢工具角度偏差。排列互比法的測(cè)量間隔角選得越小,測(cè)量點(diǎn)越多,測(cè)量結(jié)果越接近圓分度角。當(dāng)測(cè)量間隔角等于被檢設(shè)備的最小分度角時(shí),能得到被檢設(shè)備完整的圓分度角準(zhǔn)確度,但很難實(shí)現(xiàn),因?yàn)闇y(cè)量點(diǎn)數(shù)過多,工作量過大,所需時(shí)間過長(zhǎng),測(cè)量環(huán)境條件變化和測(cè)量?jī)x器漂移的影響顯著,所以一般采用測(cè)量間隔角大于被檢設(shè)備最小分度角,使測(cè)量間隔角等于設(shè)備最小分度角整數(shù)倍的方法[3],其前提是被檢設(shè)備圓分度角的偏差特性是均勻的,故測(cè)量并非嚴(yán)格。
解決辦法是先以一定間隔角完成排列互比法測(cè)量,在此基礎(chǔ)上再對(duì)某段間隔角進(jìn)行內(nèi)插測(cè)量,可以測(cè)量至設(shè)備的最小分度角,稱為分段內(nèi)插測(cè)量法。為保證測(cè)量準(zhǔn)確度,同樣需采用誤差分離技術(shù),但不是整周的誤差分離,而是圓周中一段角度的誤差分離[4]。
與排列互比法相同,分段內(nèi)插測(cè)量法同樣需有陪檢工具,其特點(diǎn)是小角度、單角[5],如圖1所示,這種結(jié)構(gòu)反射和透射兩光路的對(duì)稱性好,使用了自準(zhǔn)直儀準(zhǔn)直光束的中心部位,易于制成小角度,角度值以精密研磨達(dá)到,比較穩(wěn)定。

圖1 小角度陪檢工具示意圖Fig.1 Small angle inspection tool schematic diagram
分光棱鏡的一個(gè)側(cè)面研平,作為陪檢工具的底基面。……