醫(yī)用電子設(shè)備電快速瞬變脈沖群抗擾度測(cè)試模型

李傳喜 王春龍 吳玉娟

摘要：分析電快速瞬變脈沖干擾產(chǎn)生機(jī)理以及電快速瞬變脈沖群抗擾度測(cè)試系統(tǒng)的原理，結(jié)合醫(yī)用電子設(shè)備的特性，建立醫(yī)用電子設(shè)備電快速瞬變脈沖群抗擾度測(cè)試模型，便于電子工程師根據(jù)模型有針對(duì)性的進(jìn)行電快速瞬變脈沖群抗擾度設(shè)計(jì)。

關(guān)鍵詞：電快速瞬變;脈沖群;抗擾度

0引言

隨著高速電路在醫(yī)療領(lǐng)域的廣泛應(yīng)用，結(jié)合醫(yī)療領(lǐng)域使用人員與使用環(huán)境的特殊性，醫(yī)用電子設(shè)備的抗擾度問題越來越引起人們的關(guān)注，因此國家制定相應(yīng)的抗擾度等級(jí)要求，通過標(biāo)準(zhǔn)的抗擾度測(cè)試系統(tǒng)，驗(yàn)證注入干擾的情況下醫(yī)用電子設(shè)備的抗擾度等級(jí)是否滿足市場(chǎng)要求，脈沖群抗擾度測(cè)試是最常見也是比較難通過的幾種抗擾度測(cè)試之一。

本文將脈沖群抗擾度測(cè)試系統(tǒng)與醫(yī)用電子設(shè)備結(jié)合，根據(jù)醫(yī)用電子設(shè)備的特點(diǎn)建立脈沖群抗擾度測(cè)試模型，通過分析干擾電流在測(cè)試模型中的路徑為電子工程師提供降低脈沖群抗擾的系統(tǒng)設(shè)計(jì)方法與思路。

1脈沖群產(chǎn)生機(jī)理

一旦打開或關(guān)閉一個(gè)載流電路的接觸點(diǎn)，在接觸點(diǎn)之間可能發(fā)生電擊穿。當(dāng)接觸點(diǎn)靠近并未完全接觸時(shí)擊穿就已經(jīng)開始，在觸點(diǎn)閉合的過程中，擊穿一直持續(xù)直到接觸點(diǎn)閉合。

電網(wǎng)中的感性負(fù)載存儲(chǔ)的能量與分布電容形成諧振，產(chǎn)生的尖峰高電壓不斷擊穿繼電器、接觸器的觸點(diǎn)間隙形成放電電弧，直到動(dòng)靜觸點(diǎn)之間的氣隙被拉大到無法擊穿?！?br>