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Cu/Sn原子比對濺射法制備的Cu2SnS3薄膜性能的影響*

2020-12-08 08:23:28賈宏杰程樹英馬為民崔廣州周健飛鐘勝銓
功能材料 2020年11期
關(guān)鍵詞:結(jié)構(gòu)

賈宏杰,程樹英,馬為民,胡 晟, 崔廣州,林 真,周健飛,鐘勝銓

(福州大學(xué) 物理與信息工程學(xué)院,福州 350108)

0 引 言

隨著世界能源需求的增長,新能源的開發(fā)和利用變得越來越重要。而解決此問題的一種有效途徑是開發(fā)具有組成元素地殼儲量豐富、無毒的光伏薄膜太陽電池。近年來,Cu基薄膜太陽電池由于其優(yōu)異的性能而得到廣泛的關(guān)注。目前,轉(zhuǎn)換效率較高的Cu基薄膜太陽電池為CIGS[1]和CZTS[2-4]。然而,CIGS薄膜用到銦和鎵兩種稀有元素、CZTS薄膜存在大量的缺陷[5],較難得到純相,因而制約了它們的發(fā)展。

三元化合物 Cu2SnS3(CTS)薄膜是一種 p型半導(dǎo)體材料,具有高的光吸收系數(shù) (>104cm-1)[6, 7]、合適的禁帶寬度 (四方結(jié)構(gòu)約1.3 eV,立方結(jié)構(gòu)約0.9 eV[7])、其組成元素地殼儲量豐富、無毒、理論轉(zhuǎn)換效率高等優(yōu)點(diǎn)(33%)[8],是高效薄膜太陽電池潛在的吸收層材料之一。與CIGS薄膜太陽電池相比,CTS薄膜組成元素地殼儲量豐富,成本較低;與CZTS薄膜太陽電池相比,CTS薄膜制備相對容易。制備CTS薄膜的方法有磁控濺射法[9, 10],真空蒸發(fā)法[11],電沉積法[12-13],溶膠-凝膠法等。其中,日本Hideaki Araki教授通過三源共蒸發(fā)的方法制備出器件轉(zhuǎn)換效率為3.66%的CTS薄膜太陽電池[14];Mitsuki Nakashima等人通過Na摻雜得到轉(zhuǎn)換效率為4.63%的CTS薄膜太陽電池[15];Mitsutaro Umehara等人通過Ge摻雜得到器件轉(zhuǎn)換效率為到6%的Cu2Sn0.83Ge0.17S3太陽電池[16]。綜合來看,目前CTS薄膜太陽電池轉(zhuǎn)換效率相對較低,其中CTS薄膜在制備的過程中容易形成Cu3SnS4、Cu4SnS4、CuxS1-x和SnS2等雜相,是CTS薄膜太陽電池光電轉(zhuǎn)換效率低的主要原因之一[17-19]。本文通過磁控濺射前驅(qū)體后硫化的方法制備CTS薄膜,研究Cu/Sn原子比對CTS薄膜性能的影響,以期制備出結(jié)晶性能和半導(dǎo)體性能優(yōu)異的CTS薄膜,為CTS薄膜太陽電池的研究打基礎(chǔ)。

1 實(shí) 驗(yàn)

1.1 直流濺射制備Sn/Cu前驅(qū)體

采用直流磁控濺射法在玻璃基片上制備Sn/Cu前驅(qū)體。靶材采用純度為99.99%Sn靶和Cu靶,靶基距8.0 cm,基片架轉(zhuǎn)速20 r/min,本底真空6.0×10-4Pa,襯底不加熱,工作氣體為Ar氣體,濺射氣壓0.9 Pa。首先在清洗好的玻璃基片上濺射一層Sn薄膜,濺射功率為40 W,濺射時(shí)間20 min,Sn薄膜的厚度約為330 nm;接著在濺射有Sn薄膜的基片上繼續(xù)濺射一層Cu薄膜,濺射功率35 W,調(diào)節(jié)濺射時(shí)間使得Cu薄膜的厚度分別為240、260、280和300 nm,樣品編號依次為C1、C2、C3、C4。

1.2 硫化Sn/Cu前驅(qū)體制備CTS薄膜

對上一步制備的疊層金屬前驅(qū)體進(jìn)行硫化。首先,在低溫條件(≤180 ℃)、氣壓為5 Pa左右的真空狀態(tài)下對前驅(qū)體進(jìn)行退火,退火時(shí)間30 min,此步驟是為了形成Cu、Sn合金,防止后續(xù)硫化過程中Sn的損失;然后升溫到480℃并通入H2S和N2氣(H2S含量8%)到微負(fù)壓,保溫30 min后自然降溫,從而形成CTS薄膜。對制備的薄膜通過EDS測試成分,其元素成分如表1所示。

1.3 樣品的性能及表征

利用TENCOR D100臺階儀對薄膜厚度進(jìn)行表征;利用日本理學(xué)Ultima IV X射線衍射儀、雷尼紹inVia拉曼光譜儀對薄膜結(jié)構(gòu)進(jìn)行性能表征;利用帶有EDS附件的Quanta 250掃描電子顯微鏡對薄膜進(jìn)行形貌及元素成分表征;利用Cary 5000紫外-可見光-近紅外分光光度計(jì)對薄膜光學(xué)性能進(jìn)行表征;利用HMS 3000霍爾測量系統(tǒng)對薄膜半導(dǎo)體特性進(jìn)行表征。

2 結(jié)果與討論

2.1 晶體結(jié)構(gòu)分析

圖1為濺射硫化法制備的CTS薄膜的XRD譜圖。從衍射圖譜中看出4個(gè)樣品在2θ=28.4°、32.9°、47.3°、56.1°處具有強(qiáng)的衍射峰,通過與標(biāo)準(zhǔn)PDF卡片對比分析,4個(gè)衍射峰分別與單斜結(jié)構(gòu)CTS(JCPDS04-010-5719)的衍射峰(131),(131),(133)和(333)相吻合;CTS薄膜具有多種晶體結(jié)構(gòu),并且單斜結(jié)構(gòu)、立方結(jié)構(gòu)、三斜結(jié)構(gòu)和四方結(jié)構(gòu)的CTS的衍射峰非常接近。為了確定制備的樣品是那種結(jié)構(gòu)的CTS薄膜,對樣品進(jìn)行了拉曼光譜分析,如圖2所示,從圖中可以看出,在290 cm-1和350 cm-1波數(shù)的位置有兩個(gè)拉曼強(qiáng)峰,這兩個(gè)拉曼峰和單斜結(jié)構(gòu)的CTS的拉曼峰相吻合[20],結(jié)合XRD和拉曼分析可以確定制備的樣品主要是單斜結(jié)構(gòu)的CTS薄膜。但當(dāng)Cu含量提高時(shí),C4樣品中除了CTS的4個(gè)衍射峰外,出現(xiàn)了Cu3SnS4的雜峰,產(chǎn)生Cu3SnS4三元雜相。

2.2 表面形貌分析

圖3為制備薄膜樣品的掃描電鏡(SEM) 形貌圖。從圖中可見,隨著Cu含量的增加,薄膜顆粒尺寸增大,其表面更加均勻。說明Cu含量增加有利于晶體顆粒的增長,使其表面更加均勻。

圖1 不同Cu/Sn原子比CTS薄膜的XRD譜圖Fig 1 XRD patterns of the CTS thin films with different Cu/Sn ratio

圖2 不同Cu/Sn原子比CTS薄膜的拉曼光譜圖Fig 2 Raman spectrum (532 nm excitation) of the CTS thin films with different Cu/Sn ratio

圖3 不同Cu/Sn原子比CTS薄膜的SEM圖Fig 3 SEM of the CTS thin films with different Cu/Sn ratio

2.3 光電性能

測量薄膜的透射率、反射率和膜厚,利用公式1可以計(jì)算出其吸收系數(shù)。

T=(1-R)e-αd

(2)

對于直接帶隙半導(dǎo)體材料,光子能量hv和能帶間隙Eg之間的關(guān)系如公式2:

(ahv)2=A(hv-Eg)

(2)

根據(jù)公式2作(ahv)2~hv關(guān)系曲線,將曲線線性部分外推到橫軸,切線與橫坐標(biāo)的交點(diǎn)即為材料的直接帶隙。圖4為C3樣品的(ahv)2~hv關(guān)系曲線圖,用同樣的方法擬合出其余樣品的禁帶寬度見表1,從表1可知,所有樣品禁帶寬度在0.95 eV左右,這是因?yàn)樗芯康臉悠稢u含量都不是特別高,其主要成分為CTS多晶薄膜。在本文所研究的范圍內(nèi),Cu/Sn原子比對CTS薄膜的帶隙影響不大。從表1還可以看到,4個(gè)樣品在其光吸收邊都有很高的光吸收系數(shù)~104cm-1。

圖4 C3樣品(αhv)2 vs h曲線Fig 4 (αhv)2 vs h curve of sample C3

通過Hall測量對薄膜樣品的半導(dǎo)體性能進(jìn)行表征,表1列出了樣品的半導(dǎo)體特性,從表1中得到,4個(gè)樣品都為P型半導(dǎo)體,其中C1、C2、C3 3個(gè)樣品的空穴濃度~1018cm-3,而C4樣品空穴濃度升高了2個(gè)數(shù)量級,達(dá)到了~1020cm-3,這可能是因?yàn)镃4樣品中有Cu3SnS4,而Cu3SnS4具有很好的導(dǎo)電性[21-22]。作為太陽電池吸收層材料,過高的載流子濃度容易引起光生載流子的復(fù)合,不利于提高電池效率。C1、C2、C3樣品比較,C3樣品的載流子遷移率高、電阻率低,作為太陽電池的吸收層材料性能更優(yōu)。

表1 不同Cu/Sn原子比CTS薄膜的半導(dǎo)體特性

3 結(jié) 論

通過濺射-硫化法制備太陽電池吸收層材料CTS薄膜,研究了Cu/Sn原子比對CTS薄膜性能的影響。結(jié)果表明,制備的薄膜是在(131)晶向擇優(yōu)生長的單斜結(jié)構(gòu)CTS多晶薄膜,并且隨著Cu/Sn原子比的增大,薄膜結(jié)晶度變好、晶粒尺寸變大、樣品表面更加均勻,但當(dāng)Cu/Sn原子比增大到2.01時(shí),樣品中出現(xiàn)了Cu3SnS4三元雜相;當(dāng)CTS薄膜的Cu/Sn原子比為1.91時(shí),獲得結(jié)晶性能優(yōu)異、半導(dǎo)體性能滿足太陽電池對吸收層要求的P型CTS半導(dǎo)體薄膜,此薄膜在其光學(xué)吸收邊具有較高的光吸收系數(shù)2.07×104cm-1、合適的載流子濃度6.61018cm-3、較高的載流子遷移率5.1 cm2v-1s-1及較窄的禁帶寬度0.97 eV。

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