淺談CR檢測中的分辨力與分辨率

陳小明，石愛玲，張軍輝，吳志波，譚云華

(東方電氣集團東方鍋爐股份有限公司，自貢 643000)

隨著特種設備行業射線數字成像標準發布和人員取證的實施，數字射線檢測技術得到了大力的推廣應用。由于各標準的發布時間、起草人員不同，標準中的術語也就略存在差異，易引起混淆。特別是X射線計算機輔助成像檢測(簡稱CR檢測)標準，存在多個有關分辨力和分辨率的術語，給數字射線從業人員在學習、理解和應用標準上帶來很大的困難。

筆者通過對標準NB/T 47013.11-2015 《承壓設備無損檢測 第11部分：X射線數字成像檢測》、NB/T 47013.14-2016 《承壓設備無損檢測 第14部分：X射線計算機輔助圖像檢測》 和ISO 17636-2：2013Non-destructivetestingofwelds-Radiographictesting-Part2:X-andγ-raytechniqueswithdigitaldetectors中易于混淆的術語和定義進行理論對比分析和試驗，以幫助從業人員更好地理解標準，推動CR檢測技術在特種設備行業中的更好應用。

1 標準對分辨力和分辨率的定義

術語和定義取自NB/T 47013.11和NB/T 47013.14現行標準中。

1.1 分辨力

兩個相鄰細節間最小距離的分辨能力，用mm表示。

1.2 分辨率

分辨率定義為單位長度上可分辨兩個相鄰細節間最小距離的能力，用lp/mm表示。分辨率分為系統分辨率和圖像分辨率,用雙線型像質計或分辨率測試卡測試。

數字圖像的分辨率(力)，限定了圖像所能分辨的、處于與射線束垂直平面內的相鄰細節(缺陷)間的最小尺寸，即圖像可以分辨的細節最小間距。

分辨率和分辨力的主要區別在于分辨率是相對值，分辨力是絕對值，分辨率等于2倍分辨力的倒數。

1.2.1 系統基本空間分辨率(簡稱系統分辨率)

在無被檢工件的情況下，按照標準測試條件獲得的，單位長度上CR系統數字圖像所能顯示的最小細節的能力，用SRb表示。

1.2.2 圖像空間分辨率(簡稱圖像分辨率)

系統分辨率與檢測系統有關，與被檢對象無關，反應檢測系統本身特性，主要取決于使用的射線機、CR掃描儀和IP板類型。射線機焦點尺寸小，激光掃描儀掃描步進小，IP晶體體積小可獲得較高的圖像分辨率。例如晶體體積小的IP分辨率比較高，可達25 μm 甚至更小。晶體體積較大的，空間分辨率也較低，最多只能達到50 μm[1]。

圖像分辨率是檢測系統針對特定檢測對象在特定檢測條件時，得到的檢測圖像分辨率，主要考核圖像的不清晰度。對于特定的檢測系統，系統分辨率為一定值，圖像分辨率隨檢測對象和透照工藝的變化而不同，且數值低于系統分辨率。

1.3 掃描分辨率

由掃描決定的數字圖像的像素幾何尺寸，取決于激光掃描儀掃描IP板的行間距，以及激光點掃描行走速度與轉換器工作頻率之比。

掃描分辨率(掃描精度或掃描步進)主要受激光斑點尺寸，步進電機的運動精度和激光頭擺動精度的影響。掃描分辨率是控制CR系統圖像質量和IP掃描速度的關鍵因素，掃描分辨率高，相應的掃描速度就慢，獲得的圖像分辨率就高。實際系統分辨率低于理想狀態的系統分辨率[2]。

2 標準中分辨力和分辨率的指標規定

2.1 圖像分辨率的表述

在實際應用中，各個射線數字成像檢測標準并未嚴格區分雙線型像質計讀數值、圖像不清晰度,其分辨率和分辨力的關系如表1～3所示。

在NB/T 47013.11-2015標準中圖像分辨率單位用lp·mm-1表示，在NB/T 47013.14-2016和ISO 17636-2:2013中用分辨力表示分辨率，單位為mm。

在實際應用中并未嚴格區分分辨力和分辨率間的關系，常用分辨力表示分辨率。例如：某圖像分辨率為5 lp·mm-1，對應分辨力為0.1 mm,圖像不清晰度為0.2 mm，雙線型像質計測定值為D10，則該圖像分辨率為D10或0.1 mm。

表1 NB/T 47013.11-2015標準的表5中B級像質應達到的圖像分辨率

表2 NB/T 47013.14-2016標準的表9中B級像質應達到的圖像分辨率

表3 ISO 17636-2:2013標準的表B.14中B級像質應達到的圖像分辨率

2.2 歸一化信噪比計算時的分辨率選擇

在歸一化信噪比計算時，同樣采用分辨力的值代入公式進行計算，但不同的標準對分辨率的規定又不相同。

ISO 17636-2:2013標準中歸一化信噪比SNRN的定義為：利用從數字圖像中直接測量的基本空間分辨率SRb和SNR值(即SNRmeasured)經式(1)歸一化得到。

(1)

式中：88.6為歸一化系數，單位為μm。

在進行歸一化信噪比計算時，SRb為系統分辨率或圖像分辨率對應的分辨力值，即雙線型像質計絲徑或絲徑距離的值。

NB/T 47013.14-2016標準定義歸一化信噪比SNRN為基于CR系統分辨率SRb，經歸一化處理后的信噪比，可用式(2)表示。

(2)

式中：C為歸一化系數，等于88.6 μm;SNRm為測量信噪比。

同時該標準條款C.3規定 “進行歸一化信噪比測量所需的CR系統分辨率的值按照附錄B測定。”從術語定義和歸一化信噪比計算公式可看出，SRb為CR系統分辨率。

通過分析，不同標準對歸一化信噪比計算公式是相同的，但分辨率取值不同，ISO 17636-2:2013規定為圖像分辨率，NB/T 47013.14-2016為系統分辨率。對同一圖像而言，NB/T 47013.14-2016測量的圖像歸一化信噪比數值高于ISO 17636-2:2013的，即按照NB/T 47013.14-2016標準采集的圖像質量可能不滿足ISO 17636-2:2013標準的要求。

例如某CR檢測系統的分辨率為D11(0.08 mm)，采用此CR系統按照AB級對60 mm平板對接焊縫進行檢測，當管電壓為350～450 kV時，圖像歸一化信噪比要求≥98。如果圖像測量信噪比為100，圖像分辨率為D6(0.25 mm)。分別將系統分辨率和圖像分辨率代入式(2)進行計算得到：系統分辨率為0.08 m時，SNRN=110.8>98滿足標準要求；圖像分辨率為0.25 mm時,SNRN=35.4<98不滿足標準要求。

可見對同一圖像，在測量信噪比相同的情況下,采用不同的分辨率代入公式計算得到的歸一化信噪比數值相差超過3倍。

在實際CR檢測應用中，為獲得高質量的CR檢測圖像，圖像歸一化信噪比計算時并未采用系統分辨率，而是采用圖像分辨率。

3 分辨率試驗

采用型號HPX-1Plus的激光掃描儀，HR型成像板，HSXY-320HP型射線機(焦點尺寸為1.0 mm)，厚度為6 mm的低碳鋼鋼板進行試驗。

3.1 掃描分辨率和系統分辨率

按照NB/T 47013.14-2017附錄B要求，將兩個雙線型像質計同時放在IP板上分別與像素行或列成2°～5°的傾角，掃描參數和透照條件如表4所示。

表4 CR系統測試掃描參數和透照條件

按照上述條件進行曝光和IP板掃描后，得到系統分辨率如圖1所示。

圖1 CR檢測系統分辨率測試

對圖像進行分析，可得出以下結論： ① 按照采樣定理， CR掃描儀的掃描分辨率P為25 μm，理想狀態系統分辨率R=2P=50 μm；② 當激光束與雙線型像質計絲徑垂直時系統分辨率為88.8 μm，激光束與雙線型像質計絲徑平行時系統分辨率為82.1 μm，兩個方向略有差異，系統分辨率為D11，即SRb=80 μm；③ 系統實測分辨率低于理想分辨率，系統分辨率不僅與掃描分辨率相關，還與IP板類型有關。

3.2 掃描分辨率和圖像分辨率

采用相同的透照工藝(管電壓150 kV，曝光量5 mA·min，焦距700 mm)對6 mm厚的鋼板進行透照。透照時，只改變掃描分辨率，而激光功率和PMT增益值保持不變，測試數據如表5所示。

由表5可得出以下結論：① 在特定的CR檢測系統中，激光掃描儀掃描分辨率越高，圖像分辨率越高；② 在滿足產品檢測要求下，掃描分辨率變化對圖像分辨率不會產生明顯影響，適當降低掃描分辨率可提高掃描速度；③ 激光掃描儀的分辨率應可以調節以適應各種檢測需要，圖像采集時掃描分辨率要高于標準要求的圖像分辨率。

表5 掃描分辨率對圖像分辨率的影響

3.3 系統分辨率和圖像分辨率

射線數字圖像檢測技術中，圖像不清晰度包括幾何不清晰Ug和圖像固有不清晰度Uc，可用圖像分辨率表示，其等于2倍圖像分辨率(力)[1]。

(3)

(4)

固有不清晰度Uc可用式(5)表示。

Uc=2SRb

(5)

幾何不清晰度Ug可用式(6)表示。

Ug=df×L2/(F-L2)=df×L2/L1

(6)

式中：F為焦點至IP板的距離;df為焦點尺寸;L1為焦點至工件表面的距離；L2為工件表面至IP板的距離。

由式(6)可知：幾何不清晰度與焦點尺寸和工件厚度成正比，與焦點至工件表面的距離成反比。在焦點尺寸和工件厚度一定的情況下，焦距越大，Ug值越小，圖像分辨率越好。

通過3.1中的試驗測得該CR檢測系統分辨率SRb為88.8 μm，固有不清晰度Uc為0.177 6 mm。掃描參數和透照電壓保持不變，曝光量按平方反比定律計算，通過改變焦距，測得的圖像分辨率變化如表6所示。

表6 焦距對圖像分辨率的影響

表6進行分析，可得以下結論：① 圖像不清晰度計算值小于圖像不清晰度測定值，即實際圖像分辨率低于理論計算結果；② 焦距從200 mm變化到1 000 mm時，圖像分辨率未發生明顯變化，圖像分辨率增大，幾何不清晰度降低，圖像分辨率逐漸提高；③ 雖然圖像分辨率未發生明顯變化(未超過一個絲號)，但對應的分辨率數值下降的百分比不同(圖像分辨率80～100 μm都屬于D11)；圖2(a)中圖像分辨率實測值為88.8 μm，第一對不能識別的雙線型像質計絲徑百分比為15.8%，圖2(b)中圖像分辨率實測值為92.2 μm，第一對不能識別的雙線型像質計絲徑百分比為12.7%；④ 因CR檢測的圖像分辨率和系統分辨率高，圖像分辨率主要取決于系統分辨率，當焦距滿足標準相關等級最小焦距情況下，焦距和射線機焦點尺寸產生的幾何不清晰度Ug對圖像不清晰度U的影響很小，即對圖像分辨率的影響較小。

圖2 CR圖像分辨率測試

4 結語

分辨率(或分辨力)是射線數字成像圖像質量評價的重要參數之一，決定了缺陷細節的分辨能力。分辨率是相對值，分辨力是絕對值，對于特定的系統，可用分辨力表示系統的檢測能力，但在對不同系統或被檢工件之間進行對比時，分辨率則較為客觀。通過對射線數字成像各標準術語中分辨率和分辨力的理論計算對比，分析了各標準中分辨率和分辨力的差異，并通過試驗驗證了掃描分辨率對系統分辨率和圖像分辨率的影響，為CR檢測工藝的制定提供了依據，以推動CR檢測技術的更好應用。