基于等徑外切圓的工業(yè)CT系統(tǒng)空間分辨率測(cè)試

齊子誠(chéng)，倪培君，姜 偉，郭智敏，高紅俐

（1.浙江工業(yè)大學(xué)機(jī)械工程學(xué)院，浙江杭州310014；2.中國(guó)兵器科學(xué)研究院寧波分院，浙江寧波315103）

1 引 言

工業(yè)計(jì)算機(jī)斷層成像技術(shù)（Industrial Com?puterized Tomography，ICT）具有限制條件少、成像直觀、分辨率高的優(yōu)點(diǎn)，廣泛應(yīng)用于航空航天、兵器及汽車(chē)等行業(yè)的產(chǎn)品內(nèi)部質(zhì)量檢測(cè)［1-3］。目前，國(guó)內(nèi)工業(yè)CT系統(tǒng)已成系列，包括微焦點(diǎn)（納米）工業(yè)CT、15MeV大型工業(yè)CT系統(tǒng)等，系統(tǒng)的空間分辨率覆蓋40 lp/mm（微焦點(diǎn)CT）到0.5 lp/mm（大型加速器CT），密度分辨率最小可達(dá)0.1%?？臻g分辨率作為表征工業(yè)CT系統(tǒng)性能的一個(gè)重要參數(shù)，與缺陷檢測(cè)能力密切相關(guān)。因此，實(shí)現(xiàn)工業(yè)CT系統(tǒng)空間分辨率的有效測(cè)試對(duì)CT系統(tǒng)設(shè)計(jì)、研制、驗(yàn)收和應(yīng)用等方面有著重要意義。

目前，工業(yè)CT系統(tǒng)空間分辨率測(cè)試方法按原理［4］可分為周期性結(jié)構(gòu)測(cè)試法和調(diào)制傳遞函數(shù)（Modulation Transfer Function，MTF）測(cè)試法。周期性結(jié)構(gòu)測(cè)試法［5-6］是在CT圖像中直接觀察線對(duì)、圓（方）孔陣列等周期性結(jié)構(gòu)，利用可識(shí)別的最小結(jié)構(gòu)尺寸來(lái)確定系統(tǒng)的空間分辨率，具有結(jié)果直觀、檢測(cè)效率高等優(yōu)點(diǎn)，但是測(cè)試能力和精度完全依賴(lài)于模體中周期性結(jié)構(gòu)的空間頻率范圍、間隔及加工精度。隨著系統(tǒng)空間分辨率的提高，測(cè)試模體的加工要求、難度顯著提升，影響了該方法的實(shí)用性。MTF法具有模體結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單、加工要求低、檢測(cè)分辨率高等優(yōu)點(diǎn)。根據(jù)模體形狀不同，該方法可分為圓盤(pán)法［7-9］和刃邊法［10-15］，這兩種方法均利用模體在CT圖像上的邊緣灰度信息，利用計(jì)算機(jī)提取邊緣圖像灰度分布進(jìn)行微分運(yùn)算形成邊緣擴(kuò)散函數(shù)（Edge Spread Function，ESF），再經(jīng)過(guò)傅里葉變換計(jì)算獲得MTF曲線，用于表征工業(yè)CT系統(tǒng)的空間分辨率。在實(shí)際應(yīng)用中邊緣圖像灰度提取、平均降噪、插值擬合等過(guò)程較為復(fù)雜，影響了方法的實(shí)用性。基于上述研究現(xiàn)狀，本文使用一對(duì)直徑相同的圓柱體形成連續(xù)變間距測(cè)試模型，建立了一種可等價(jià)于周期性結(jié)構(gòu)（線對(duì)卡模體）的工業(yè)CT系統(tǒng)空間分辨率測(cè)試方法。

2 空間分辨率測(cè)試模型

2.1 周期性結(jié)構(gòu)測(cè)試模型

工業(yè)CT掃描過(guò)程如圖1所示。將周期性結(jié)構(gòu)（線對(duì)卡模體）固定于轉(zhuǎn)臺(tái)上，射線源產(chǎn)生X射線穿透模體并被探測(cè)器接收，模體隨轉(zhuǎn)臺(tái)旋轉(zhuǎn)一周（360°），與此同時(shí)探測(cè)器實(shí)時(shí)采集射線穿透模體后的衰減信號(hào)，并傳輸至上位機(jī)實(shí)現(xiàn)CT圖像重建。

圖1 條形模體在工業(yè)CT掃描示意圖Fig.1 Scanning of strip phantom（line-to-card）in indus?trial CT

圖2 CT成像過(guò)程Fig.2 Process of CT imaging

工業(yè)CT掃描形成的檢測(cè)圖像是空間域里物體經(jīng)過(guò)系統(tǒng)調(diào)制后得到的結(jié)果。因此，可以利用調(diào)制度反映物體細(xì)節(jié)在背景中的對(duì)比度，進(jìn)而表征CT系統(tǒng)的空間分辨率。線對(duì)卡模體中不同空間頻率結(jié)構(gòu)的CT成像前后對(duì)比如圖2所示?？梢?jiàn)經(jīng)過(guò)CT成像后結(jié)構(gòu)的空間頻率不變，對(duì)比度降低了，形成了衰減的近似正弦波。在各個(gè)頻段的周期性結(jié)構(gòu)中，分別將圖像最亮處（灰度最大值）記為Imax，圖像最暗處（灰度最小值）記為Imin，則調(diào)制度MT可表示為［16-17］：

為探求線對(duì)卡模體的CT成像過(guò)程，先建立周期性條形結(jié)構(gòu)的數(shù)學(xué)模型。在理想情況下，條形結(jié)構(gòu)（線對(duì)卡）可表示為矩形脈沖函數(shù)。為研究方便，分別對(duì)波峰、波谷進(jìn)行討論，如圖3所示。條形結(jié)構(gòu)中的波峰p(x)、波谷q(x)分別表示為［18］：

圖3 條形模體表現(xiàn)形式Fig.3 CT manifestation of strip phantom

其中：n∈Z，2ai為波峰（波谷）矩形的脈沖寬度，ε(x)為 單 位 階 躍 信 號(hào) ，定 義 為由于工業(yè)CT成像系統(tǒng)是一種線性非時(shí)變系統(tǒng)［12］，因此其成像導(dǎo)致的對(duì)比度下降可近似為高斯退化函數(shù)模型g(x)。成像過(guò)程可表示為輸入函數(shù)與高斯退化函數(shù)的卷積，則條形結(jié)構(gòu)中波峰的工業(yè)CT成像過(guò)程表示為：

同理，波谷成像過(guò)程表示為：

在不考慮噪聲的情況下，卷積退化后形成的波峰（波谷）極值必然在x=0處，則波峰Imax（波谷Imin）表示為：

分析各個(gè)條形結(jié)構(gòu)之間的影響關(guān)系，簡(jiǎn)化波峰Imax（波谷Imin）的表達(dá)式。假設(shè)工業(yè)CT成像過(guò)程的高斯退化函數(shù)模型為：

根據(jù)標(biāo)準(zhǔn)正態(tài)分布規(guī)律可知，在3倍標(biāo)準(zhǔn)偏差的區(qū)間內(nèi)，g(x)的積分函數(shù)面積約占整體面積的99.73%。當(dāng)波峰（波谷）寬度2ai等于標(biāo)準(zhǔn)差σ時(shí)，在3倍標(biāo)準(zhǔn)偏差的區(qū)間內(nèi)包含了3組線對(duì)，此時(shí)的MT值約為1.1%，可見(jiàn)對(duì)波峰（波谷）幅值影響較為顯著的是相鄰的兩組線對(duì)。因此，當(dāng)1.1%≤MT≤100%時(shí)，波峰Imax可近似為：

將式（6）、式（8）代入式（1），即可獲得線對(duì)卡CT成像后調(diào)制度MT的表達(dá)式：

2.2 等徑外切圓結(jié)構(gòu)模型分析

雙球法［19］是Carmignato等人提出的一種三維CT系統(tǒng)空間分辨率評(píng)估方法，主要是利用一個(gè)簡(jiǎn)單結(jié)構(gòu)的參考試塊（兩個(gè)具有相同公稱(chēng)直徑的點(diǎn)接觸校準(zhǔn)球體），對(duì)該參考試塊進(jìn)行CT重建，觀察接觸點(diǎn)的失真情況。在指定誤差范圍內(nèi)，利用可測(cè)量的最小球體直徑來(lái)確定CT系統(tǒng)的空間分辨率。該方法的優(yōu)點(diǎn)在于參考試塊結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單，但是對(duì)于具有微米分辨率的工業(yè)CT系統(tǒng)則需要直徑在微米級(jí)的球體，球體試塊制造、校準(zhǔn)及使用難度顯著提升。Zanini等［20］提出了一種基于雙球的改進(jìn)空間分辨率測(cè)試方法，采用較大直徑的球體，利用局部自適應(yīng)算法提取球體邊緣，計(jì)算接觸點(diǎn)扭曲區(qū)域的高度來(lái)表征CT系統(tǒng)的空間分辨率，但是在水平方向上由于射束硬化、噪聲等原因，接觸點(diǎn)附近灰度分布特別復(fù)雜，影響扭曲區(qū)域高度的測(cè)量精度和穩(wěn)定性，測(cè)量結(jié)果發(fā)生振蕩。本文構(gòu)造了一種垂吊式圓柱體線接觸模體，用于改善CT檢測(cè)效果，測(cè)量結(jié)果等價(jià)于線對(duì)卡法，更適用于線陣工業(yè)CT系統(tǒng)的空間分辨率測(cè)試。

如圖4所示，兩個(gè)具有相同公稱(chēng)直徑(D)的校準(zhǔn)柱體，使它們?cè)谝粭l線上相互接觸。由于CT重建過(guò)程造成接觸區(qū)域圖像畸變，該畸變區(qū)域的面積隨著CT系統(tǒng)空間分辨率的提高而減小。因此，兩個(gè)相互接觸的校準(zhǔn)柱體可作為一種狹縫寬度連續(xù)變化的矩形波測(cè)試卡［21］。

圖4 雙圓模體與空間分辨率的關(guān)系Fig.4 Relationship between double circular phantom and spatial resolution

圖5 雙圓模體平面Fig.5 Double circular phantom plane

如圖5所示，兩個(gè)相鄰的圓柱形結(jié)構(gòu)平行于圓心線段的間距可表示為：

與圓心線段距離為h的灰度分布函數(shù)可表示為：

其中：ah為與圓心線段距離為h的雙圓間距半寬。需要注意，f(x，ah)表示歸一化的灰度值，且0≤f(x，ah)≤1。

將x=0代入式（11）可得不同間距下中軸線上的CT圖像灰度分布，有：

由于正態(tài)分布函數(shù)g(x)的積分無(wú)解析解，引入g(x)積分近似計(jì)算公式［22］：

其中W≥1。

2.3 等徑外切圓與周期性結(jié)構(gòu)等效分析

將線對(duì)卡CT成像后的調(diào)制度MT引入g(x)積分近似計(jì)算公式G(x)，即將式（13）代入式（9），則MT可表示為：

如圖6所示，當(dāng)線對(duì)卡的線對(duì)波峰（波谷）寬度2ai與雙圓模體的間距2ah相等時(shí)，將式（14）代入式（15）可得：

則線對(duì)波峰（波谷）寬度為2ah（2ai）對(duì)應(yīng)的空間頻率f（單位：線對(duì)數(shù)/毫米）可表示為：

圖6 雙圓模體與線對(duì)卡寬度相等Fig.6 Width of double-circle phantom equals to the one of line-to-card

其中k為修正系數(shù)，約為1.1～1.2。

式（17）轉(zhuǎn)換可得到：

將式（18）與式（16）聯(lián)立即可獲得利用雙圓模體測(cè)得的等效線對(duì)卡MTF曲線。

在工程應(yīng)用中，通常采用10%調(diào)制度下的線對(duì)寬度來(lái)比較工業(yè)CT系統(tǒng)的空間分辨率，因此將MT=10%代入式（16）并進(jìn)行簡(jiǎn)化，得到：

對(duì)式（19）進(jìn)行多項(xiàng)式求根，取大于1的實(shí)數(shù)解，可得W≈2.810 49。

將W≈2.810 49代入式（14），求得：

因此，10%的調(diào)制度下CT系統(tǒng)的空間分辨率為：

2.4 等徑外切圓MTF自動(dòng)測(cè)量算法流程

為了快速獲取雙圓模體在中軸線上的灰度分布，設(shè)計(jì)了一種圖像處理及測(cè)量算法實(shí)現(xiàn)中軸線灰度分布的提取及MTF曲線計(jì)算?；诘葟酵馇袌A的工業(yè)CT系統(tǒng)MTF自動(dòng)測(cè)試方法主要包含幾個(gè)重要的步驟：CT圖像二值化；模體質(zhì)心計(jì)算；雙圓模體圓心計(jì)算；圓心中軸線上圖像灰度提?。挥?jì)算CT系統(tǒng)的MTF曲線。數(shù)據(jù)處理流程圖如圖7所示。

圖7 CT圖像數(shù)據(jù)處理流程Fig.7 Data processing of CT images

假設(shè)雙圓模體所在CT圖像f(x，y)的尺寸為m×n，其中x為圖像數(shù)組橫坐標(biāo)，y為圖像數(shù)組縱坐標(biāo)。如圖8（a）和8（b）所示，利用自動(dòng)閾值分割方法（clustering）轉(zhuǎn)換為二值化圖像b(x，y)，則b(x，y)的質(zhì)心C位置坐標(biāo)(xc，yc)可表示為：

其中num為滿足條件的i或j的數(shù)量。

為了能夠準(zhǔn)確識(shí)別雙圓心位置，需要對(duì)兩圓進(jìn)行有效分離。如圖8（c）所示，對(duì)b(x，y)進(jìn)行二值形態(tài)學(xué)處理，獲得雙圓邊緣圖像e(x，y)，表示為：

其中：Θ表示腐蝕，即b(x，y)被結(jié)構(gòu)B所腐蝕采用K-means聚類(lèi)方法計(jì)算雙圓圓心坐標(biāo)，其主要步驟如下：

（1）首先，搜索e(x，y)中值為1且與質(zhì)心C距離最遠(yuǎn)的點(diǎn)，設(shè)為N。初始化類(lèi)A={C}，并將質(zhì)心C的位置作為類(lèi)A的初始中心位置；初始化類(lèi)B={N}，并將點(diǎn)B的位置作為類(lèi)B的初始中心位置；

（2）在e(x，y)中尋找值為1的點(diǎn)，即雙圓的邊緣位置，計(jì)算該點(diǎn)與類(lèi)A和類(lèi)B的中心點(diǎn)的距離。當(dāng)該點(diǎn)與類(lèi)A的中心距離小于類(lèi)B的中心距離時(shí)，將該點(diǎn)計(jì)入類(lèi)A，重新計(jì)算類(lèi)A中所有點(diǎn)的中心位置；反之亦然。

圖8 雙圓模體圓心自動(dòng)提取結(jié)果Fig.8 Automatic extraction of center of double circle phantom

（3）迭代計(jì)算步驟（2）直至e(x，y)中所有值為1的點(diǎn)處理完畢，即可獲得圓心坐標(biāo)分別為L(zhǎng)=(xL，yL)和R=(xR，yR)。

如圖8（d）所示，利用圓心坐標(biāo)(xL，yL)和(xR，yR)計(jì)算中軸線l上的點(diǎn)坐標(biāo)(xl，yl)，可表示為：

計(jì)算中軸線l上每個(gè)點(diǎn)到圓心連線段LR的距離hl，則有：

其 中：A=xR?xL，B=(yL?yR)/(xL?xR)，

將hl代入式（17）即可獲得相應(yīng)的線對(duì)空間頻率。

在雙圓模體CT圖像f(x，y)中，采用數(shù)值微分法提取點(diǎn)坐標(biāo)(xl，yl)對(duì)應(yīng)位置的像素灰度值f(xl，yl)。將灰度值f(xl，yl)歸一化并進(jìn)行分段線性擬合處理，代入式（14）、式（16）即可獲得調(diào)制度MT。圖9分別表示中軸線的灰度分布和MTF曲線的計(jì)算結(jié)果。

圖9 中軸線灰度分布及MTF曲線Fig.9 Gray scale distribution of central axis and MTF curve

3 實(shí) 驗(yàn)

3.1 試塊的制作

選用牌號(hào)為GCr15的軸承鋼作為雙圓模體材料，該材質(zhì)具有淬透性好、硬度高、耐磨性強(qiáng)和尺寸穩(wěn)定等優(yōu)點(diǎn)。首先在原料條上進(jìn)行斷切，得到兩個(gè)外形尺寸均為Ф9 mm×16 mm的坯料；進(jìn)行研磨加工及表面拋光，得到兩個(gè)Ф8 mm×15 mm的圓柱模體，接著用SGM15/14型高溫爐進(jìn)行淬火及低溫回火，使其硬度達(dá)到45～50；對(duì)其表面進(jìn)行防銹處理，最后采用三坐標(biāo)儀對(duì)模體尺寸進(jìn)行計(jì)量，驗(yàn)證其尺寸公差是否滿足工業(yè)CT空間分辨率測(cè)試的要求。采用垂吊方式保證模體圓柱側(cè)面緊密貼合，如圖10所示。

圖10 雙圓模體示意圖Fig.10 Double circular phantom

實(shí)驗(yàn)前，將雙圓模體置于20℃條件下恒溫2 h；實(shí)驗(yàn)時(shí)，將模體置于CT設(shè)備轉(zhuǎn)臺(tái)上，選取模體的中部區(qū)域進(jìn)行工業(yè)CT掃描成像。實(shí)驗(yàn)所用的設(shè)備為高能加速器工業(yè)CT成像系統(tǒng)，由6 MeV加速器射線源、608通道線陣探測(cè)器、雙立柱運(yùn)動(dòng)平臺(tái)和Ф1 m轉(zhuǎn)臺(tái)組成。設(shè)備探測(cè)器單元水平方向尺寸為0.3 mm（固定），相鄰?fù)ǖ浪介g隔為1.3 mm，探測(cè)器單元垂直方向尺寸（切片厚度）可利用準(zhǔn)直器進(jìn)行調(diào)節(jié)，范圍為0.25～5 mm，最大劑量率約為800 cGy/min×1 m，焦點(diǎn)尺寸為2 mm，采用三代CT掃描方式。

3.2 有效性分析

為驗(yàn)證本文方法的有效性，將它與線對(duì)卡法［16-17］進(jìn)行比較，研究本文方法的測(cè)試結(jié)果受空間分辨率、噪聲水平、穩(wěn)定性和雙圓模體直徑變化的影響，以及與線對(duì)卡法測(cè)試結(jié)果的差異。如圖11所示，線對(duì)卡寬度分別為0.1/0.15/0.2/0.25/0.3/0.4/0.5 mm。

圖11 線對(duì)卡模體及CT圖像Fig.11 Wire pair card phantom and CT image

微動(dòng)次數(shù)是指探測(cè)器單元通過(guò)小范圍機(jī)械運(yùn)動(dòng)形成過(guò)采集插值實(shí)現(xiàn)超分辨率重建，是影響高能工業(yè)CT系統(tǒng)空間分辨率的主要因素。微動(dòng)裝置采用絲桿螺母副傳動(dòng)、交叉滾子滑動(dòng)模塊導(dǎo)向?qū)崿F(xiàn)高精度小范圍平移，將探測(cè)器相鄰單元間距按微動(dòng)次數(shù)進(jìn)行等分，利用光柵尺測(cè)量探測(cè)器單元的實(shí)際位置用于軟件算法的插值計(jì)算。因此，通過(guò)改變工業(yè)CT系統(tǒng)檢測(cè)時(shí)的微動(dòng)次數(shù)可形成不同空間分辨率的CT圖像。圖12（a）～12（c）分別給出了2次、5次和10次微動(dòng)獲得的線對(duì)卡和雙圓模體CT圖像，實(shí)驗(yàn)采用的切片厚度為1 mm、圖像分辨率為4 096×4 096（像元×像元）、成像范圍為200 mm×200 mm。采用兩種方法測(cè)得10%調(diào)制度下的空間分辨率如圖13所示，可見(jiàn)兩種方法獲得的10%MTF的空間分辨率基本吻合，最大誤差在10%以?xún)?nèi)。

研究不同CT圖像分辨率對(duì)MTF測(cè)試結(jié)果的影響，實(shí)驗(yàn)采用2次微動(dòng)、切片厚度為1 mm、成像范圍為200 mm×200 mm，如圖14所示。增加圖像分辨率有助于提高檢測(cè)系統(tǒng)的空間分辨率，但是當(dāng)空間分辨率接近系統(tǒng)極限時(shí)，增加圖像分辨率對(duì)系統(tǒng)空間分辨率的提高效果不明顯且會(huì)大量消耗硬件內(nèi)存。從測(cè)量結(jié)果可見(jiàn)，兩種方法均體現(xiàn)出圖像分辨率對(duì)MTF測(cè)試結(jié)果的影響，在高圖像分辨率下（8 192×8 192），本文方法測(cè)量值（10%調(diào)制度）略高于線對(duì)卡測(cè)量值，原因在于線對(duì)卡法不同空間分辨率線對(duì)的間隔較大，10%調(diào)制度下的實(shí)際空間分辨率需要通過(guò)插值擬合計(jì)算獲得，而雙圓法的等效線寬間隔在10%調(diào)制度下遠(yuǎn)小于線對(duì)卡法。因此，雙圓法的測(cè)量精度高于線對(duì)卡法，同時(shí)在日常檢測(cè)時(shí)應(yīng)選擇合適的圖像分辨率以獲得最佳的空間分辨率及最優(yōu)的系統(tǒng)開(kāi)銷(xiāo)。

圖12 不同微動(dòng)條件下CT圖像Fig.12 CT images with different fretting frequencies

圖13 不同微動(dòng)頻率下測(cè)試結(jié)果比較Fig.13 Comparison of test results with different fretting frequencies

圖14 不同圖像分辨率下測(cè)試結(jié)果比較Fig.14 Comparison of test results with different image resolutions

圖15 不同切片厚度下測(cè)試結(jié)果比較Fig.15 Comparison of test results with different slice thicknesses

研究不同噪聲水平對(duì)MTF測(cè)試結(jié)果的影響，實(shí)驗(yàn)采用2次微動(dòng)、圖像分辨率為4 096×4 096（像元×像元）、成像范圍為200 mm×200 mm，如圖15所示。切片厚度是影響CT圖像噪聲水平的主要因素，前期實(shí)驗(yàn)表明切片厚度越大，圖像噪聲水平越低?？梢?jiàn)，噪聲對(duì)本文方法具有一定的影響，噪聲越大與線對(duì)卡法的結(jié)果差異越大，原因在于本文方法通過(guò)對(duì)中軸線上灰度分布進(jìn)行分段線性擬合來(lái)降低圖像噪聲的干擾，降噪效果有限。通過(guò)分析，兩者誤差控制在10%以?xún)?nèi)，基本滿足檢測(cè)要求。

圖16 不同直徑模體的測(cè)試結(jié)果比較Fig.16 Comparison of test results of phantom with differ?ent diameters

研究不同直徑模體對(duì)MTF測(cè)試結(jié)果的影響，實(shí)驗(yàn)采用5次微動(dòng)、圖像分辨率為4 096×4 096（像元×像元）、成像范圍為200 mm×200 mm、切片厚度為1 mm，雙圓模體直徑分別為3，6，8，20，26，32 mm，如圖16所示?？梢?jiàn)，圓柱體直徑的變化不會(huì)顯著影響空間分辨率測(cè)量結(jié)果，噪聲、偽影是引起不同直徑模體測(cè)量結(jié)果波動(dòng)的主要原因。

4 結(jié) 論

本文針對(duì)傳統(tǒng)線對(duì)卡法測(cè)量工業(yè)CT系統(tǒng)空間分辨率的局限性，推導(dǎo)了線對(duì)卡法測(cè)量模型及等徑外切圓變間距模型，建立了兩者的對(duì)應(yīng)等價(jià)關(guān)系，構(gòu)建了基于等徑外切圓的MTF測(cè)量方法，分析了測(cè)量結(jié)果受空間分辨率、圖像分辨率、噪聲水平及模體直徑的影響規(guī)律，并采用GCr15軸承鋼模體實(shí)驗(yàn)驗(yàn)證了本方法的有效性。實(shí)驗(yàn)結(jié)果表明，本方法的測(cè)量結(jié)果接近線對(duì)卡法，誤差控制在10%以?xún)?nèi)，具有模體加工要求低、測(cè)量過(guò)程簡(jiǎn)單的優(yōu)點(diǎn)，可推廣用于CT系統(tǒng)的設(shè)計(jì)、研制、驗(yàn)收和應(yīng)用等方面。下一步將針對(duì)等徑外切圓法的降噪方法及偽影對(duì)測(cè)量結(jié)果的影響開(kāi)展研究，使本方法的適用性更廣。