張容卓 劉 柯 宋金城 郭天茂 孫增玉 高 越 吳 桐 潘兆義 羅小濤
(1.北京航天計量測試技術研究所,北京100076;2.西安航天發動機有限公司,西安710061)
隨著現代工業的迅速發展,生產制造的水平不斷提高,工業產品在研制中對于零部件的加工質量要求也越來越高,高精度的設計要求對外形輪廓的精密測量提出了更高的挑戰。光柵投影三維測量技術作為一種新興的快速測量方法,為數字化三維設計領域帶來了新的技術途徑。
光柵條紋的相位展開是光柵投影三維測量的關鍵技術,一直受到國內外眾多研究人員的關注。相位展開按照展開角度的不同,大致分成兩種:空域角度的相位展開方法與時域角度的相位展開方法。空域相位展開法是通過相位空間具有連續性,分析相鄰空間元素的相位關系,求解光柵的絕對相位。這種方法只需要投射一幅圖即可,且對投影測量設備的要求不高,可以減小硬件的誤差影響,但是對待測物體有嚴格要求,若測量物體表面跳變大、輪廓復雜、信噪比不是足夠高時,容易出現“丟包”“拉線”等問題。
時域相位展開法是按照一定的時間序列生成一套(多幅)條紋圖,將其投射到物體表面,最后根據時域關系進行解相位。典型的時域相位展開法包括格雷碼展開法、多頻外差法。此類方法雖然增加了投射圖片的數量,但每點的相位都是單獨計算的,從原理上解決了誤差的傳播,不再因被測物表面不規則受影響,對于表面不連續的物體也可精準測量。但格雷碼展開法所需投射的圖片較多,且存在周期錯位的現象。多頻外差可以有效解決周期錯位的影響。
針對上述問題,本文利用多頻外差相移法進行相位展開,且對此算法進行優化。根據頻率的主次,采用不同步數的相移法,在不降低精度的情況下,減少投射的條紋圖,加快測量速度。
相位求解一般分為兩部分:相位主值求解與相位解包裹。相位主值的求解是對光柵相位的大致求解,解的范圍在0 至2π 或-π 至π 之間,這個值在一個相位周期是唯一的,但一幅完整的光柵條紋圖包括很多個相位周期,像素之間的實際相位差可能還包含多個完整的周期。相位解包裹就是將整幅光柵圖中的多個相位周期轉換為一個連續的、完整的相位周期,使求解的每個相位值在整個光柵相位中具有唯一性。相位的完整表達式為:

φ
——每點相位主值;k
——通過相位解包裹計算得出的條紋極次。相位展開圖如圖1所示。
圖1 相位展開示意圖Fig.1 Phase expansion schematic diagram
相位主值的求解將采取相移法進行。相移法是通過投射多幅具有一定相位差的圖像,計算含有物體表面輪廓三維信息的相位初值。目前已經有多種相移法被提出,對于不同的相移法,誤差響應與穩定性也存在差異。為了在保證精度的前提下減少投射光柵圖的數量,本文的主頻次采用四步相移法確保精度不變,其他頻次采用三步相移法。
在相移法中,投射的圖片是光強為正弦分布的光柵條紋圖,光強分布的函數表達式為:

I
——圖像各點的光強;a
——圖像的平均灰度;b
——圖像的灰度調制;f
——光柵圖像的頻率。當光柵投影到待測物體表面后,光柵投影的條紋發生形變,其圖像函數表達式為:


I
——相位為0 的光強;I
——相位為π/2 的光強;I
——相位為π 的光強;I
——相位為3π/2 的光強。通過上式進行計算,相位主值的表達式為:
N
=3,每次相位移動的間隔為2π/3,光柵投影的相移依次為0,2π/3,4π/3,三幀光柵投影的光強為:
三步相移的相位主值表達式為:

通過上述公式可以得到三個頻率的相位主值,每幅相位主值圖都包含多個相位周期,需要通過相位解包裹,將多個周期相位展開為一個連續的周期的相位,使每點相位值具有唯一性。
k
。頻率的外差數學表達式為:
f
、f
——分別為疊加前兩列波的頻率;f
——疊加后的頻率。當采用三頻外差時,假設f
>f
>f
,它們分別為三列波的不同頻率,疊加后的頻率f
為
f
、f
、f
的三列波對應的波長為λ
、λ
、λ
。每列波的包裹相位為φ
(x
,y
)、φ
(x
,y
)、φ
(x
,y
),與之對應的絕對相位為Φ
(x
,y
)、Φ
(x
,y
)、Φ
(x
,y
)。絕對相位值與周期滿足的關系式為:
利用外差原理疊加后的波長和相位發生改變:

λ
——頻率為f
、f
的兩列波疊加的波長;λ
——頻率為f
、f
的兩列波疊加的波長;λ
——λ
與λ
疊加的波長。
φ
——φ
、φ
疊加后的相位;φ
——φ
、φ
疊加后的相位;φ
——φ
、φ
疊加后的相位。相位解包裹的主要目的是相位主值內包含的周期個數。由于頻次越高的波,信噪比越高,所以,將頻率為f
的波設置為主頻次波,通過四步相移進行相位主值的計算,其他兩列利用三步相移進行主值計算。在進行相位解包裹時,也將圍繞主頻次波進行相位展開,聯立式(1)、(8)、(9)、(10)可推導出:
k
(x
,y
),再結合相位主值的結果就可以得到該點的絕對相位。整個相位展開的實體圖,如圖2所示。
圖2 實際相位展開圖Fig.2 Actual phase expansion diagram
為了驗證算法的有效性與實用性,本文利用實驗室現有設備,進行測量試驗。試驗中采用的硬件包括:投影儀(型號為DLP-4500)進行光柵圖的投射,定焦工業相機(型號為MER-500,焦距為30cm,分辨率為2448 ×2048)采集經物體表面調制的光柵圖,工控機將采集的光柵圖進行相位解算,測量試驗實物如圖3所示。

圖3 測量試驗實物圖Fig.3 Measuring experimental objects
試驗以常規的三頻四步相移法為基準,驗證三頻異步相移法的有效與優越性。通過上位機制作三頻四步與三頻異步的光柵圖:三頻四步的光柵圖共計12 幅,如圖4所示;三頻異步的光柵圖共計10幅,如圖5所示。本文試驗選取一個圓形盒子為被測物,將制作好的光柵分別投射到物體表面,如圖6所示。再通過CCD 采集經物體表面調制后的光柵圖。

圖4 三頻四步光柵圖Fig.4 Three-frequency four-step grating

圖5 三頻異步光柵圖Fig.5 Three-frequency asynchronous grating

圖6 經被測物調制的光柵圖Fig.6 Modulated grating
通過CCD 采集經物體表面調制后的光柵圖,采用本文算法與三頻四步相移法進行相位展開。由于相機拍攝的視角比較廣,周圍會出現無效區域,所以選取中間區域進行試驗分析。為了避免其他誤差的引入,本試驗只進行相位的比較,選取(500,450)~(500,650)作為比較區域,將兩種方法相位展開后的絕對相位進行比較,如圖7所示。

圖7 相位差值Fig.7 Phase difference value
對于光柵相位展開技術,很多專家學者通過試驗論證了基于時間序列展開法的優越性,且三頻四步相移法比格雷碼方法更有優勢。所以本文提出的算法只進行了與三頻四步相移法的比較。從圖7可以看出本文提出的三頻異步算法與三頻四步相移法的插值在4.188 附近浮動,這說明優化算法的相位展開精度與三頻四步相移法很相近,只是存在一個固定的差值。由于優化算法需要將四步相移法與三步相移法進行結合,兩種方法的位移量存在偏差,為了使四步相移的相位主值更好的與三步相移的相位主值融合,需要將四步相移的整體相位頻移2/3 個周期,這就導致最后進行相位展開以后,整體絕對相位會比三頻四步相移法展開的絕對相位大2π/3。為了更直觀地反映優化后算法的有效性,本文又將光柵直接投射到平面上,進行相位展開,同樣取第500 行對比絕對相位,如圖8所示。
由圖8 可以更明顯地看出,三頻異步相移法展開的相位與三頻四步相移法展開的效果相同,只有初始的相位有些偏移且優化后的初始相位為零點,但三頻異步相移法相比于三頻四步等所需的投射光柵圖更少,證實了優化后算法的有效性與優越性。

圖8 第500 行絕對相位分布圖Fig.8 Line 500 absolute phase
本文對三頻四步相移法進行分析,為了減少投射光柵圖的數量,在不降低精度的情況下加快測量速度,優化算法后得到三頻異步相移法。對圓形盒子進行表面測量試驗,將不同的光柵條紋投射到圓盒表面,采用三頻四步相移法以及優化后的三頻異步法進行相位展開,最終得出三頻異步相移法的可行性與優越性。本文在沒有降低精度的前提下減少了投影光柵圖的數量,雖然沒有提高光柵投影三維測量的精度,但加快了測量速度,未來提高測量、解算速度提出了新的研究方向。