李林永
(桂林航天工業(yè)學(xué)院,廣西 桂林 541004)
目前,隨著空間探索技術(shù)的不斷發(fā)展并呈現(xiàn)出應(yīng)用普遍化的趨勢(shì),人類的空間探索活動(dòng)范圍和廣度在不斷地?cái)U(kuò)大加深,航天器所能完成的任務(wù)越來(lái)越多,對(duì)空間電源功率的要求也在不斷提高。在很多探索活動(dòng)中,太陽(yáng)能已經(jīng)無(wú)法滿足航天器的需求。基于這樣的情況,各個(gè)航天大國(guó)都在加緊研究新型空間電源,以滿足本國(guó)的空間能源需求,如地外大型永久性基地、無(wú)人深空探測(cè)器以及載人深空飛行等。這些深空探測(cè)活動(dòng)所需的電源需求少則幾百瓦,多則十幾兆瓦,遠(yuǎn)離太陽(yáng)時(shí),太陽(yáng)能帆板所無(wú)法提供或者所需太陽(yáng)能帆板面積大到超出現(xiàn)有技術(shù)所能達(dá)到的最大面積。空間核能發(fā)電可以更好地滿足地外探測(cè)活動(dòng)的需求,是目前深空探測(cè)能源供應(yīng)的研究熱點(diǎn),其關(guān)鍵技術(shù)是核電轉(zhuǎn)換。雖然國(guó)際上已經(jīng)發(fā)展了多種核電轉(zhuǎn)換方式,但是基于核能的高溫氣體閉環(huán)磁流體發(fā)電系統(tǒng)能夠直接將熱能轉(zhuǎn)換為電能,理論轉(zhuǎn)換效率最高且發(fā)展?jié)摿ψ畲蟆_@種發(fā)電方式特別適合深空探測(cè)和能源需求量大的航天活動(dòng),是未來(lái)有人與無(wú)人深空探測(cè)活動(dòng)的理想電源系統(tǒng)[1]。
在核能磁流體發(fā)電方面,日本已經(jīng)對(duì)盤式發(fā)電和法拉第型發(fā)電方式進(jìn)行了較為系統(tǒng)和詳細(xì)的研究,其目的在于通過(guò)對(duì)發(fā)電結(jié)構(gòu)的優(yōu)化、工質(zhì)的選擇以及等離子體穩(wěn)定性等方面的研究,實(shí)現(xiàn)提高發(fā)電通道的熱電轉(zhuǎn)換效率的目的[2-11]。荷蘭的埃因霍芬理工大學(xué)以Ar/Cs混合氣體為工質(zhì),同樣對(duì)法拉第型發(fā)電通道進(jìn)行數(shù)值模擬,主要對(duì)電子溫度分布、滯溫、滯壓、負(fù)載以及種子濃度進(jìn)行研究[12-14]。俄羅斯對(duì)Ar/Cs和H2/Cs混合氣體進(jìn)行研究,在一定的條件下獲得了34%的焓提取率和20.1 MW的電能輸出[15,16]。國(guó)內(nèi)的中國(guó)科學(xué)院電工研究所、北京空間飛行器總體設(shè)計(jì)部以及空軍工程大學(xué)也在進(jìn)行以惰性氣體為工質(zhì)的磁流體發(fā)電系統(tǒng)的研究,但是目前研究成果還比較少[17-20]。本文以He/Xe混合氣體為工質(zhì),研究不同電極/絕緣壁面寬度比對(duì)法拉第型磁流體發(fā)電通道流場(chǎng)分布、等離子體穩(wěn)定性、電導(dǎo)率以及電效率等參數(shù)的影響,旨在提高等離子體發(fā)電系統(tǒng)的性能。
圖1為發(fā)電通道的物理結(jié)構(gòu)模型,其中h=0.03 m,a=0.04 m,b=0.12 m,LM=L/M,是電極/緣壁寬度比值,坐標(biāo)原點(diǎn)在入口處的幾何中心上,中心線為坐標(biāo)原點(diǎn)與矩形出口幾何中心的連線,上下壁面也為理想絕緣壁面。表1為本文所研究的4種情況。

圖1 法拉第型磁發(fā)生器通道結(jié)構(gòu)

表1 計(jì)算變量
磁流體動(dòng)力學(xué)模型采用文獻(xiàn)[1]的等離子體動(dòng)力學(xué)模型,模型耦合了麥克斯韋方程組和He/Xe混合氣體電離模型。采用Ansys15.0數(shù)值模擬軟件進(jìn)行仿真計(jì)算,湍流模型為S-A模型,適合于超聲速流動(dòng)的計(jì)算。
由于氣體存在粘性且通道壁面不光滑,附著在壁面上的氣體速度近似為0,滿足壁面氣體速度為0。壁面假定恒溫,為600 K,通道進(jìn)口為壓力進(jìn)口,入口總壓、靜壓以及總溫分別為0.6 MPa、0.037 5 MPa以及2 000 K,等離子體初始條件中的種子濃度和電子溫度分別為3×10-5和8000 K,磁場(chǎng)強(qiáng)度為4 T,負(fù)載系數(shù)k=0.5。出口設(shè)置為壓力出口,電極為良導(dǎo)體,壓降為0。壁面假設(shè)為理想的絕緣壁面,即J·n→=0,其中n→表示壁面上的單位法向量。
衡量磁流體發(fā)電通道性能的參數(shù)包括焓提取率ηg、發(fā)電效率ηe、電功率密度Pg、焦耳熱PJ以及發(fā)電量P0等,各個(gè)性能參數(shù)的定義及表達(dá)式見(jiàn)文獻(xiàn)[1]。
程序已在文獻(xiàn)[1]中進(jìn)行驗(yàn)證,電子溫度偏離誤差僅為3.5%,電離度模擬結(jié)果最大誤差僅為0.076 9%,電導(dǎo)率誤差為4.7%,靜溫誤差為4.0%,馬赫數(shù)誤差為2.5%,誤差較小,因此本文所建立的電離模型是可靠的,其結(jié)果可信。
圖2為電流在y=0截面的分布情況,分析電流線的分布可知,第一對(duì)電極靠近入口一側(cè),電流線發(fā)生較大的偏轉(zhuǎn),第七對(duì)電極靠近出口一側(cè)的電流線也發(fā)生較大的偏轉(zhuǎn),從而可以推出,等離子體流在入口和出口處受到較大的、偏離x方向的洛倫磁力作用,使得入口附近和出口附近的流動(dòng)穩(wěn)定性較差。而入口處等離子體均勻流入,出口附近等離子體流不均勻的流向出口,使得出口附近的等離子體流要比入口處的等離子體流動(dòng)更加復(fù)雜。從圖2馬赫數(shù)在入口和出口附近的分布可以看出。另外,電流線在靠近電極處發(fā)生偏轉(zhuǎn),且電極/絕緣壁面寬度比值越小偏轉(zhuǎn)越嚴(yán)重,對(duì)流動(dòng)的影響越大。

圖2 y=0截面內(nèi)電流分布情況
圖3表明,隨著電極/絕緣壁面寬度比值的增大,流場(chǎng)的分布越來(lái)越穩(wěn)定。LM=0.5時(shí),通道內(nèi)流動(dòng)情況最差,馬赫數(shù)分布及其不均勻。LM=2.0時(shí),通道內(nèi)流動(dòng)較為穩(wěn)定,馬赫數(shù)分布規(guī)則。流場(chǎng)隨著電極/絕緣壁面寬度比值的增大而逐漸變得穩(wěn)定的原因可從圖2進(jìn)行分析。電流從正極流向負(fù)極,由于LM=0.5時(shí)電極寬度最小,匯聚到電極上的電流密度較大,使得通道主流區(qū)受到的洛倫磁力與靠近電極壁面的流動(dòng)區(qū)所受到的洛倫磁力相差較大,且靠近壁面電流偏轉(zhuǎn)角度較大,洛倫磁力偏離x方向較大,因此流場(chǎng)結(jié)構(gòu)變得更加復(fù)雜。隨著電極/絕緣壁面寬度比值的增大,主流區(qū)和靠近壁面區(qū)域所受的洛倫磁力大小差別逐漸減小,靠近電極壁面的電流線偏轉(zhuǎn)角度也逐漸減小。洛倫磁力偏離x方向的角度減小,使得整個(gè)通道的流動(dòng)情況逐漸趨于穩(wěn)定。

圖3 y=0截面內(nèi)馬赫數(shù)分布情況
等離子體結(jié)構(gòu)越穩(wěn)定越有利于提高發(fā)電通道的性能,因此需要分析不同電極/絕緣壁面寬度比值對(duì)等離子體結(jié)構(gòu)穩(wěn)定性的影響。為此,本文對(duì)通道中線上的電子數(shù)密度和電離度分布情況進(jìn)行分析,其結(jié)果如圖4所示。從圖4中可以看出,當(dāng)LM=0.5時(shí),電子數(shù)密度和電離度沿中線的分布波動(dòng)較大,特別是在出口處,下降的幅度較大。而LM≥1時(shí),電子數(shù)密度沿中線的分布呈較穩(wěn)定上升的趨勢(shì),電離度分布更穩(wěn)定,只是在出口處出現(xiàn)了平緩下降的趨勢(shì),但是下降幅度也沒(méi)有LM=0.5的下降大。影響電子數(shù)密度變化的主要因素有氣體密度和電離度,氣體密度和電離度越大電子數(shù)密度越大。電離度的主要影響因素是電離速率和復(fù)合速率,而電離速率和復(fù)合速率主要取決于電子溫度。從計(jì)算結(jié)果來(lái)看,當(dāng)LM≥1.0時(shí),在x<0.1 m的前面通道部分,電離速率和復(fù)合速率基本處于動(dòng)態(tài)平衡,使得電離度保持穩(wěn)定,在x>0.1 m的后面段部分,電離不平衡,電離速率小于復(fù)合速率,致使電離度下降。此外,結(jié)合電離度和電子數(shù)密度沿中線的變化趨勢(shì)可知,電子數(shù)密度總體保持上升的主要原因是洛倫磁力對(duì)氣體做功,氣體靜壓升高,氣體密度增大,從而導(dǎo)致電子數(shù)密度增大。

圖4 電子數(shù)密度、電離度沿通道中線的分布
根據(jù)電導(dǎo)率的計(jì)算公式σ=(e2ne)/(meven)可知,電導(dǎo)率的大小取決于電子數(shù)密度和電子-原子或離子的碰撞頻率,電子數(shù)密度越大,電導(dǎo)率越大,電子-離子和電子-原子碰撞頻率越大,電導(dǎo)率越小。圖4(a)中的電子數(shù)密度沿中線總體上呈增大趨勢(shì),但是氣體原子數(shù)或離子數(shù)同樣在增大,使得電子-離子和電子-原子的碰撞頻率也逐漸增大。結(jié)合圖5(a)可知,隨著LM值的增大,電子-離子和電子-原子的碰撞頻率增幅要大于電子數(shù)密度的增幅,使得通道內(nèi)電導(dǎo)率隨著電極/絕緣壁面寬度比值的增大而減小,所以通道內(nèi)平均電阻隨電極/絕緣壁面寬度比值的增大而增大,導(dǎo)致電磁制動(dòng)功率轉(zhuǎn)化為焦耳的量隨著LM增大而增大。通道內(nèi)焦耳耗散增大,直接導(dǎo)致電效率的下降,如圖5(b)所示。此外,隨著LM值的增大,通道的焓提取率先增大后減小,LM=1.0時(shí)最大,LM=2.0時(shí)最小,顯然電極/絕緣壁面寬度比值為1.0時(shí)為最佳。

圖5 平均電導(dǎo)率、電效率和電極/絕緣壁寬度比值的關(guān)系
本文對(duì)電極/絕緣壁面寬度比值分別為0.5、1.0、1.5以及2.0的4種發(fā)電通道進(jìn)行模擬計(jì)算,分析了電流線、流場(chǎng)、電子數(shù)密度、電離度、電導(dǎo)率、電效率以及焓提取率隨電極/絕緣壁面寬度比值增大的變化情況,得出以下4點(diǎn)結(jié)論。一是由于邊界效應(yīng)的影響,發(fā)電通道第一對(duì)電極和最后一對(duì)電極靠近進(jìn)口或出口一側(cè)的電流線偏轉(zhuǎn)較為嚴(yán)重,對(duì)入口附近的流動(dòng)或出口附近的流動(dòng)有較大的影響。二是當(dāng)電極/絕緣壁面寬度比值越小,電流匯聚到的電流密度越大,使得通道內(nèi)洛倫磁力分布不均勻性越大,導(dǎo)致流場(chǎng)結(jié)構(gòu)變得更復(fù)雜,當(dāng)電極/絕緣壁面寬度比值>1.0時(shí),流場(chǎng)結(jié)構(gòu)趨于穩(wěn)定。三是為保持通道內(nèi)等離子體的穩(wěn)定,應(yīng)采用電極/絕緣壁面寬度比值LM≥1.0發(fā)電通道較為合適。四是電導(dǎo)率隨著電極/絕緣壁面寬度比值LM的增大而減小,使得焦耳熱耗散增大,導(dǎo)致電效率降低。當(dāng)LM=1.0時(shí),焓提取率最大,發(fā)電量最高,建議采用LM=1.0的法拉第型發(fā)電通道。