多排螺旋CT診斷新生兒低血糖腦損傷的效果研究

周文娟，陳聰聰，宋鵬鵬

（鄭州大學附屬兒童醫院，河南省兒童醫院，鄭州兒童醫院醫學影像科，河南 鄭州 450000）

新生兒低血糖是臨床常見的綜合征。大多數此病患兒不會有特異性的臨床表現，只有一小部分患兒會表現出嘔吐、昏迷等臨床癥狀，嚴重時甚至會造成新生兒低血糖腦損傷的發生，從而可嚴重影響患兒的身體健康[1]。新生兒低血糖具有較高的致殘、致死率，而且新生兒長期處于低血糖水平狀態下容易出現腦細胞缺氧、腦部血液供應不足、神經元壞死、神經系統功能障礙等情況。對于低血糖腦損傷患兒，臨床上應該及時予以治療，以避免其腦組織出現不可逆的損傷（可影響其智力，導致其發生腦癱等后遺癥，嚴重時可導致死亡）[2]。及時對此病患兒的病情進行診斷、干預對改善其預后具有重要的意義。相關研究中以新生兒低血糖腦損傷患兒為觀察對象，進行了新生兒低血糖腦損傷影響因素的分析，結果發現驚厥、血糖水平在0.5 ～1.4 mmol/L、低血糖持續時間≥24 小時、腦電圖檢查結果異常以及孕婦合并妊娠期糖尿病均與新生兒低血糖腦損傷的發生密切相關[3]。有研究指出，在新生兒出現低血糖腦損傷后，需要及早診斷并及時治療，以提高其預后效果。對于新生兒低血糖腦損傷，臨床上主要是利用影像學檢查的方法（包括腦電圖、多排螺旋CT、核磁共振等）進行診斷鑒別[4]。本文對鄭州兒童醫院于2021 年1 月至2022 年2 月期間收治的40 例新生兒低血糖腦損傷患兒進行研究，旨在探討多排螺旋CT 診斷新生兒低血糖腦損傷的臨床效果。

1 資料與方法

1.1 一般資料

選取鄭州兒童醫院于2021 年1 月至2022 年2月期間收治的40 例新生兒低血糖腦損傷患兒進行研究。其中有男患兒21 例、女患兒19 例。男患兒的日齡為2 ～7 天，平均日齡（4.58±1.20）天；胎齡35 ～40 周，平均胎齡（38.17±1.03）周；平均體質量為（3.15±0.26）kg。女患兒的日齡為3 ～7 天，平均日齡（4.63±1.25）天；胎齡36 ～40 周，平均胎齡（38.24±1.05）周；平均體質量（3.16±0.22）kg。患兒監護人均知曉研究內容并同意參與研究。此次研究經醫院倫理委員會批準同意。病例納入標準：（1）無先天性免疫缺陷病；（2）經腦電圖檢查診斷為新生兒低血糖腦損傷。病例排除標準：（1）在參與研究過程中退出；（2）存在非低血糖導致的神經系統功能障礙；（3）臨床資料不全。

1.2 方法

采用飛利浦多排螺旋CT 機對40 例新生兒低血糖腦損傷患兒進行檢查，方法是：對患兒進行掃描檢查前，采用鉛衣對其除頭部外的其他重要部位進行遮蓋，然后實施掃描檢查。參數設置：電流180 mA、電壓80 kV，螺距為0.2，螺旋軸厚度在4 mm 左右，層間距5 mm，層厚1 mm，矩陣256×256。對患兒的頭部進行常規掃描，觀察其腦損傷部位，然后對掃描獲得的圖像信息進行三維重建（將影像數據信息傳至相應工作臺進行處理，以獲得三維重建圖像）。由經驗豐富的影像檢驗科醫師對檢查影像進行分析討論后作出診斷。對40 例患兒進行腦電圖檢查，方法是：使用腦電圖檢查儀對患兒進行檢查，為其連接檢查儀的電極，記錄電波形成的腦電圖，并由醫師進行觀察、分析及診斷。

1.3 觀察指標

（1）以腦電圖檢查結果為金標準，觀察多排螺旋CT 診斷新生兒低血糖腦損傷的準確率。（2）對比多排螺旋CT 檢查與腦電圖檢查檢出腦內損傷位置的分布情況。

1.4 統計學方法

采用SPSS 25.0 統計學軟件進行研究數據的分析處理，采用百分數、頻數表示計數資料，數據的比較采用χ2檢驗，以P＜0.05 表示差異有統計學意義。

2 結果

2.1 多排螺旋CT 診斷新生兒低血糖腦損傷的準確率

用多排螺旋CT 診斷這些患兒病情的準確率為95.00%（38/40）。

2.2 對比多排螺旋CT 檢查與腦電圖檢查檢出腦內損傷位置的分布情況

進行腦電圖檢查的結果顯示，這些患兒中腦內損傷位置為顳葉的患兒有8 例，為頂枕葉的患兒有15 例，為額葉的患兒有12 例，為額顳葉的患兒有5 例。進行多排螺旋CT 檢查的結果顯示，這些患兒中腦內損傷位置為顳葉的患兒有7 例，為頂枕葉的患兒有15 例，為額葉的患兒有11 例，為額顳葉的患兒有4 例。多排螺旋CT 檢查與腦電圖檢查檢出腦內損傷位置的分布情況相比，差異無統計學意義（P＞0.05）。見表1。

表1 對比多排螺旋CT 檢查與腦電圖檢查檢出腦內損傷位置的分布情況[例(%)]

3 討論

新生兒低血糖癥在臨床上較為常見。此病在低出生體重早產兒群體中的發病率明顯高于足月兒。新生兒在出生后24 h 內其血糖濃度＜2.2 mmol/L，或是超過24 h 的血糖濃度＜2.8 mmol/L 則說明其患有低血糖癥。葡萄糖是胎兒機體以及新生兒腦組織代謝的唯一能源，新生兒的糖原儲備較少。在離開母體后，新生兒的血糖調節功能會變差。在腦組織代謝旺盛的情況下，其容易出現低血糖癥，病情加重后可引發腦損傷，甚至引發更多的后遺癥[5]。針對新生兒低血糖腦損傷患兒，臨床上要做到早發現、早治療，才能改善其預后。

3.1 新生兒低血糖腦損傷的致病機制

新生兒發生低血糖并引發腦損傷是臨床上常見的新生兒疾病。導致新生兒發生低血糖的原因是：新生兒的糖原和脂肪貯存量不足（新生兒的肝糖原以及棕色脂肪貯存量較小，常不能滿足代謝需求）；新生兒糖原異生緩慢或者延遲；新生兒對葡萄糖攝入需求的增加；新生兒糖攝入量不足。葡萄糖是人體能量代謝（特別是腦能量代謝）的主要物質。血糖濃度過低會引起腦部疾病甚至引發永久性神經功能損害，所以在新生兒的生長發育中維持正常的血糖濃度至關重要。葡萄糖是胎兒、新生兒腦組織的主要能源，如供給不足，腦組織會利用脂肪代謝產物——酮體作為能源。而酮體是一種有害物質，對腦細胞會有所損傷。有研究指出，長時間處于持續性的嚴重低血糖狀態可造成不可逆的腦損傷。頂枕葉皮層是低血糖性腦損傷患兒最易受累的部位，單純頂枕葉皮層損傷的患兒可表現出驚厥、嗜睡、呼吸暫停等癥狀。出現昏迷、呼吸衰竭、呼吸心跳驟停等臨床癥狀的患兒，其因低血糖造成的腦損傷往往分布在基底節、丘腦等部位。此類部位的腦損傷可危及患兒的生命安全，并可導致其出現腦癱、精神發育遲緩、癲癇、認知、視覺及運動發育障礙等后遺癥，增加其家庭的負擔。有研究指出，新生兒低血糖會導致腦部神經元的葡萄糖供給量減少，進而可導致腦部神經系統功能的損傷。腦部神經系統功能的損傷會增加患兒機體對葡萄糖、能量的需求，同時可導致其代謝功能出現紊亂，形成惡性循環[6-7]。本研究的結果顯示，進行腦電圖檢查的結果顯示，40例患兒中腦內損傷位置為顳葉的患兒有8 例，為頂枕葉的患兒有15 例，為額葉的患兒有12 例，為額顳葉的患兒有5 例。進行多排螺旋CT 檢查的結果顯示，這些患兒中腦內損傷位置為顳葉的患兒有7 例，為頂枕葉的患兒有15 例，為額葉的患兒有11 例，為額顳葉的患兒有4 例。多排螺旋CT 檢查與腦電圖檢查檢出腦內損傷位置的分布情況相比，差異無統計學意義（P＞0.05）。有研究指出，相較于其他腦部區域，頂枕葉區域分布的神經元更多，因而此區域更容易發生低血糖相關腦損傷。

3.2 新生兒低血糖腦損傷的多排螺旋CT 診斷

對于新生兒低血糖腦損傷，目前臨床上主要是利用影像學檢查的方法（包括多排螺旋CT、核磁共振、擴散加權成像等技術）進行診斷鑒別。進行CT 檢查主要是用X 線束對患者病變部位進行掃描，以形成圖像信息。而多排螺旋CT 可利用容積成像原理對病變部位掃描圖像進行三維重建成像處理。其成像分辨率較高，能夠有效地觀察新生兒腦部的情況，為醫師判斷病情以及制定治療方案提供參考依據。采用多排螺旋CT 對新生兒進行腦損傷檢查主要是對其頭顱進行掃描檢查。由于新生兒的顱骨組織發育尚不完全，其頭顱內部密度較低，因此在進行頭顱掃描檢查時，通常會采用降低管電流、電壓、加大螺距、減少掃描次數等方法減少輻射劑量。有研究指出，對新生兒低血糖腦損傷患兒進行多排螺旋CT 檢查可清晰地觀察到其腦部結構及相關改變情況[8-10]。研究表明，多排螺旋CT 在新生兒低血糖腦損傷診斷中的應用價值較高，具有診斷效率高、應用安全性高、操作簡單方便、掃描速度快、成像結果清晰等優點，能夠為臨床干預新生兒低血糖腦損傷提供依據，進而可減少患兒因治療不及時產生的腦癱、智力低下等后遺癥，改善其預后[11-13]。本研究的結果顯示，用多排螺旋CT 診斷40 例患兒病情的準確率為95.00%（38/40）。這說明，多排螺旋CT 對新生兒低血糖腦損傷的診斷效果較好。

綜上所述，多排螺旋CT 在新生兒低血糖腦損傷診斷中的應用價值較高。此法值得在臨床上推廣應用。