兩相流稀相微粒速度場測量技術研究
2003-04-29 01:43:21宮武旗張義云姜滑席光
西安交通大學學報 2003年7期
宮武旗 張義云 姜 滑 席 光
摘要:通過引入粒子計數法,對基于二進制圖像分析算法(BICC)的粒子圖像速度場儀(PIV)的粒子圖像跟蹤技術進行了改進.數值模擬了3個典型的兩相流稀相微粒流場,即等線速度旋轉流場、旋渦流場和兩個相向運動的射流匯合流場,并把改進后的微粒跟蹤技術用于模擬流場中粒子對的識別研究.結果表明:改進后的方法能很好地識別與跟蹤粒子對,計算速度快,準確率高達97%,適用于兩相流稀相微粒速度場的測量;隨著粒子對數目的增大,相關系數降低;隨著粒子半徑的減小,相關系數分布漸趨陡峭;最佳粒子對數目為8~12,最佳粒子圖像半徑為3~8像素.
關鍵詞:粒子圖像速度場儀;粒子對識別;兩相流
中圖分類號:TB126.8文獻標識碼:A文章編號:0253-987X(2003)07-0734-04
