提高瞬態電流自動測試生成時間效率的方法

摘要：瞬態電流測試可以檢測一些用電壓測試和穩態電流測試不能檢測的故障。對每一個故障都進行一次測試生成所花費的時間太多，而且沒有必要。針對用瞬態電流測試來檢測晶體管開路故障（Stuckopen Fault），研究精簡故障數目，提高測試生成效率的方法。通過從靠近電路原始輸出端向原始輸入端逐漸進行測試生成以及其他一些辦法，可以明顯提高測試生成的時間效率。模擬實驗結果表明，測試生成算法執行時間大約減少了70%。

關鍵詞：測試生成；開路故障；可控制性；CMOS數字電路

中圖法分類號：TP311

文獻標識碼：A

文章編號：1001-3695(2006)06-0082-03