石英晶體微天平在聚合物薄膜研究中的應用與展望
2010-04-12 00:00:00杜濱陽范瀟曹崢郭小磊
分析化學 2010年5期
摘 要 石英晶體微天平儀（QCM）具有高度的靈敏性，能夠對石英晶片表面微痕量物質的變化產生響應，在分析科學研究中廣泛應用。本文闡述了QCM的基本工作原理和應用基礎方程，并在此基礎上綜述了近年來QCM在聚合物薄膜研究中的應用及研究進展，包括QCM對聚合物薄膜的厚度和力學性能的測量、QCM研究聚合物分子鏈在石英晶片表面的吸附過程和鏈構象變化、表面引發生長聚合物刷的動力學過程、基于功能聚合物薄膜和QCM的生物與化學傳感器等，同時對QCM在聚合物薄膜研究領域的進一步深入應用進行了展望。
關鍵詞 聚合物薄膜; 石英晶體微天平; 評述
