郭昆峰,劉剛
(上海特安一凱軸承有限公司,上海 201202)
符號說明
B2——內圈擋邊厚度
C2——外圈擋邊厚度
E——滾道寬度
Lc——保持架兜孔長度
S——保持架兜孔底面至基準端面的公稱厚度
VB2mp——內圈擋邊直線度
VB2s——內圈擋邊寬度的變動量
VC2mp——外圈擋邊直線度
VC2s——外圈擋邊寬度的變動量
VS1——保持架單個兜孔底高變動量
VSs——保持架兜孔至基準端面的厚度變動量
圓柱滾子軸承套圈擋邊和滾道寬度的尺寸公差一般采用樣板進行檢測。擋邊的形位公差一般通過扭簧表上安裝的彎表尖在高度儀器上測量。這些測量方法的局限性在于:
(1)不同的加工工序和軸承型號均需要不同的樣板,通用性差,需要配備大量的樣板,不僅成本高,而且管理繁瑣。
(2)樣板測量的是范圍值,不是確切的數值。當被測零件尺寸超出樣板的大、小極限,如出現過磨或欠磨時,不能準確判斷工件尺寸的具體數值。
(3)產品設計時,VB2s和VC2s的基準面是套圈的基準端面。而實際測量時,非基準擋邊的測量基準是非基準端面。設計基準和測量基準不統一。
(4)擋邊的尺寸公差和形位公差采用2種測量方法,檢驗效率低。
圓柱滾子軸承整體孔實體保持架在測量兜孔Lc,S時多用卡尺或塞規。測量VSs,VS1是在扭簧表安裝彎表尖后,在高度儀器上測量。采用塞規測量時,同樣存在規格多的問題。在測量非基準端面一側的VS1時,同樣存在設計基準和測量基準不統一的問題。
簡易測量儀是傳遞垂直方向位移的機構,其結構如圖1所示。

1—固定塊;2—儀器平臺;3—下表鉤;4—上表鉤;5—下卡簧;6—下壓縮彈簧;7—上壓縮彈簧;8—上卡簧;9—圓千分表;10—內六角螺釘;11—導向基座;12—滑動基座;13—封閉片;14—銅導向塊;15—導向桿
上表鉤測量向下的平面,下表鉤測量向上的平面。滑動基座下部凸臺的2個通孔與表鉤的桿部間隙配合,表鉤在豎直方向滑動。上卡簧與滑動基座下部凸臺之間的上壓縮彈簧給表鉤施加向上的力;下卡簧與滑動基座下部凸臺之間的下壓縮彈簧給表鉤施加向下的力。兩個彈簧的力方向相反、大小相同,表桿垂直懸浮于某一原點。導向桿一端嵌入測量表桿,另一端伸入銅導向塊的垂直通槽,兩者為間隙配合。導向桿隨表桿在銅導向塊的通槽內上、下滑動,既不影響表桿豎直滑動,又限制了表桿的圓周轉動?;瑒踊喜客古_用于緊固圓千分表,表鉤頂部和圓千分表的測頭接觸,傳遞垂直位移。
導向基座通過螺釘和固定塊固定在儀器平臺上?;瑒踊巢坑写怪钡陌夹螌虿?。導向基座有垂直的導向凸臺,凸臺正中有垂直的通槽?;瑒踊陌疾酆蛯蚧耐古_為間隙配合,引導滑動基座垂直移動。內六角螺釘穿過導向基座的通槽與滑動基座連接,可將滑動基座固定在導向基座上任意高度,以調整表鉤測點的位置。
簡易測量儀采用對比測量法,需要一個標準塊,該標準塊的尺寸與被測工件相同或相近。如圖2所示,A為下平面與基準平面的距離;E1為上平面與下平面的距離;E2為上平面與基準平面的距離。

圖2 標準塊
測量時,先調整左、右滑動基座的高低,用標準塊對表,使滑動基座固定后,上、下表鉤從自由懸垂位置移動很小的位移即可達到測量位置;然后調整導向基座、測量工件、V形叉(或擋塊)的相對位置,使表鉤位于工件的測量部位;再用標準塊校核零位,即可測量工件。
內圈的測量如圖3所示,外圈的測量如圖4所示。將套圈旋轉一周以上,可直接讀取B2,C2,VB2s,VC2s和E的數值。沿兩表鉤中線方向水平推拉套圈,可得擋邊的VB2mp,VC2mp。

圖3 內圈測量示意圖

圖4 外圈測量示意圖
保持架測量的調整類似于內圈的調整。測量方式如圖5所示。測頭伸入兜孔,可測量S,Lc和VSs。旋轉保持架,使測頭從單獨的兜孔內一側移動到另一側,可讀取VS1。

圖5 保持架測量示意圖
相對于常用的測量方法,該簡易儀器有以下優點:
(1)僅需要一個標準塊,即可檢測單個零件的擋邊車、磨加工。如果尺寸相同,不同型號軸承的標準塊可以通用,省去了大量樣板,節約了生產成本。
(2)通用性較強,測量范圍大。通過調節滑動基座的高低,可以調整儀器的測量范圍,以測量不同的尺寸段。
(3)可以同時檢測多個檢驗項目,節約了檢測時間,提高了工作效率。
(4)相對于樣板而言,簡易測量儀可以直接得到被測表面的尺寸數值,量化了測量數據。可以用來測量加工余量,方便加工人員調整機床。
簡易測量儀的局限性在于,測量外圈擋邊時測量儀位于套圈內部,所以被測外圈的外內徑尺寸必須大于簡易測量儀的外形尺寸,否則不能測量。
該簡易儀器測量操作簡單,調節方便,測量范圍大,節約成本;可同時測量多個項目,提高了檢測效率。使用該儀器可以得到量化的測量數據,是一種簡單有效的測量儀器。