羅俊鋒 北京有色金屬研究總院有研億金新材料股份有限公司,北京102200
稀貴金屬在磁記錄靶材中的應用
羅俊鋒 北京有色金屬研究總院有研億金新材料股份有限公司,北京102200
鉑與釕金屬作為磁記錄靶材中重要的稀貴金屬,隨著磁記錄靶材的發展用量逐漸增加。本文概述了磁記錄靶材市場的發展狀況,并闡述了鉑與釕相關靶材的應用與制備方法。
磁記錄靶材;CoCrPt;Ru靶
隨著信息技術與信息產業的迅速興起,特別是多媒體計算機網絡在全球的延伸和普及,人們需要存儲、處理和傳遞的信息量呈現幾何級數式急劇增長,由此帶動了信息存儲技術的高速發展。自從1990年磁阻磁頭技術在磁記錄領域的應用,增長速度跳升為每年60%;1998年IBM公司將巨磁阻磁頭技術在硬盤產品中推向應用,更使得硬盤存儲密度以驚人的每年100%速度增長。未來的5~10年,垂直記錄將會成為未來硬盤行業的主流技術,不同廠商過渡到這項新技術上順利程度,將會決定未來10年內硬盤業界的新格局。
近幾年,人們對高清電影和大型3D游戲的熱愛將導致高容量硬盤需求持續增加。根據CMIC近幾年的數據,移動存儲器增幅更大,2005年從400萬臺至2008年1200萬臺,每月平均銷量100萬臺,短短4年間,增長超過300%,是電腦周邊設備增長最快的產品之一。包括用于PC和存儲服務器的硬盤在內,預計2011年電腦硬盤銷售額將達281億美元。雖然這比2010年的270億美元增長4.1%,但增幅遠低于去年的7.0%。2010~2015年,電腦硬盤銷售額的復合年度增長率將為3.5%,2015年銷售額將達到400億美元以上。對于硬盤,幾乎50%的成本為材料,因此相關材料的使用也將增加。對于磁記錄靶材,銷售額將達到70億美元,中間層材料達到80億美元,基層材料達到50億美元。國內部分企業可以提供釕靶,純度通常在99.95%,密度在95~98%以上,而國外高端釕靶的純度要在99.99%,密度達到99%以上。目前國際上磁記錄靶材主要競爭者情況如下:

表1 磁記錄靶材生產企業及靶材的種類
鉑和釕作為兩個重要的稀貴金屬應用非常廣泛,在半導體中這兩種金屬是重要的歐姆接觸用貴金屬材料,還用作集成電路用布線和電極材料、貴金屬硅化物及金屬化系統、化合物半導體材料等。由于具有良好的磁性能和熱穩定性,這兩種材料還作為靶材用于磁記錄領域。CoCrPt合金是磁記錄介質中的重要材料,添加SiO2可以起到分散CoCrPt晶粒,提供與垂直磁各向異性耦合的絕緣良好的細晶粒結構,以獲得用于PMR的磁介質疊層的粒狀磁層中的低介質噪音性能和高熱穩定性,增大垂直磁記錄容量[1]。
釕金屬是垂直磁記錄多層膜結構中無法替代的重要材料,釕靶隨著硬盤、CD-RW等市場的發展需求量日益增長。此外,釕金屬還可用于半導體存儲器的電容器用電極材料。Ru層在磁記錄結構中的主要作用為[2]:(1)減小上下層之間晶格失配應力;(2)增加熱穩定性;(3)降低復式結構的剩磁面密度。此外,通常的CoCrPt系列磁記錄材料為獲得高矯頑力和低噪聲,在濺射鍍膜過程中一般需要加熱襯底以獲得一定的易軸取向。襯底加熱會導致晶粒尺寸增大、層間界面混合,且不能用于不耐熱的襯底材料。為此,在緩沖層與單層CoCrPt記錄層之間加入Ru底層,通過改變Ru底層厚度來調節CoCrPt記錄層矯頑力。
對于CoCrPt—氧化物濺射靶材,在靶的制備過程中由于成分不均勻,靶內會存在高Cr的粒子,這些粒子在濺射時從靶表面可能發生脫落,從而容易導致結節和電弧放電。所以,在制備CoCrPt-SiO2靶材時要減少成分的不均勻性,主要方法是提高靶材的密度,還要在制備前將粉末混合均勻,因此制備CoCrPt-SiO2靶材的關鍵是混粉的工藝與熱壓工藝。三井株式會社(2007年)專利[3]中采用霧化法將CoCr制備成粉末,然后與SiO2和Pt粉末進行混合。靶材的成型工藝采用了熱壓和HIP法制備。
對于Ru靶,影響濺射性能的主要因素是純度和致密度。釕金屬作為半導體電容器的電極材料使用時,需要對堿金屬元素、放射性元素和某些過渡金屬元素控制。這是因為堿金屬離子(Na+、K+)易在絕緣層中成為可移動性離子,可向PN結構和絕緣層擴散滲透,而薄膜工藝制作的各種結構易于被穿透,導致元件工作的控制性受損。U、Th等放射性金屬元素,是影響集成電路工作可靠性的重要因素。Fe、Ni、Co、Cr、Cu等過渡金屬是產生界面能級,造成結合界面泄漏電阻的原因,引起電阻率的變化。另外,氣體雜質C、O、N損壞膜的穩定性,造成膜的電阻上升,應降低含量。
釕金屬由于熔點高,脆性大,不適合采用熱機械加工。釕靶材通常采用粉末冶金的方法制備,通過對專利的調研發現Ru靶的制備主要有三種,分別為鑄造法、真空熱壓法和熱等靜壓法,具體如下:
1) 日本能源公司(2000年)[4]通過真空熱壓的方法制備了Ru靶,模具為石墨模具,熱壓溫度為1500~2000℃,壓強為18~35MPa,保壓1~5個小時,真空度為10-1mbar,即10-3MPa,通過這個方法,Ru靶的密度至少可以達到98%,當溫度低于1500℃時,密度很難達到98%,當溫度高于2000℃時,由于造成設備的過渡磨損和消耗,因此工業生產時都是低于2000℃。另外,壓力越高密度越大,通常達到18MPa就可以了,由于模具的強度所限,最高為35MPa。熱壓溫度至少要1h,這樣才能保證足夠的密度,但是不用達到5h,因為這并不能增加性能。
2) 日礦金屬株式會社(2009年)[5]通過鑄造的方法制備了Ru合金靶。除了Ru以外還含有15-200PPM的Pt族元素,制備過程為首先將粉末混合,然后進行加壓成形得到成形體,將該成形體進行電子束熔化得到錠,并且對該錠進行鍛造加工從而得到靶。一般鍛造溫度高則晶粒變大,因此為了實現晶粒微細化,鍛造溫度低為好,過低則難以加工。因此溫度為1400~1900℃的范圍內進行鍛造,超過1900℃,則出現液相,組織變得不均勻,因此不優選。另外,如果低于1400℃,則變硬而使鍛造困難。濺射實驗發現含有Pt族元素的靶比1500℃濺射的純Ru靶濺射的晶粒小。
3) BODYCOTE IMT 公司[6]利用熱等靜壓法制備了低氧含量(<200ppm)的Ru靶,均勻混合的粉末首先通過冷等靜壓或者機械加壓成形,然后通氫還原,裝入包套,接著進行熱等靜壓,最后進行加工。通氫還原是為了降低氧含量。還原爐的溫度在500~3800F(260~2093.3℃)壓力為1000psi,裝入包套之后,進行循環熱等靜壓溫度在500~3800F(260~2093.3℃)壓力為5~50psi,時間為1~24小時。
目前國內用于垂直磁記錄的Ru靶主要依靠進口,CoCrPt-SiO2靶材的研發更是空白,這還需要研發人員從產品的純度、生產的效率以及成本等方面進行考慮,并進行多方面的合作,為國內外用戶提供高質量的濺射靶材而努力。
[1]Hiroaki Nemoto1, Ryoko Araki, and Yuzuru Hosoe. Pt-Cr Alloy Intermediate Layer for CoCrPt-SiO2 Granular Perpendicular Recording Media[J]. IEEE TRANSACTIONS ON MAGNETICS,2006,42(10):2 3 3 6-2 3 3 8
[2]張愛國,王蔭君,韓秀峰,等.C r/R u/PtCo/Ru/PtCo/Ru介質中底層Ru厚度對磁記錄特性影響的研究[J]. 物理學報.2005,54(4):1 8 3 1-1 8 3 4
[3]加藤和照,林信和,等.CoCrPt系濺射靶及其制造方法[P]. Patent No.: CN 101495667A
[4]Yuichiro Shindo, Tsuneo Suzuki. Process for Producing High-purity Ruthenium [P]. Patent No.:6036741
[5]Kunihiro Oda, Ibaraki. Ruthenium-alloy Sputtering Target[P].Patent No.: US2009/0114535
[6]Paul Tylus, Daniel Zick, and Jonathan Hall.Fabrication of Ruthenium and Ruthenium Alloy Sputtering Targets with Low Oxygen Content.[P]. Patent No.: WO2007/062089A1
10.3969/j.issn.1001-8972.2011.18.013