小電壓電源噪聲的測量

當(dāng)今的電子產(chǎn)品，信號速度越來，越快，集成電路芯片的供電電壓也越來越小，90年代芯片的供電通常是5v和3.3V，而現(xiàn)在，高速Ic的供電通常，為2.5V，1.8V或1.5v等等，供電電壓越小，對電壓的波動要求也就越高。對于這類電壓較低的直流電源的電壓測試簡稱電源噪聲測試。

影響電源噪聲測試結(jié)果的主要因素

影響電源噪聲測試結(jié)果的主要因素有：在電源噪聲測試中，通常有如下幾個問題導(dǎo)致測量不準(zhǔn)確。

是否需要增加20MHz的濾波

過去我們在進(jìn)行電源紋波測試過程中，由于電源導(dǎo)致的噪聲頻率通常比較低，因此通常默認(rèn)需要加20MHz的濾波，目的是濾除高于20MHz以上的噪聲，來驗證主要由于電源因素引起的噪聲大小。但是在實際情況下，往往還需要驗證在所有頻段上電源上的噪聲情況如何，因此我們需要提前弄清楚是否需要增加20MHz的濾波。如下圖所示為某DDR2/DDR3對電源紋波的要求：

量化誤差

示波器存在量化誤差，通常實時示波器的ADc為8位，把模擬信號轉(zhuǎn)化為2的8次方(即2s6個)量化的級別，當(dāng)顯示的波形只占屏幕很小一部分時，則增大了量化的間隔，減小了精度，準(zhǔn)確的測量需要調(diào)節(jié)示波器的垂直刻度(必要時使用可變增益)，盡量讓波形占滿屏幕，充分利用ADC的垂直動態(tài)范圍。在圖3中藍(lán)色波形信號(c3)的垂直刻度是紅色波形(C2)四分之一，對兩個波形的上升沿進(jìn)行放大(F1=ZOOM(c2)，F(xiàn)2=ZOOM(c3))，然后對放大的波形作長余輝顯示，可以看到，右上部分的波形F1有較多的階梯(即量化級別)，而右下部分波形F2的階梯較少(即量化級別更少)?！?br>