業(yè)界首臺(tái)變陣列渦流檢測(cè)儀（VAECT）問世

2012年7月，由愛德森（廈門）電子有限公司獨(dú)創(chuàng)的世界首臺(tái)變陣列渦流檢測(cè)儀（variable array eddy current testing，簡(jiǎn)稱變陣渦流）問世。該儀器具有獨(dú)創(chuàng)的128通道任意激勵(lì)／接收變換掃描功能，可根據(jù)檢測(cè)要求隨意設(shè)置變換掃描法則，可以快速精確地檢測(cè)出任意方向缺陷，單元檢測(cè)最高精度達(dá)20μm，大大超過了此前業(yè)界30μm的極限精度。該功能可進(jìn)一步擴(kuò)展至漏磁和磁記憶、聲阻抗的點(diǎn)、線、面陣列調(diào)控。

該獨(dú)創(chuàng)的功能改變了目前業(yè)界較為單一的陣列渦流掃描功能，使陣列渦流具有了與超聲相控陣一樣的可變、多樣、多重性能，形成點(diǎn)、線、面的多頻掃描能力。通過變頻手段，改變渦流在金屬表面的集膚深度，檢測(cè)范圍、速度、精度都得到了進(jìn)一步的提高。該功能具有自主知識(shí)產(chǎn)權(quán)，功能定義也將寫入相關(guān)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)中。

附：術(shù)語定義

變陣渦流檢測(cè)

variable array eddy current testing

點(diǎn)、線、面陣列渦流探頭中各陣元線圈激勵(lì)／接收方式可以改變的一種陣列渦流檢測(cè)技術(shù)。

變陣渦流掃描規(guī)則

variable array eddy current scanning rule

根據(jù)檢測(cè)要求，采用電子切換技術(shù)改變和控制陣列渦流探頭中每個(gè)陣元的激勵(lì)順序及頻率、強(qiáng)度、濾波等參數(shù)的激勵(lì)／接收方式。