陳利安,肖明清,禹 航
(空軍工程大學自動測試系統實驗室,710038)
空空導彈是現代空戰中最重要的武器之一。它必需通過導發架發射,因此,導發架功能的好壞會直接影響空空導彈能否正常發射,進而可能影響戰局。某型導發架內部的115V三相400Hz電源,用以給某型導彈供電。電源性能的好壞,將直接影響導彈能否正常工作。相序不正確,將可能導致陀螺轉向改變,造成嚴重后果[1]。因此,測試導發架電源的性能有重要意義。
在以往測試中,各相電壓主要利用萬用表測試,相序需要用示波器測量,測試頻率需要用計數器,需要的測試資源多,測試效率低,且不能實現自動測試。文中利用C8051F410設計了一種三相鑒相電路板,分別測試其內部電源的相序、各相電壓和各相頻率;并能將測試結果通過RS422通訊方式發送給上位機。經驗證,誤差在2%以內,測試精度高,且提高了測試效率。
某型發射架中的三相電源,標準幅值為115V(有效值),頻率為400Hz,相角相差120°。設此三相電源的數學表達式為:

其中:Qmax為最大幅值;ω為角頻率。各項指標如下[1]:
1)各相電壓幅值(有效值):110V、120V;
2)頻率:395~405Hz;
3)相序要求是正序(A→B→C)。
系統的總體結構如圖1所示。待測三相電源通過繼電器引入,分成3組,分別測試電壓、頻率和鑒別相序。上位機與單片機(C8051F410)之間采用RS422方式通訊。為簡化電路設計,所選用的單片機內部集成AD轉換器。

圖1 系統總體設計框圖
根據系統設計要求,單片機采用Silicon Labs公司的C8051F410。它是完全集成的低功耗混合信號片上系統型MCU,支持非侵入式的在系統調試接口,12位200ksps的24通道ADC,帶模擬多路器開關和增強型UART等[2],為方便本系統設計。
真有效值轉換芯片選用ANALOG DEVEICES公司的 AD536AKN,它是一種交直流轉換芯片。在±15V電源供電時,轉換后的直流電壓范圍是 0~7V[3]。
與上位機通訊采用RS422通訊方式,RS422芯片選用 MAX485[4]。
2.2.1 分壓電路
在以往的測試中,主要利用萬用表,示波器、計數器等測量,可不經過分壓,直接測試,但是不利于組建自動測試系統。由于AD536AKN的電壓轉換范圍限制,應在交直流轉換前作分壓處理。采用的分壓電路如圖2所示。

圖2 分壓電路
R1、R2選用高精度電阻,減少誤差。R1選220kΩ,R2選10kΩ,設合格電壓為 Vs,待測電壓為Vx,在輸出端得到的電壓值為:

由于AD536AKN的直流電壓轉換范圍是0~7V,因此,可測Vx的范圍是0~147V,包含合格電壓Vs。
2.2.2 交直流轉換電路
用分壓電路的輸出作為本級輸入,采用AD536AKN的標準連接電路,如圖3所示。其中R3是可調電阻。轉換后的值輸出到C8051F410的IO口,本設計中選擇 C8051F410 的 P0.0~P0.2。

圖3 交直流轉換電路
調整輸入電阻R3,在115V輸入時,使Vin端輸入電壓為4V。在本系統中,選擇參考電壓為+5V,根據電路的線性性:

因此,可測Vx的范圍是0~143.75V。滿足系統設計要求。
2.2.3 相序判定電路
某導發架內部三相電源如圖4所示,各相分別為正弦周期信號。

圖4 某導發架內部三相電源示意圖
相序判定主要利用的器件是比較器和D觸發器,結果正確時,輸出低電平,同時LED燈點亮。結果錯誤時,輸出高電平,LED不點亮。如圖5所示。
相序正確時,A、B、C待測三相經過比較器后,形成脈沖序列如圖6所示。

圖5 相序判定電路

圖6 相序正確時序圖
根據D觸發器的狀態轉移特性,在時鐘信號CLK為低電平時,D觸發器的輸出端 Q保持不變,當CLK為高電平時,它的轉移特性如圖7所示[5]。
時鐘信號為B相,當相序正確時,由圖5可看出,經或非門(U12A)輸出為低電平。
若相序錯誤,如B相與C相順序錯誤,則表達式變為:


圖7 鐘控D觸發器狀態轉移圖
經過比較器后,產生的時序如圖8所示。

圖8 相序錯誤時序圖
2.2.4 測定頻率
頻率測試點從比較器的輸出端引出,直接連接至C8051F410的IO口,利用MCU內部計數器測量。本設計中,選擇 P0.6 和 P0.7。
軟件流程如圖9所示。系統開機進入等待命令模式,握手成功后,可接收主機發送的命令選擇測量電壓、監測相序和測量頻率。
在實際電路中,A相、B相和C相進行交直流轉換后,分別連接至單片機的P0.0~P0.2口。在C8051F410內部進行AD轉換,將轉換后值換算成實際值。參考電壓選用C8051F410內部參考電壓5V,因此調整圖4交直流轉換電路中的R3,使輸出電壓為4V。
在這個過程中,最重要的工作是如何將單片機中AD采集到的值與實際值對應起來,在本設計中采用的方法是分區間設定轉換系數的辦法。
轉換系數的依據是利用電路的線性性。本電路的工作在常溫狀態下,因此系數在常溫下測得。具體方法是:
1)首先給本電路板輸入不同的電壓值,用精確電壓表測得電壓,記錄在矩陣M中。
2)在交直流轉換的輸出端測得對應電壓,記錄在矩陣N中,以下是示例,在實際應用中應增加取樣數,提高精度。
M=[110.0111.2113.9115.3118120.6 122.3];N=[3.83 3.87 3.96 4.02 4.11 4.20 4.26]。
3)用矩陣M中的值除以對應N矩陣中的值,得到矩陣Q:
Q=[28.70 28.70 28.74 28.68 28.69 28.7128.70]
4)對矩陣Q分區間,求得各區間的平均值矩陣R。
在實際程序中,分為100~110;110~113;113~117;117~120;120~125共5個區間。若測出值不在此區間內,直接回錯誤代碼0xFF。利用在此條件下得到的N矩陣作為程序判斷區間的依據,由此得到系數矩陣。在單片機AD轉換后,先判斷區間,乘以相應的轉換系數,就可得到實際值。

圖9 軟件流程
測頻率時用到兩個定時器,定時器1定時,定時器2計數。使定時器1中斷,取出定時器2中的數值保存,并清空定時器2。為提高測試精度,采用多次測量求平均值辦法,將每5s鐘測量出的5個值平均,減小誤差,各相頻率依次測量,每相分配時間30s。
相序判定已經由硬件實現,在軟件中要做的是直接讀IO口,高電平表示相序錯誤,低電平表示相序正確。
采用RS-422通訊,它是一種平衡傳輸規范,數據信號采用差分傳輸方式[6]。在本設計中,定義了上位機發送命令字格式和鑒相板回發字格式。
文中所述設計已投入實際應用,結果表明,幅值誤差在2%以內,頻率誤差在0.5%以內,相序測量正確,結果可信。提高了測試效率,有利于組建自動測試系統。
[1]肖明清.某型導彈系統引論[M].西安:空軍工程大學工程學院,2007.
[2]Silicon Labs.C8051F410技術手冊[OL/M].http://download.csdn.net/tag/c8051f/orderbypubdate/28.
[3]ANALOG DEVICES.True RMS-to-DC Converter AD536A 技術手冊[OL/M].http://www.datasheetcatalog.org/datasheet/analogdevices/320060823AD536A_b.pdf
[4]MAXIM.MAX485技術手冊[OL/M].http://www.waveshare.net/datasheet_pdf/MAX485-PDF.html.
[5]IEEE.422 通訊規范[OL/S].http://standards.ieee.org/.2011.
[6]王毓銀.數字電路邏輯設計(脈沖與數字電路)[M].3版.北京:高等教育出版社,2002.