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基于多頻測試和神經網絡的模擬電路故障診斷

2013-08-24 00:43:34梁海浪
計算機工程與應用 2013年5期
關鍵詞:故障診斷故障

王 承,葉 韻,梁海浪,何 進

北京大學 深港產學研基地 深圳市系統芯片設計(SOC)重點實驗室,廣東 深圳 518057

1 引言

模擬電路故障診斷一直是一項富有挑戰性的研究課題,客觀世界信號的本質決定了模擬電路的普遍性和不可替代性。關于模擬電路故障診斷及測試信號選取的算法和理論研究[1]至今未取得突破性進展,是由其本身特性所決定的,即:輸入輸出均是連續量、復雜的故障模型、元器件容差、非線性及反饋的存在[2]。而神經網絡具有非線性映射、學習推理等優點,適合模擬電路故障診斷,具有發展前景。

近年來,眾多學者從故障特征提取和神經網絡兩個角度,進行模擬電路故障診斷研究,并取得了顯著進展。在特征提取方面,文獻[3-5]利用主元分析、小波變換和信息融合等方法提取故障特征,分別對線性和非線性模擬電路進行故障診斷技術研究;在神經網絡方面,文獻[6-8]利用多層感知機、徑向基函數、小波神經網絡等,進行故障分類和識別。但上述工作,對測試激勵(測試矢量)生成涉及較少,采用的測試激勵帶隨機性,缺少理論指導。這為多頻測試的應用提供了發展契機,開展模擬電路測試矢量生成研究,具有積極的意義。

多頻測試是用不同頻率(測試頻率點集)的正弦信號激勵待測電路,通過觀測預先選定測試節點的輸出信號幅值,亦即故障電路與正常電路、不同故障電路之間的輸出響應不同,從而降低和簡化模擬電路故障分類和識別的難度。

電子設備發生單故障的概率是故障總數的70%~80%,且一些多故障往往又是相互聯系的,因此也可當作單故障處理。為論述方便,本文主要考慮模擬電路的單故障測試。通過靈敏度分析指導多頻測試矢量生成,選擇最優測試激勵,使得電路的狀態差異顯著;然后在考慮元件容差情況下,利用神經網絡融和各測試節點的故障信息,實現對故障器件的檢測和定位。實驗證明該方法取得了較為理想的效果。

2 多頻測試

多頻測試是指應用不同頻率的正弦信號激勵待測電路,使得故障電路和正常電路輸出的差異顯著。多頻測試矢量即為測試頻率點的集合。靈敏度分析是一種有效的模擬電路故障診斷方法[9-10],應用靈敏度分析選擇多頻測試頻率,獲得最佳多頻測試矢量,可使得正常輸出 y(t)和故障輸出 y′(t)的差異顯著,即方差 [y(t)-y′(t)]2最大。

被測電路元件的故障診斷方程由所選可測試點的網絡傳遞函數組成,如式(1)所示:

其中,P=[p1,p2,…,pr]T是潛在故障向量,K是測試節點數,系數a和b均為電路元件參數的函數。

靈敏度分為微分靈敏度和增量靈敏度。微分靈敏度適用于軟故障診斷,是一種有效的解決方案,計算公式為:

多頻測試矢量生成的步驟如下:

步驟1計算測試點的網絡傳輸函數。

步驟2通過靈敏度分析,計算出各測試節點的靈敏度方程。

步驟3畫出各測試節點的靈敏度曲線圖。

步驟4計算靈敏度曲線極值點處的頻率,獲得所需多頻測試矢量。

3 仿真實驗

以 BPSVF(Band Pass State Variable Filter)電路為診斷實例,如圖1所示。各個參數元件的標稱值已經給定,容差均為5%。其中,R1=182Ω,R2=11.1 kΩ,R3=100 kΩ,R4=916Ω,R5=1 kΩ,R6=10 kΩ,R7=10 kΩ,R8=440Ω,R9=2.64 kΩ,R10=5.41 kΩ,R11=1 kΩ,C1=C2=0.01 μF。

圖1 BPSVF電路

3.1 多頻測試矢量生成

對圖1電路,進行可測性分析:選定最佳測試節點集①③④⑤;確定待診斷故障元件為:{G2,G5,G6,C1,C2}。根據多頻測試矢量生成步驟,畫出各測試節點的靈敏度曲線圖(如圖2至圖5所示)。

圖2 測試節點①

圖3 測試節點③

圖4 測試節點④

圖5 測試節點⑤

從圖2~5中,計算靈敏度曲線極值點處的頻率,獲得所需多頻測試矢量(如表1所示)。

表1 測試點與多頻測試頻率1)

根據表1,獲得所需多頻測試矢量集合:

ω={1.3E5,0.6E5,1.8E5,1.9E5,2.0E5}(單位:rad/s)

通過分析和壓縮,當ω=1.8E5 rad/s,完全可以檢測并能識別出上述故障。

與文獻[11]相比,本文方法所需測試矢量只有原來的20%,從而提升了電路測試的時間和效率。

3.2 故障診斷

為驗證測試矢量對故障元件的實際診斷效果,令Vin=sin(1.85E5 ·t),各待測元件的故障值:R?i?(i=2,?5,?6)為 ±40%,C j?(j=1,?2)為 ±50% ,即為:R?i↑ 和 R?i↓ 、C j↑ 和 C j↓ ,共計有10種故障模式。

從測試節點提取輸出波形的波峰和波谷值,即VmH和VmL(m=1,?3,?4,?5),作為故障特征信息。將四個測試節點①③④⑤的故障特征信息進行信息融和,形成對應故障模式的8維故障特征向量:

其中,i=1,2,…,10;?j=1,2,…,30 。

對應的故障特征向量與故障模式構成神經網絡的輸入和輸出序列,形成電路所需的樣本集。為此構建兩個樣本集:訓練樣本集和測試樣本集。對每一種故障模式進行30次Monte-Carlo分析,其中20次為訓練樣本,構成訓練樣本集;10次為測試樣本,構成測試樣本集。

應用BP神經網絡對實驗電路進行故障診斷,采用BP算法的啟發式改進方法,即加動量修正法。經多次調整后,神經網絡結構為8-8-15-10,學習速度0.25,動量因子0.80,網絡經過4 390次訓練調整后達到期望的均方誤差值0.015。為檢驗經過訓練的神經網絡的故障診斷能力,分別使用訓練樣本集和測試樣本集對網絡進行測試,詳見表2。

表2 BP網絡的故障診斷結果

從表2可知,訓練模式與測試模式的平均正確率達94%,故障診斷正確率高。證明所選擇的測試矢量對電路故障診斷是行之有效。

為驗證本文方法的有效性,采用文獻[12]掃頻分析進行仿真和驗證,相關數據為:提取的故障特征值28個,神經網絡結構28-30-45-33,訓練次數10 460,均方誤差值0.015;網絡的故障診斷效果,訓練模式和測試模式的平均正確率僅為54%。由此可見,本文方法的效果十分顯著,與文獻[12]的方法相比:網絡結構簡化了31%;訓練次數減少為42%;故障識別率提升了74%。

4 結束語

本文提出一種多頻測試和神經網絡的故障診斷方法,從測試矢量生成到測試響應分析,進行了系統全面的闡述:利用靈敏度分析選取測試頻率和測試矢量壓縮,對故障特征信息進行融合,最后應用神經網絡實現故障檢測和診斷。對電路仿真結果表明,該方法是行之有效的,對大規模模擬電路測試亦有一定借鑒作用。

[1]Duhamel P.Automatic test generation techniques for analog circuits and systems:a review[J].IEEE Trans on Circuits Syst,1979,26(7):411-439.

[2]Yuan Lifen,He Yigang,Sun Yichuang,etal.A new neural-networkbased fault diagnosis approach for analog circuits by using kurtosis and entropy as a preprocessor[J].IEEE Transactions on Instrumentation and Measurement,2010,59(3):586-595.

[3]張超杰,賀國,梁述海.小波變換與主元分析相結合的模擬電路檢測方法[J].哈爾濱工程大學學報,2010,31(5):570-575.

[4]袁海英,禹礻陳光,謝永樂,等.基于非線性電路頻域核估計和神經網絡的故障診斷[J].控制與決策,2007,22(4):473-476.

[5]王承,禹礻陳光,謝永樂.基于神經網絡信息融合技術的模擬電路故障診斷[J].電路與系統學報,2007,12(5):25-29.

[6]王承,禹礻陳光,謝永樂.多層感知機在模擬/混合電路故障診斷中的應用[J].儀器儀表學報,2005,6(3):578-581.

[7]王承,禹礻陳光,謝永樂.基于徑向基函數神經網絡的模擬/混合電路故障診斷[J].電路與系統學報,2007,12(2):25-29.

[8]Aminian M,Aminian F.Neural-network based analog-circuit fault diagnosis using wavelet transform as preprocessor[J].IEEE Transactions on Circuits and Systems II:Analog and Digital Signal Processing,2000,47(2):151-156.

[9]Hamida N B,Kaminska B.Analog circuit testing based on sensitivity computation and new circuit modeling[C]//International Test Conference.Washington,DC,USA:IEEE Computer Society,1993:652-661.

[10]Slamani M,Kaminska B.Analog circuit fault diagnosis based on sensitivity computation and functional testing[J].IEEE Design&Test of Computers,1992,9(1):30-39.

[11]Slamani M,Kaminska B.Fault observability analysis of analog circuits in frequency domain[J].IEEE Transactions on Circuits and Systems II:Analog and Digital Signal Processing,1996,43(2):134-139.

[12]王承,禹礻陳光,謝永樂.多層感知機在模擬/混合電路故障診斷中的應用[J].儀器儀表學報,2005,26(6):578-581.

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