據報道,NIST納米科學與技術研究中心 (CNST)和韓國國家計量院 (韓國標準科學研究院,KRISS)剛剛研制出一種獨特的納米測量技術,可用于觀察碳化硅基石墨烯的無序結構。
石墨烯是一種單層的、只有一個原子厚度的碳材料,從柔性顯示器到高速晶體管,其應用前景非常廣闊。然而,這些應用也對大面積制造方法以及潛在的、與制造相關的結構缺陷檢測方法提出了新的要求。
該團隊研制出一種基于局部熱電勢測量的新方法,利用從掃描探針針尖到樣品表面的熱傳遞,形成對石墨烯層無序納米結構的超敏感成像。研究人員認為,根據最初的測量結果來看,這種新式掃描探針測量技術將在基于石墨烯等新興電子材料的技術領域具有重要的應用價值。
(摘自NIST官網,編譯/李莉萍)