摘要:本文解決了目前市售觸摸屏存在的有觸摸死角、假兩點等問題。設計了一套實驗裝置用來求取攝像頭模塊中的攝像頭的內參數和畸變參數,方法為在觸摸區域拍攝多幅圖,通過每幅圖上多個點的像素數和這些像素點對應的觸摸點在觸摸區域的世界坐標的關系求得一個內參數矩陣,之后對獲取的多個內參數矩陣進行優化以求取內參數的最優解,之后再求取畸變參數的最優解。求解過程中多次用Levenberg-Marquardt優化算法對實驗數據進行優化處理,由于該算法是較為有效的修正的最小二乘法,所求參數的精確度較高。本文網絡版地址:http:∥www.eepw.com.cn/article/263366.htm
關鍵詞:新型光學觸摸屏;內參數;畸變參數;列文伯格一馬夸爾特優化
Dol:10.3969/j.issn.1005-5517.2014.9.010