高精度光柵信號采集卡的設計

董珊珊+徐揚+湯捷

【摘 要】 設計了一款高精度光柵信號采集卡，以光柵尺輸出正交方波信號為基礎，采用細分與誤差修正相結合方式對光柵尺輸出信號進行處理，提高光柵測量系統的精度。用CPLD實現光柵信號四細分、辯向、可逆計數，用單片機讀取光柵細分計數值，并對其進行誤差修正。通過實驗驗證與對比，光柵測量系統的分辨率可達到1μm，經誤差修正后的系統精度有顯著提高。

【關鍵詞】 光柵尺 信號處理 誤差修正

1 引言

光柵尺作為直線測量的精密儀器，由于其具有性能穩定、高精度、抗干擾能力強等優點，被廣泛應用在數控機床、機械加工等領域。隨著精密加工和微定位技術的發展，對光柵尺測量精度的要求也越來越高[1]。本文在光柵尺輸出正交方波信號的基礎上，設計了高精度光柵信號采集與誤差修正系統。該系統采用CPLD完成光柵信號的四細分、辯向、可逆計數，在單片機中用三次樣條插值算法對光柵細分計數值進行誤差修正，經誤差修正后的光柵測量系統精度有很大提高。

2 光柵信號采集系統

圖1所示為光柵信號采集系統總體框圖。本系統由USB供電，輸出電壓+5V，給光柵尺、CPLD及單片機供電。光柵尺輸出兩路相位差為90的方波信號A、B，輸出信號分辨率為4μm；CPLD芯片對兩路正交信號進行四細分、辯向、計數等處理；單片機LPC11U14是整個系統的核心，控制協調整個系統正常工作，負責向CPLD傳輸控制信號，并從其讀取光柵細分計數值，用誤差修正算法對光柵計數值進行誤差修正，將修正后的光柵位移值通過USB傳給上位機顯示。

3 光柵信號處理

（1）光柵細分、辯向原理。光柵尺運動時，在一個周期內，A、B兩路信號的電平在同一時刻共有四種狀態：10、11、01和00，基于此原理對光柵信號進行四細分。光柵尺正向運動但在某個時刻反向時，A、B兩信號的狀態轉換為：10→11→01→00→10→11→11→10→00→01，從兩信號狀態轉換順序可知在11狀態時，光柵尺發生變向。從光柵尺發生變向時兩信號狀態轉換順序可看出，光柵尺正向運動時，A的狀態總和前一時刻的B狀態不同；當光柵在11狀態發生變向即反向運動時，A的狀態總和前一時刻的B狀態相同，根據光柵尺運動此特點，可實現對光柵運動方向的判斷[2]。（2）光柵信號處理電路。本文采用CPLD器件EPM570T144C5來完成光柵信號細分、辨向和計數，CPLD邏輯設計模塊系統框圖如圖2所示。光柵輸出正交信號A、B分別接在CPLD的兩個管腳，EPM570T144C5外部時鐘為100MHz，四細分與辯向模塊完成光柵信號的四細分和方向判斷，“Pulse”為四細分后的脈沖，“ud”為高或低電平代表光柵運動方向，計數模塊檢測到“Pulse”脈沖并根據“ud”判斷計數值加一或減一，單片機向CPLD發送控制信號，通過多路復用模塊讀取24位光柵細分計數值。

4 誤差修正

隨著精密加工技術的發展，對加工和測量系統定位精度的要求也在不斷提高，光柵尺作為位移測量重要儀器，在實際測量中，由于光柵本身制造誤差及外界環境的干擾，測量值的精度受到很大影響，為了減小這些誤差對測量值的影響，本文采用實時誤差分離技術對光柵測量誤差進行修正[3]。將有限個采樣離散點（，）存入計算機，用三次樣條插值法擬合相鄰采樣點的誤差曲線，整個擬合曲線是一個由分段三次多項式組成的連續函數，曲線過每個節點且在節點處連續光滑。采樣點（，）中橫軸為光柵尺測量位移值，縱軸為實際位移值。

采用三次樣條插值進行誤差修正軟件流程如圖3所示，首先是單片機系統初始化，然后讀取采樣離散值（，），判斷插值點落在哪兩個相鄰節點之間，然后在這兩點之間擬合曲線，求出插值點的修正值并在上位機顯示。

5 實驗驗證

為了驗證誤差修正效果，本文使用德國SIOS激光干涉儀與光柵尺進行比對，實驗中光柵尺測量值為，干涉儀測量值近似為。四細分后光柵計數分辨率為1μm，光柵有效行距為-50000μm ～+50000μm，將光柵尺最大距離分成11等分，當光柵尺移動10000μm時，用干涉儀在光柵對應位置進行測量，并記錄干涉儀數據。

移動光柵尺到任意位置，并用干涉儀記錄該值，對該插值點進行誤差修正后的數值與干涉儀記錄值進行比較，得到修正值誤差曲線。對比實驗誤差和修正后誤差可以看出，經過誤差修正后的光柵測量系統精度有顯著提高。

6 結語

本文針對輸出分辨率為4μm的光柵尺，設計一款高精度光柵數據采集卡，對光柵信號進行四細分與誤差修正，使光柵測量分辨率提高到1μm，經誤差修正后的光柵測量系統精度大大提高。

參考文獻：

[1]陳智超.基于雙光柵尺的高速高精度跨尺度位移測量方法的研究[D].哈爾濱工業大學，2006.

[2]劉春燕.基于USB的光柵傳感器接口卡的研制[D].哈爾濱工業大學，2006.

[3]龔蓬.動態測量誤差修正灰色建模理論與應用技術研究[D].合肥工業大學，2000.endprint

【摘 要】 設計了一款高精度光柵信號采集卡，以光柵尺輸出正交方波信號為基礎，采用細分與誤差修正相結合方式對光柵尺輸出信號進行處理，提高光柵測量系統的精度。用CPLD實現光柵信號四細分、辯向、可逆計數，用單片機讀取光柵細分計數值，并對其進行誤差修正。通過實驗驗證與對比，光柵測量系統的分辨率可達到1μm，經誤差修正后的系統精度有顯著提高。

【關鍵詞】 光柵尺 信號處理 誤差修正

1 引言

光柵尺作為直線測量的精密儀器，由于其具有性能穩定、高精度、抗干擾能力強等優點，被廣泛應用在數控機床、機械加工等領域。隨著精密加工和微定位技術的發展，對光柵尺測量精度的要求也越來越高[1]。本文在光柵尺輸出正交方波信號的基礎上，設計了高精度光柵信號采集與誤差修正系統。該系統采用CPLD完成光柵信號的四細分、辯向、可逆計數，在單片機中用三次樣條插值算法對光柵細分計數值進行誤差修正，經誤差修正后的光柵測量系統精度有很大提高。

2 光柵信號采集系統

圖1所示為光柵信號采集系統總體框圖。本系統由USB供電，輸出電壓+5V，給光柵尺、CPLD及單片機供電。光柵尺輸出兩路相位差為90的方波信號A、B，輸出信號分辨率為4μm；CPLD芯片對兩路正交信號進行四細分、辯向、計數等處理；單片機LPC11U14是整個系統的核心，控制協調整個系統正常工作，負責向CPLD傳輸控制信號，并從其讀取光柵細分計數值，用誤差修正算法對光柵計數值進行誤差修正，將修正后的光柵位移值通過USB傳給上位機顯示。

3 光柵信號處理

（1）光柵細分、辯向原理。光柵尺運動時，在一個周期內，A、B兩路信號的電平在同一時刻共有四種狀態：10、11、01和00，基于此原理對光柵信號進行四細分。光柵尺正向運動但在某個時刻反向時，A、B兩信號的狀態轉換為：10→11→01→00→10→11→11→10→00→01，從兩信號狀態轉換順序可知在11狀態時，光柵尺發生變向。從光柵尺發生變向時兩信號狀態轉換順序可看出，光柵尺正向運動時，A的狀態總和前一時刻的B狀態不同；當光柵在11狀態發生變向即反向運動時，A的狀態總和前一時刻的B狀態相同，根據光柵尺運動此特點，可實現對光柵運動方向的判斷[2]。（2）光柵信號處理電路。本文采用CPLD器件EPM570T144C5來完成光柵信號細分、辨向和計數，CPLD邏輯設計模塊系統框圖如圖2所示。光柵輸出正交信號A、B分別接在CPLD的兩個管腳，EPM570T144C5外部時鐘為100MHz，四細分與辯向模塊完成光柵信號的四細分和方向判斷，“Pulse”為四細分后的脈沖，“ud”為高或低電平代表光柵運動方向，計數模塊檢測到“Pulse”脈沖并根據“ud”判斷計數值加一或減一，單片機向CPLD發送控制信號，通過多路復用模塊讀取24位光柵細分計數值。

4 誤差修正

隨著精密加工技術的發展，對加工和測量系統定位精度的要求也在不斷提高，光柵尺作為位移測量重要儀器，在實際測量中，由于光柵本身制造誤差及外界環境的干擾，測量值的精度受到很大影響，為了減小這些誤差對測量值的影響，本文采用實時誤差分離技術對光柵測量誤差進行修正[3]。將有限個采樣離散點（，）存入計算機，用三次樣條插值法擬合相鄰采樣點的誤差曲線，整個擬合曲線是一個由分段三次多項式組成的連續函數，曲線過每個節點且在節點處連續光滑。采樣點（，）中橫軸為光柵尺測量位移值，縱軸為實際位移值。

采用三次樣條插值進行誤差修正軟件流程如圖3所示，首先是單片機系統初始化，然后讀取采樣離散值（，），判斷插值點落在哪兩個相鄰節點之間，然后在這兩點之間擬合曲線，求出插值點的修正值并在上位機顯示。

5 實驗驗證

為了驗證誤差修正效果，本文使用德國SIOS激光干涉儀與光柵尺進行比對，實驗中光柵尺測量值為，干涉儀測量值近似為。四細分后光柵計數分辨率為1μm，光柵有效行距為-50000μm ～+50000μm，將光柵尺最大距離分成11等分，當光柵尺移動10000μm時，用干涉儀在光柵對應位置進行測量，并記錄干涉儀數據。

移動光柵尺到任意位置，并用干涉儀記錄該值，對該插值點進行誤差修正后的數值與干涉儀記錄值進行比較，得到修正值誤差曲線。對比實驗誤差和修正后誤差可以看出，經過誤差修正后的光柵測量系統精度有顯著提高。

6 結語

本文針對輸出分辨率為4μm的光柵尺，設計一款高精度光柵數據采集卡，對光柵信號進行四細分與誤差修正，使光柵測量分辨率提高到1μm，經誤差修正后的光柵測量系統精度大大提高。

參考文獻：

[1]陳智超.基于雙光柵尺的高速高精度跨尺度位移測量方法的研究[D].哈爾濱工業大學，2006.

[2]劉春燕.基于USB的光柵傳感器接口卡的研制[D].哈爾濱工業大學，2006.

[3]龔蓬.動態測量誤差修正灰色建模理論與應用技術研究[D].合肥工業大學，2000.endprint

【摘 要】 設計了一款高精度光柵信號采集卡，以光柵尺輸出正交方波信號為基礎，采用細分與誤差修正相結合方式對光柵尺輸出信號進行處理，提高光柵測量系統的精度。用CPLD實現光柵信號四細分、辯向、可逆計數，用單片機讀取光柵細分計數值，并對其進行誤差修正。通過實驗驗證與對比，光柵測量系統的分辨率可達到1μm，經誤差修正后的系統精度有顯著提高。

【關鍵詞】 光柵尺 信號處理 誤差修正

1 引言

光柵尺作為直線測量的精密儀器，由于其具有性能穩定、高精度、抗干擾能力強等優點，被廣泛應用在數控機床、機械加工等領域。隨著精密加工和微定位技術的發展，對光柵尺測量精度的要求也越來越高[1]。本文在光柵尺輸出正交方波信號的基礎上，設計了高精度光柵信號采集與誤差修正系統。該系統采用CPLD完成光柵信號的四細分、辯向、可逆計數，在單片機中用三次樣條插值算法對光柵細分計數值進行誤差修正，經誤差修正后的光柵測量系統精度有很大提高。

2 光柵信號采集系統

圖1所示為光柵信號采集系統總體框圖。本系統由USB供電，輸出電壓+5V，給光柵尺、CPLD及單片機供電。光柵尺輸出兩路相位差為90的方波信號A、B，輸出信號分辨率為4μm；CPLD芯片對兩路正交信號進行四細分、辯向、計數等處理；單片機LPC11U14是整個系統的核心，控制協調整個系統正常工作，負責向CPLD傳輸控制信號，并從其讀取光柵細分計數值，用誤差修正算法對光柵計數值進行誤差修正，將修正后的光柵位移值通過USB傳給上位機顯示。

3 光柵信號處理

（1）光柵細分、辯向原理。光柵尺運動時，在一個周期內，A、B兩路信號的電平在同一時刻共有四種狀態：10、11、01和00，基于此原理對光柵信號進行四細分。光柵尺正向運動但在某個時刻反向時，A、B兩信號的狀態轉換為：10→11→01→00→10→11→11→10→00→01，從兩信號狀態轉換順序可知在11狀態時，光柵尺發生變向。從光柵尺發生變向時兩信號狀態轉換順序可看出，光柵尺正向運動時，A的狀態總和前一時刻的B狀態不同；當光柵在11狀態發生變向即反向運動時，A的狀態總和前一時刻的B狀態相同，根據光柵尺運動此特點，可實現對光柵運動方向的判斷[2]。（2）光柵信號處理電路。本文采用CPLD器件EPM570T144C5來完成光柵信號細分、辨向和計數，CPLD邏輯設計模塊系統框圖如圖2所示。光柵輸出正交信號A、B分別接在CPLD的兩個管腳，EPM570T144C5外部時鐘為100MHz，四細分與辯向模塊完成光柵信號的四細分和方向判斷，“Pulse”為四細分后的脈沖，“ud”為高或低電平代表光柵運動方向，計數模塊檢測到“Pulse”脈沖并根據“ud”判斷計數值加一或減一，單片機向CPLD發送控制信號，通過多路復用模塊讀取24位光柵細分計數值。

4 誤差修正

隨著精密加工技術的發展，對加工和測量系統定位精度的要求也在不斷提高，光柵尺作為位移測量重要儀器，在實際測量中，由于光柵本身制造誤差及外界環境的干擾，測量值的精度受到很大影響，為了減小這些誤差對測量值的影響，本文采用實時誤差分離技術對光柵測量誤差進行修正[3]。將有限個采樣離散點（，）存入計算機，用三次樣條插值法擬合相鄰采樣點的誤差曲線，整個擬合曲線是一個由分段三次多項式組成的連續函數，曲線過每個節點且在節點處連續光滑。采樣點（，）中橫軸為光柵尺測量位移值，縱軸為實際位移值。

采用三次樣條插值進行誤差修正軟件流程如圖3所示，首先是單片機系統初始化，然后讀取采樣離散值（，），判斷插值點落在哪兩個相鄰節點之間，然后在這兩點之間擬合曲線，求出插值點的修正值并在上位機顯示。

5 實驗驗證

為了驗證誤差修正效果，本文使用德國SIOS激光干涉儀與光柵尺進行比對，實驗中光柵尺測量值為，干涉儀測量值近似為。四細分后光柵計數分辨率為1μm，光柵有效行距為-50000μm ～+50000μm，將光柵尺最大距離分成11等分，當光柵尺移動10000μm時，用干涉儀在光柵對應位置進行測量，并記錄干涉儀數據。

移動光柵尺到任意位置，并用干涉儀記錄該值，對該插值點進行誤差修正后的數值與干涉儀記錄值進行比較，得到修正值誤差曲線。對比實驗誤差和修正后誤差可以看出，經過誤差修正后的光柵測量系統精度有顯著提高。

6 結語

本文針對輸出分辨率為4μm的光柵尺，設計一款高精度光柵數據采集卡，對光柵信號進行四細分與誤差修正，使光柵測量分辨率提高到1μm，經誤差修正后的光柵測量系統精度大大提高。

參考文獻：

[1]陳智超.基于雙光柵尺的高速高精度跨尺度位移測量方法的研究[D].哈爾濱工業大學，2006.

[2]劉春燕.基于USB的光柵傳感器接口卡的研制[D].哈爾濱工業大學，2006.

[3]龔蓬.動態測量誤差修正灰色建模理論與應用技術研究[D].合肥工業大學，2000.endprint