50例熱性驚厥兒童腦電圖臨床回顧分析

李騰飛 陶維娜 席 音

50例熱性驚厥兒童腦電圖臨床回顧分析

李騰飛 陶維娜 席 音

目的 研究探討熱性驚厥兒童的腦電圖特征, 為其臨床診斷分析提供依據。方法 選取熱性驚厥兒童50例作為研究對象, 回顧性分析患兒的基本臨床資料以及腦電圖診斷的影像學表現等,分析腦電圖異常與患兒的臨床特征之間的關系。結果 50例熱性驚厥患兒經腦電圖檢查正常的有33例,占66.0%, 檢查異常的患兒有17例, 占34.0%。在腦電圖異常的17例患兒中又有14例患兒表現出陣發性高幅慢波顯著增加, 部分兩側不對稱的情況。非特異性腦電圖異常的患兒和發作性腦電圖異常的患兒分別有11例和6例, 各占64.7%和35.3%, 在發作性腦電圖異常的患兒中, 局限性腦電圖異常和廣泛性腦電圖異常的患兒各有3例。且腦電圖異常的患兒中3歲以下、體溫≥38.5℃、反復發作、有家族史等所占的比例高。結論 小兒熱性驚厥的腦電圖異常率與患兒的年齡、體溫、發作次數以及家族史等臨床特征有關, 可以通過腦電圖監測對疾病的嚴重程度、治療效果等進行推測, 具有很好的診斷價值。

熱性驚厥；腦電圖；臨床分析

熱性驚厥指的是6歲以下兒童因非中樞性感染的發熱誘發驚厥的情況［1］, 其是小兒常見的神經系統急癥。調查數據顯示, 5%～6%的兒童有過驚厥發生的情況［2］。本文就本院收治的熱性驚厥患兒50例作為研究對象, 分析其腦電圖檢查的特征以及臨床應用價值。具體報告如下。

1 資料與方法

1.1 一般資料 選取本院收治的熱性驚厥患兒50例作為研究對象, 所有患兒均符合熱性驚厥的臨床診斷標準［3］：一次驚厥的發生持續時間≥30 min或者驚厥反復多次發生, 且發作期間患兒的意識無法恢復。排除患兒中合并有腦部發育不良的情況和合并有中樞神經感染的情況。

回顧性分析患兒的基本臨床資料, 其中, 男29例, 女21例, 年齡6個月～5歲, 平均年齡（3.4±1.1）歲。其中, ≤3歲患兒13例, >3歲患兒37例。

患兒均表現出體溫升高的情況, 體溫37.8～40.5℃, 平均體溫（39.1±0.7）℃。以38.5℃作為分界, 體溫<38.5℃和≥38.5℃的患者分別有9例和41例。根據患兒癲癇的發作次數分, 首次發作的患兒30例, 發作次數在2次及以上的患兒20例。了解患兒有無癲癇或者熱性驚厥家族史, 可見有熱性驚厥或者癲癇發作家族史的患兒和無熱性驚厥或者癲癇發作家族史的患兒分別有18例和32例。患兒誘發高熱的原因均為呼吸道或者消化道感染。

1.2 方法 在熱性驚厥發生后的20 d內對患兒進行腦電圖監測。選用德國西門子公司生產的動態腦電圖儀（型號為SAD2006）對患兒進行監測。根據國際10/20系統電極安置法, 使用單極導聯及雙極導聯進行描記。設置動態腦電圖儀的參數為：標準電壓5～50 μV, 時間常數為0.3 s, 高頻濾波為60 Hz, 走紙速度為3 cm/s, 掃描時間為20 min。對>3歲的患兒可以在安靜狀態下進行閉目狀態記錄, 并做睜閉眼和過度換氣的實驗。對≤3歲無法配合檢查的患兒, 可以在其自然睡眠或者剝奪睡眠的狀態下進行監測。如果初次檢查患兒存在腦電圖異常的情況, 可以建議其定期到醫院接受復查。采用福山幸夫標準對腦電圖監測結果進行評價, 其有正常和異常的區別, 而腦電圖異常又有發作性異常和非特異性異常兩種情況。

1.3 統計學方法 采用SPSS19.0統計學軟件進行統計分析。計量資料以均數±標準差（ χ-±s）表示, 采用t檢驗；計數資料以率（%）表示, 采用χ2檢驗。P<0.05表示差異具有統計學意義。

2 結果

50例熱性驚厥患兒經腦電圖檢查正常的有33例, 占66.0%, 檢查異常的患兒有17例, 占34.0%。在腦電圖異常的17例患兒中又有14例患兒表現出陣發性高幅慢波顯著增加,部分兩側不對稱的情況。非特異性腦電圖異常的患兒和發作性腦電圖異常的患兒分別有11例和6例, 各占64.7%和35.3%, 在發作性腦電圖異常的患兒中, 局限性腦電圖異常和廣泛性腦電圖異常的患兒分別有3例。

分析腦電圖正常與異常患兒的年齡、體溫、發作次數、家族病史之間的相互關系, 可見, 腦電圖異常的患兒<3歲、體溫≥38.5℃、反復發作、有家族史等所占的比例均顯著高于腦電圖正常的患兒, 比較差異有統計學意義（P<0.05）。

3 討論

小兒熱性驚厥的發病機制可能是非中樞性感染發熱導致腦氧化機制加重, 氧需求量增加引起神經元興奮閾值改變致異常同步放電。小兒熱性驚厥如果不能得到及時有效的控制,患兒可能因驚厥的反復發作而使腦部發育受到影響或者因長時間的驚厥造成腦部缺氧, 引起腦損傷, 影響腦部功能, 遺留后遺癥甚至造成死亡。調查研究表明, 熱性驚厥的患兒在無法得到有效治療控制的情況下, 死亡率高達50%［3］, 即使存活的患兒中也多半有智力低下、繼發性癲癇、神經系統發育障礙等后遺癥的產生。因而, 對熱性驚厥患兒的有效診斷具有十分重要的意義。本文的研究結果顯示, 腦電圖對小兒熱性驚厥的檢測敏感性34.0%, 且腦電圖異常的患兒中<3歲、體溫≥38.5℃、反復發作、有家族病史等所占的比例高, 其中<3歲患兒腦電圖異常情況多, 也與研究中發現的熱性驚厥多發于0.5～3.0歲的兒童的結論相符, 可能與低齡兒童腦部結構、神經元樹突發育不完全, 神經遞質傳遞動態平衡關系不穩定有關。而高熱患兒更易發生驚厥則可能與高熱引起腦細胞對環境中相關刺激的敏感性升高有關, 機體在發熱的時候, 腦部需氧量增加, 腦氧化機制增加, 而腦神經元的閾值也會發生相應的改變, 中樞神經系統在過度興奮的狀態下,腦細胞對環境刺激敏感性升高, 而驚厥閾值下降, 神經元耗氧量升高, 腦細胞功能發生紊亂, 進而造成腦部異常同步放電誘發驚厥。反復發作的患兒則可能是受到低齡兒童自身中樞神經系統發育不完善和反復發作引起的腦缺氧缺血、神經元缺失而髓鞘形成障礙, 神經細胞的損害不斷增加, 壞死液化的雙重影響, 使得反復發作的患兒腦電圖異常率較高。有家族病史的患兒發病率高表示其有一定的遺傳傾向, 研究也證明, 發熱驚厥存在復雜遺傳模式, 且多為常染色體顯性或隱性遺傳。

發熱性驚厥在發作的時候會使得患兒出現短暫性腦缺血缺氧的情況, 如果不能及時控制, 則反復發作可能會使得海馬神經細胞及相關結構發生改變和損傷, 最終引起大腦局灶性損傷, 誘發癲癇。這也是熱性驚厥與癲癇可能存在共同的遺傳基礎的一個依據。

綜上所述, 通過腦電圖監測可以對疾病的嚴重程度、治療效果等進行推測, 具有很好的診斷價值。

［1］ 郭向陽.熱性驚厥患兒485 例的臨床特征和腦電圖分析.山西醫科大學學報, 2011, 42（11）:922-923.

［2］ 王莉.34 例熱性驚厥兒童的腦電圖分析.現代診斷與治療, 2012, 23（7）:944-945.

［3］ 崔虹.小兒熱性驚厥的腦電圖臨床監測分析.內蒙古中醫藥, 2011, 12（19）:101-102.

10.14164/j.cnki.cn11-5581/r.2015.10.064

2015-01-19］

454001 焦作市婦幼保健院兒童康復科