李 濤,陳 平,2,劉 賓
(1.中北大學信息探測與處理山西省重點實驗室,山西太原030051;2.中國科學院自動化研究所,北京100190)
工業生產中一般采用CCD(電荷耦合元件)芯片配合后端的采集卡對物體尺寸進行數據采集,該方法對小尺寸物體的測量比較方便,雖然多塊CCD采集系統[1]進行拼接能夠完成對大物體的測量,但是此方法對光線和角度要求比較高且成本昂貴、操作復雜。在工業生產中,數據傳輸抗干擾的處理多數都采用屏蔽線方法,該方法雖然成本低廉、操作簡單,但在外界輻射干擾強、電壓波動大以及遠距傳輸的環境中,實時顯示的圖像上依然會出現噪點和波動。
針對上述問題,本項目設計了基于現場可編程門陣列(FPGA)及低電壓差分信號(LVDS)傳輸[2-4]測試系統。系統以FPGA為控制和處理核心,采集模塊由自動掃描光電二極管列陣(SSPD)[5-7]來完成;系統具有靈活的擴展性,可實現對物體各種尺寸的數據采集和噪聲的濾除。
系統工作原理如圖1所示。系統由采集模塊、傳輸模塊、存儲模塊和上位機組成。首先由SSPD列陣完成物體尺寸的數據采集,經過A/D量化成數字信號后,由LVDS將數據傳至FPGA中進行處理并通過FPGA調用其內部IP核對數據進行緩存后傳至上位機進行實時顯示。
由于CCD采集系統對大尺寸物體測量存在精度低,操作復雜和成本高等問題。因此設計了自動掃描光電二極管列陣(SSPD)采集系統,該系統電路簡單、精度高、成本低,同時具有靈活的擴展功能以此來實現對不同尺寸的測量。

圖1 系統原理圖
1.1.1 自動掃描光電二極管列陣(SSPD)基本原理
系統采用自動掃描光電二極管列陣(SSPD)采集模擬信號,SSPD采用電荷存貯工作方式。工作過程如圖2所示。

圖2 光電二極管電荷存貯方式基本原理圖
1)準備階段。首先閉合開關K,偏置電源Vc通過負載RL向光電二極管充電,由于光電流和暗電流都很小幾乎可忽略,充電完成后,p-n結上的電壓幾乎等于Vc。結電容Cd上的電荷



3)再充電過程。再次閉合開關K,電容Cd被電源Vc繼續充電,直到充電完成。此時輸出的光電信號即為負載電阻R上的壓降VR。

將式(4)代入,有

1.1.2 SSPD列陣原理圖和結構
實際應用中,一般都是用MOS場效應晶體管來代替開關K。
如圖3和圖4所示,工作過程如下:給數字移位寄存器加入時鐘后,一個周期內由起始脈沖S引導每次掃描,依次產生控制信號e1~eN,然后控制信號依次使MOS管順序閉合、斷開,因此在輸出端Vs得到光電信號,在補償端VN得到與輸出端Vs相同的噪聲信號,再把Vs和VN經過差分放大便可把噪聲去掉。

圖3 SSPD線陣電路原理圖

圖4 采集模塊示意圖
通過上述原理表明,此電路簡單、成本低,同時可擴展性強具有很廣的使用范圍。
由于信號在傳輸中最容易受到干擾,特別是在工廠里,電網的不穩定和輻射干擾特別多,傳統方法就是加載隔離變壓器、傳輸線改為屏蔽線等等,在實際應用中,成本比價高、操作復雜、功耗也高,最重要的是穩定性不高。因此為了解決這個問題,采用了低壓差分信號(LVDS)傳輸。
1.2.1 LVDS信號傳輸的原理
首先通過差分發生器(SN65LVDS386芯片)將TTL信號轉換成LVDS信號(見圖5),經過互聯器(傳輸線、轉接頭和終端匹配電阻R)把LVDS信號傳輸到接收終端,最后由差分接收器(SN65LVDS387芯片)將LVDS信號轉換成TTL信號。

圖5 LVDS傳輸示意圖
1.2.2 LVDS優點及抗噪分析
LVDS的優點:1)抗干擾能力強,主要原因是LVDS采用差分對進行數據傳輸,這對差分“線“又具有很好的耦合效果,所以實現了強抗干擾能力。比如外界存在串擾和干擾等噪聲時,它們作用到差分線上的時間是同時的,因此相當于不存在;2)開關噪聲影響小,因為每路信號通過器件時都有各自的返回平面,所以幾乎不受開關噪聲的影響;3)接收能力強,在噪聲比較強的環境中,由于差分對的差值作用,2倍于單端信號值,信號放大效果很明顯,所以體現出非常優秀的接受能力;4)抗EMI干擾能力強,由于差分對具有極性相反的特性,因此可以相互消除抵達差分線對上的電磁場;5)遠距離傳輸能力強。
抗噪分析:如圖5所示理想狀態下,沒有干擾時
發送端

接收端

化簡得

實際應用中,線路是存在干擾且同時作用在差分線對上,發送端,依然是

接收端,于干擾同時存在于差分對上,假設干擾為q

化簡得

通過上述公式對比可看出,干擾得到了很好的抑制,因此在傳輸過程中大大提高了信息傳輸的質量和效率。為了證明該理論具有實用價值,采用了50 m長傳輸線進行測試LVDS遠距離傳輸[8]和抗干擾的能力,實驗結果如圖6~圖8所示。

圖6 實測數據(截圖)

圖7 未采用LVDS的接收數據(截圖)

圖8 采用LVDS的接收數據(截圖)
實驗結果表明,采用LVDS模塊傳輸后實測數據和接收數據完整無誤,并未出現丟數和亂碼現象,實現了遠距離傳輸和較強的抗干擾能力。
由于傳感器采用的SSPD列陣,并且橫向掃描間隔時間為10μs即采集頻率100 kHz共768個光電二管(一個光電二極管相當于一個像素),縱向間隔時間為2 ms即采集行頻200 Hz,因此采用傳統的順序存儲,則掃描一行所需要的存儲時間為7.68 ms,這個時間還不包括后端數據處理時間就已經遠遠大于行間隔時間2 ms。為了解決時間上的沖突,直接調用FPGA內部的IP核作為存儲器,存儲方式采用了分割并行輸入串行輸出的方式,這種方式的優點在于可以節省緩沖區的空間,同時保證輸入數據流和輸出數據流連續不斷、無障礙,完成數據的無縫對接。
FIFO存儲操作如圖9所示:首先把存儲模塊分成12塊FIFO,即把768個像素平均分成12份,每份64個像素。每次行掃描行頻來時,SSPD列陣便開始采集到圖像,經過A/D量化后,信號控制模塊開始判斷每塊FIFO的FULL和Empty信號,從而控制每塊FIFO的讀寫操作。起初FPGA接收到12塊FIFO的Empty信號時,并行把12×64個像素存儲到各自分配的FIFO中,當FPGA接到12塊FIFO的FULL信號時,FPGA首先把FIFO_1的數據讀出,FIFO_1的Empty信號發出后且FIFO_2的依然為FULL=1,此時讀取FIFO_2的數據,依次循環進行。一次行掃描的時間如下:


圖9 FIFO存儲的簡易示意圖

化簡得

式中:tFIFO1,tFIFO2,…,tFIFO12是 1 塊 FIFO 的存儲時間;fr_clk是從FIFO中讀取數據的時鐘;trd是讀取12塊FIFO中數據所用的時間;T是數據存儲和讀取整個過程所需的時間。
上述結果表明,T=1.024 ms小于2 ms,因此實現了高速處理和無縫對接。
為了驗證系統實時掃描和最終顯示效果,進行現場采集測試,由上位機顯示采集到的圖片以及各類參數,測試結果如圖10~圖11所示。

圖10 實時掃描顯示界面(截圖)

圖11 最終顯示界面(截圖)
同時為了驗證系統的精度和穩定度如何,進行了大量的實驗測試,并截取了長度與寬度部分測試結果如表1所示。通過測量值與實際值的對比,得出系統誤差小于等于4 mm,從而證明了該系統的具有較高精度和穩定度,同時能夠在上位機上精確地顯示出所測物體的各種參數。

表1 測試數據 mm
本文通過研究LVDS工作原理,設計了一種基于FPGA及LVDS的大尺寸測量系統,該系統能夠完成對大尺寸物體的長度和寬度的測量,并且精度都在4 mm范圍以內。實驗結果表明,該系統具有較強的抗干擾能力、較高精度和穩定度并且具有很靈活的擴展性,適用于各種尺寸的測量,同時能夠完成實時顯示功能等特點,具有很高的實用價值。
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