郁 光,莊鴻濤,周鵬云,方小青,徐 嬌,白占旗,方 華
(1.上海華愛色譜分析技術有限公司,上海 200437;2.西南化工研究設計院有限公司,成都 610225;3.浙江省化工研究院,杭州 310023)
六氟乙烷又稱全氟乙烷,是乙烷中六個氫原子全部被氟原子取代后的產物,其又名氟碳116,CAS編號為76-16-4。六氟乙烷為無色無嗅無味不可燃的無毒氣體,比空氣重得多,基本不溶于水,微溶于醇,其物理化學性質穩定。
六氟乙烷主要應用在低溫制冷與電子清洗及蝕刻行業,另外少部分應用在醫學手術中及其它新開發的領域。六氟乙烷的ODP值(臭氧層破壞潛能值)為零,它可以和三氟甲烷一起組成共沸制冷劑R508用于替代對臭氧層破壞較大的氯氟烴。六氟乙烷在半導體與微電子工業中用作等離子蝕刻氣體、器件表面清洗劑。因其具有無毒無臭、高穩定性而被廣泛應用在半導體制造過程中,例如作為蝕刻劑、化學氣相沉積后的清洗氣體,在等離子工藝中作為二氧化硅和磷硅玻璃的干蝕氣體[1]。
目前六氟乙烷的制備有多種工藝路線方法,主要包括:電化學氟化法、熱解法、金屬氟化物氟化法、氟化氫催化氟化法、直接氟化法[2]。由這些方法制備六氟乙烷會產生一些衍生雜質如HFC-125(R125)、HFC-134a(R134a)、HFC-143a(R143a)等氫氟烴和氯二氟甲烷(R22)、五氟一氯乙烷(R115)、二氯四氟乙烷(R114)等含氯化合物。這些雜質可以通過脫除、吸附、精餾等操作得到較純的六氟乙烷[3]。作為制冷劑,對R508組分的質量指標要求不高,六氟乙烷的純度在99.5%以上就可以滿足,但作為蝕刻劑及CVD腔體清洗劑的六氟乙烷,它的純度都要求達到99.995%以上。隨著半導體產業的發展,整個電子工業對電子氣體氣源純度的要求也越來越高,對于電子級六氟乙烷中的雜質測量分析也越來越重要。然而我國目前尚未制定關于電子級六氟乙烷的相關標準,而只能通過SEMI標準[4-5](表1)進行參考。由于相關檢測方法和標準的缺失,國內廠商和用戶對于六氟乙烷的質量存在盲點,對生產使用造成了很大影響。

表1 SEMI六氟乙烷標準Table 1 Specification for Hexafluoroethane
本文利用氦離子化氣相色譜儀來分析電子級六氟乙烷中的雜質,實現對六氟乙烷的全分析,以期得到對于電子級六氟乙烷中雜質檢測的最佳方法和結果,并為最終建立電子級六氟乙烷的國家標準和行業標準提供實驗依據。
GC-9560-HG氦離子氣相色譜儀(配置He純化器和PDHID檢測器),上海華愛色譜分析技術有限公司制造。
標氣為2瓶,分別為無機雜質(標氣a)和鹵代烴雜質(標氣b),大連大特氣體有限公司制造。具體雜質含量如表2和表3。

表2 標準氣體表a(瓶號:35406036)Table 2 Standard gas a

表3 標準氣體表b(瓶號:L141913038)Table 3 Standard gas b
高純六氟乙烷(R116),鋼瓶號:783229,由浙江省化工研究院有限公司提供。
1.4.1 色譜儀分析
色譜儀氣路分為三路,第一路利用閥I上的預柱Q柱反吹六氟乙烷,分析柱5A分子篩柱分析H2、O2+Ar、N2、CO。第二路利用閥II進樣,利用閥III放空六氟乙烷,分析柱Q柱分析CF4、CO2。第三路利用閥IV進樣直接分析六氟乙烷中的鹵代烴雜質。
進樣方式采用自動閥進樣并且尾氣安全排空。
1.4.2 色譜條件
色譜儀:GC-9560-HG氦離子化色譜儀;
進樣方式:閥進樣;
定樣量:定量管1:0.5 mL,定量管2:0.5 mL,定量管 3:0.5 mL;
控溫:柱爐:50℃,輔助1:60℃,輔助2:60℃,檢測器:150℃;
流量:載氣1:40 mL/min,載氣2:30 mL/min,載氣3:40 mL/min,載氣4:30 mL/min,載氣5:30 mL/min,分流比:1∶4;
程序升溫:初始時間5 min;升溫速率:3℃/min;保持溫度:100℃,保持時間:10 min。
1.4.3 色譜流程圖
色譜流程圖見圖1。

圖1 色譜流程圖Fig.1 Diagram of Gas Chromatography
1.4.4 色譜柱
柱1:預分離柱 Porapak Q,60~80目,1/8″×2 m,輔助2控溫。柱2:預分離柱 Porapak Q,60~80目,1/8″×2 m,柱爐控溫。柱3:分析柱5A分子篩,40~60目,1/8″×2 m,輔助 1控溫。柱4:分析柱Porapak Q,60~80目,1/8″×2 m,柱爐控溫。柱 5:分析柱毛細柱Al2O3,15u,0.53×50 m。柱爐控溫。

圖 2 PDHID 檢測 H2,O2+Ar,N2,CF4,CO2,CO(平衡氣:He)標準氣譜圖Fig.2 Chromatogram of H2,O2+Ar,N2,CF4,CO2,CO in standard gas detected by PDHID(Balance gas:helium)

圖3 PDHID檢測部分氟利昂雜質的(平衡氣:He)標準氣譜圖Fig.3 Chromatogram of Freon impurities in standard gas detected by PDHID(Balance gas:helium)

圖4 PDHID檢測樣品六氟乙烷譜圖A(鋼瓶號:783229)Fig.4 Chromatogram A of hexafluoroethane sample by PDHID(cylinder No.783229)

圖5 PDHID檢測樣品六氟乙烷譜圖B(鋼瓶號:783229)Fig.5 Chromatogram B of hexafluoroethane sample by PDHID(cylinder No.783229)

表4 標氣檢測數據表Table 4 Standard gas detected
在六氟乙烷分析的色譜圖中,噪音為10μV,由表4可知,利用所測雜質的峰高濃度,我們可以通過檢測限理論計算法[6](S/N=3∶1)簡單計算得出六氟乙烷雜質分析的檢測限。

表5 各組分檢測限表Table 5 The detection limit of components
由表5可知,本套實現方案完全滿足電子級六氟乙烷的最低檢測要求,達到10-9級別。
對浙江省化工研究院的六氟乙烷樣品進行了測量,鋼瓶號為783229。具體分析結果見表6。

表6 樣品檢測數據表Table 6 Sample gas detected
1.分析六氟乙烷中的氫氟烴和含氯化合物時,我們選取Al2O3毛細柱來進行對雜質分析,由于CF4和空氣峰較近,我們對CF4的定量放在無機雜質測量中,由圖3和圖5來看,六氟乙烷中的氫氟烴和含氯化合物基本都能和六氟乙烷完全分離,分析六氟乙烷中的無機雜質時,六氟乙烷被反吹放空掉,可以分析出雜質 H2、O2+Ar、N2、CO、CF4和 CO2。由圖4結果顯示主要有N2,其他組分都很小,符合實際情況。
2.表5列出了各個組分以3倍噪音來計算得出的理論檢出限,都在10×10-9以下,完全可以滿足電子級六氟乙烷的檢出要求。
3.所測的六氟乙烷的雜質含量如表6,除了N2外,總雜質在0.81×10-6,并且各個組分都在1×10-6以下,符合電子級氣體的標準。
1.用氦離子檢測器對六氟乙烷進行檢測分析,靈敏度高,檢測限達到10-9級別。
2.本實驗所測的雜質組分基本覆蓋了六氟乙烷中的氣體雜質,成功實現了對電子級六氟乙烷的全分析,為制定電子級六氟乙烷的標準提供了參考依據。
3.浙江省化工研究院生產的六氟乙烷可以達到電子級的要求。
[1]楊健芳.六氟乙烷(FC-116)應用前景和市場分析[J].浙江化工,2008,39(10):14-17.
[2]杜漢盛.六氟乙烷的制備及純化方法概述[J].低溫與特氣,2013,31(3):1-4.
[3]OHNO Hiromoto,NAKAJO Tetsno,OHI Toshio,ARAI Tatsuharu.Method for purifying hexafluoroethane:US ,627478281[P].2001-08-14.
[4]SEMI C3.37-93.Standard for hexafluoroethane(C2F6),99.97%quality[S].
[5]SEMI C3.45-92.Standard for hexafluoroethane(C2F6),99.96%quality(provisional)[S].
[6]杜進祥.分析化學中的檢出限、測定限與檢測限[J].廣西師范大學學報,2003,21(Z6):249-350.