快速檢查硬件

使用適當?shù)墓ぞ撸覀兛梢钥焖俚貦z查電腦硬件的狀態(tài)。通過系統(tǒng)的檢查步驟定期對電腦硬件進行檢查和維護，可以確保我們的電腦能夠保持在最佳的狀態(tài)，并盡可能地避免因硬件導致的數(shù)據(jù)丟失。

電腦硬件的壽命有限，出現(xiàn)故障是早晚的事情。如果不希望電腦突然出現(xiàn)故障時手忙腳亂或者因為硬盤的損失而丟失寶貴的數(shù)據(jù)，那么我們有必要定期對硬件進行檢測。使用適當?shù)墓ぞ撸覀兛梢暂p松地完成這項工作。下面，CHIP將為大家介紹檢查的步驟與工具。

如何進行

1、CPU：壓力測試

下載安裝HWMonitor（www.cpuid.com/softwares/hwmonitor）和Prime95（www.mersenne.org/download）。啟動Prime95，點擊“Just Stress Testing”，在“Run a Torture Test”對話框中選擇“Small FFTs”并點擊“OK”開始進行壓力測試。這將需要大約20min的時間，同時運行HWMonitor并注意芯片的溫度，如果超80°或出現(xiàn)警報，則需要采取行動馬上進行處理。

2、風扇：監(jiān)控速度

安裝并啟動SpeedFan（www.almico.com/speedfan.php），切換到“Charts”選項卡，并從“Analyze”下拉菜單中選擇“fan speeds”。通過前方的復選框選中所有的風扇，觀察檢測的數(shù)值一段時間。如果風扇的速度波動頻繁，那么我們應該考慮清洗它，或者在清洗無效的情況下替換它。

3、顯示卡：全面檢測

安裝并啟動FurMark（www.ozone3d.net/benchmarks/fur），點擊“GPU stress test”，一個新的窗口將打開。如果發(fā)現(xiàn)大型的物體在測試窗口中迅速移動，那么這通常表示圖形處理器存在缺陷。另一方面，如果顯示方框則表示顯示卡的內(nèi)存存在錯誤。在測試過程中，F(xiàn)urMark將同時顯示顯示卡的溫度，如果溫度超過80℃，那么應該立即停止壓力測試。檢查顯示卡散熱器，必要時清洗或替換散熱器。

4、內(nèi)存：查找故障模塊

下載Memtest86（www.memtest86.com）ISO文件并將其刻錄到CD或DVD上，使用刻錄的光盤啟動電腦。注意，要使用光盤啟動電腦，我們需要先在BIOS中設置正確的引導驅動器。光盤啟動電腦之后，Memtest86將自動啟動。如果該工具檢測后發(fā)現(xiàn)錯誤，我們應該拆下所有的內(nèi)存，然后在每次只使用一條內(nèi)存的情況下再次進行測試，以便確定出現(xiàn)故障的模塊。對于存在故障的內(nèi)存，替換它是最好的選擇。

5、電源適配器：觀察電壓波動

安裝并啟動HWMonitor（www.cpuid.com/softwares/hwmonitor），展開查看“Voltages”的檢測項目，觀察其中的“3.3V”、“5V”和“12V”的監(jiān)測值。它們是電源適配器的輸出電壓，如果數(shù)據(jù)列中“Min”和“Max”的波動超過0.5V，那么我們需要考慮更換電源適配器，或者將電源適配器送專業(yè)機構修理。

6、硬盤：健康檢查

安裝并啟動HD Tune（www.hdtune.com），我們可以通過“Health”選項卡查看當前硬盤的運行狀況，通過“Error Scan”可以對硬盤進行檢查，上方的溫度計旁邊顯示的是當前硬盤的溫度。理想的情況下，它應該在25℃～40℃之間。

7、光驅：測試刻錄

安裝Opti Drive Control（www.optidrivecontrol.com），將一張空白光盤（Opti Drive Control支持CD、DVD和藍光介質(zhì)）放入刻錄機，啟動工具，并選擇“Create test disc”，取消“Test write”的選中狀態(tài)，點擊“Start”開始刻錄。刻錄之后，我們可以通過“Verify test disc”徹底檢查刻錄機。如果出現(xiàn)錯誤信息，那么我們首先可以嘗試給刻錄機更新固件，很多時候這能夠起到作用。

8、閃存：發(fā)現(xiàn)錯誤

在測試閃存介質(zhì)之前，我們必須創(chuàng)建備份，測試過程中數(shù)據(jù)將被刪除。下載并解壓縮Check Flash（mikelab.kiev.ua/index_en.php）的ZIP文件，啟動該工具。在“Drive”中選擇需要檢測的固態(tài)硬盤或閃存盤，并激活“Access type”中的“As logical drive （NT-based systems only）”，在“Action type”中選擇“Write and read test”和“Small pattern set”，在“Test length”中選擇“One full pass”，點擊“Start”并選擇“Yes”開始嘗試測試。測試結束后，在“Log”中查找錯誤信息。如果存在幾個錯誤，那么我們需要考慮避免在該閃存介質(zhì)中存儲任何重要數(shù)據(jù)。