楊貴生
(甘肅省地質礦產勘查開發局第一礦產勘察院,甘肅天水741020)
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X射線熒光光譜法快速分析地質樣品中各組分含量
楊貴生
(甘肅省地質礦產勘查開發局第一礦產勘察院,甘肅天水741020)
摘要:采用塑料環粉末壓片法制樣,利用X射線熒光光譜分析地質化探樣品中的主次量元素及痕量元素,通過對巖石的巖性、組分及異常元素的了解,為定量分析選擇合適的條件。實驗結果說明該法簡便快速,精密度和準確度好,可應用于實際生產中。
關鍵詞:X射線熒光光譜;粉末壓片法;組分含量,快速測定
地質樣品分析用化學法測定費時費力,速度慢,成本高,而且還存在一定污染[1],對于大量樣品難以應付。采用X射線熒光光譜法(XRF)測樣,可達到快速測定,方法簡便,結果準確,消除了樣品的粒度、密度和成分不均勻性的影響,大大降低了基體的增強吸收效應和共存元素的干擾,分析范圍寬,可滿足對樣品主次量組分的測定。
1.1儀器和工作條件
日本理學ZSXPrimusⅡ型X射線熒光光譜儀,Rh靶端窗X射線管,功率為4kW,30μm超薄鈹窗,最大激發電壓為60kV,最大激發電流是150 mA,丹東儀器廠生產的BP-1型壓樣機。
快速分析采用熒光儀EZ分析完成,樣品類型設定為氧化物粉末,測量范圍為F到U,測量半徑為30mm,標準測量時間完成。
1.2樣品制備
采用塑料環制備樣品,塑料環的規格為外徑40mm,內徑34mm,高3mm。制備時將塑料環置于模具上,再將前處理好的樣品約4g倒入塑料環中,在40MPa的壓力下壓成樣片,以待檢測。
2.1樣品定性分析
X射線熒光光譜儀能快速檢測出樣品中的F到U元素,檢測濃度范圍從ppm到百分含量,對樣品不產生破壞,且進行快速原位分析,對了解未知樣品的組成和含量是很好的分析測試方法。理學儀器由EZ分析軟件完成快速分析任務。
定性分析選取了國家標樣GSD-4a進行EZ分析。下表是EZ分析結果和標準值的對比。單位為mass%。

表1 標樣GSD-4aEZ分析結果
對于EZ掃描分析樣品,可以得出半定量檢出限以上的組分。即EZ掃描得到的是樣品定性和半定量結果。表1是選擇的國家標樣EZ分析半定量結果、標準值和平均對數偏差ΔlgC。從表中可看出,半定量結果對樣品的組成含量、巖性及礦藏異常有指導意義。表1為典型的硅酸鹽組成,SiO2的半定量結果是75.45%,還可得出該樣品中Ti、Mn、Zr等含量也較高。
2.2灼燒量定性
對于未知樣品,我們不知道其詳盡的巖性狀況,如果直接去做EZ掃描分析,有可能會出現表2中的情況。

表2 標樣GSR-13EZ掃描分析
表2中可以看出CaO含量為90.3%,含量極高。從地礦常識而知,純的碳酸鈣可轉化成含量為56% 的CaO,由此可以推出該樣EZ掃描結果無意義。這種結果可能是由樣品的燒失量大造成的,而軟件將燒失量按樣品中各組份量分配進去。為了解決此類問題,可在軟件中加入樣品的燒失量(LOI-Flux)校正相,將結果進行調配。表3為加校正項的EZ掃描分析結果,其結果與標準值相吻合,有實際指導意義。

表3 加校正項的標樣GSR-13 EZ掃描分析
2.3樣品定性指導生產方向
X射線熒光光譜熔片法測定硅酸鹽全巖含量[2],具有方法簡單快速,準確度高的特點。表4是由熔片法測試的兩個樣品測試結果,測試結果表明,將所有組分與燒失量加和總量達不到地質規范中的加和值范圍[3],差距較大。

表4 樣品硅酸鹽全巖分析
為了探究熔片中的其他成分,對樣品粉末壓片進行EZ分析。表5是對樣品的EZ分析結果。從表5可以得出兩個樣品中硫含量都較高,分別為2.93%和6.95%。經化學法測定S含量,將二者樣品的硫含量加到熔片法所測得的結果中,其加和總量符合規范要求。

表5 樣品EZ分析結果
采用X射線熒光光譜法快速測定樣品中的主次量元素,考察了對樣品巖性,燒失量以及對實際生產的影響,該方法的主要優點是可測組分多,準確度高,分析流程短,操作簡單,適于大批量地球化學勘查樣品中主量、次量及痕量元素的同時分析。若樣品中有高濃度的Cu、Pb、Zn、As、Sb、Hg和S,也會使坩堝合金化。因此在樣品全分析之前,一定要了解其巖性和主要成分,可用XRF定性分析或者其他手段輔助說明。
參考文獻:
[1]GB 15618—1995:土壤環境質量標準[G].中華人民共和國環境保護部,1995.1.
[2]GB/T 14506.28—2010硅酸鹽巖石化學分析方法第28部分:16個主次成分量測定[G].中華人民共和國國家質量監督檢驗檢疫總局.中國國家標準化管理委員會,2011.2.1
[3]DZ/T 0130—2006地質礦產實驗室測試質量管理規范[M].中華人民共和國國土資源部,2009.9.1
中圖分類號:O434.13