楊 靜,楊洪星
(中國(guó)電子科技集團(tuán)公司第四十六研究所,天津300220)
幾種典型寬禁帶半導(dǎo)體材料的制備及發(fā)展現(xiàn)狀
楊 靜,楊洪星
(中國(guó)電子科技集團(tuán)公司第四十六研究所,天津300220)
闡述了SiC、GaN、AlN等幾種寬禁帶半導(dǎo)體材料的特性、突出優(yōu)勢(shì)及其重要應(yīng)用;并對(duì)比分析了目前制備這些半導(dǎo)體材料的主流方法及其各自存在的利與弊;最后討論了寬禁帶半導(dǎo)體材料的發(fā)展現(xiàn)狀及其存在的挑戰(zhàn)。
碳化硅;氮化鎵;寬禁帶半導(dǎo)體;器件
隨著半導(dǎo)體技術(shù)的不斷發(fā)展,傳統(tǒng)半導(dǎo)體材料如Si和GaAs受其自身固有性質(zhì)的限制已經(jīng)難以滿足各器件領(lǐng)域進(jìn)一步深入應(yīng)用的需要。在電子材料向大尺寸、多功能化及集成化發(fā)展的大趨勢(shì)下,第三代寬禁帶半導(dǎo)體材料如SiC、GaN、AlN、金剛石、ZnSe等由于具有更高的擊穿電場(chǎng)、熱導(dǎo)率、電子遷移率、電子飽和漂移速度等優(yōu)勢(shì)(見(jiàn)表1[1])在高溫、高頻、抗輻射、短波長(zhǎng)發(fā)光等領(lǐng)域展現(xiàn)出巨大的應(yīng)用潛力[2-4]。
在光電領(lǐng)域,SiC材料倍受青睞;在微波器件領(lǐng)域,器件已由硅雙極型晶體管、場(chǎng)效應(yīng)管、LDMOS管向以SiC、GaN為代表的寬禁帶功率管過(guò)

表1 傳統(tǒng)與三代寬禁帶半導(dǎo)體材料的物理特性參數(shù)對(duì)比

圖1 半導(dǎo)體材料在多個(gè)領(lǐng)域的應(yīng)用
傳統(tǒng)半導(dǎo)體材料Si、GaAs的制備包括CZ、FZ、LEC、HB、VB、VCZ等方法,第三代半導(dǎo)體材料的生長(zhǎng)條件比較苛刻,上述傳統(tǒng)方法較難制備出理想單晶。為此,科研工作者付出大量努力,在此重點(diǎn)介紹目前研究及應(yīng)用比較多的SiC、GaN、AlN的生長(zhǎng)及制備過(guò)程。……