李守委,毛沖沖,嚴丹丹
(1.中國電子科技集團公司第58研究所,江蘇無錫214072;
2.無錫中微高科電子有限公司,江蘇無錫214035)
CCGA用焊柱發展現狀及面臨的挑戰
李守委1,毛沖沖1,嚴丹丹2
(1.中國電子科技集團公司第58研究所,江蘇無錫214072;
2.無錫中微高科電子有限公司,江蘇無錫214035)
CCGA是在CBGA基礎上發展而來,利用細長的焊柱取代焊球,借助焊柱良好的耐蠕變能力,適應PCB板與陶瓷外殼/基板之間由于熱膨脹系數不同所產生的熱應力失配,使得CCGA能夠進行高密度、高可靠、大尺寸封裝及組裝。該種封裝形式被廣泛應用于武器裝備和航空航天等領域。對CCGA用焊柱的結構、節距及生產工藝等方面的發展現狀進行總結,相對于其他封裝類型,CCGA封裝面臨成本、機械可靠性和熱管理等多方面的挑戰。
CCGA;焊柱;可靠性
隨著信息技術的不斷發展,對電子元器件小型化和高性能的要求不斷提高,對封裝技術提出更多挑戰,傳統的封裝形式已無法滿足高引腳密度、多引腳數量以及高功耗等方面的要求,迫使封裝技術不斷進步[1]。
陶瓷柵格陣列CGA(Ceramic Grid Array)的應用,對于提高封裝密度具有巨大的推動作用,在實際需求的推動下不斷發展,從最初的陶瓷球柵陣列封裝CBGA(Ceramic Ball Grid Array)到陶瓷柱柵陣列封裝CCGA(Ceramic Column Grid Array),主要區別為CCGA利用釬料焊柱取代CBGA中的釬料球,利用釬料柱的蠕變來緩解PCB板(熱膨脹系數15×10-6/℃~21×10-6/℃)與陶瓷基板(6.5×10-6/℃)之間由于熱膨脹系數不匹配帶來的熱應力疲勞問題,從而提升焊點可靠性[2,3]。
在未來的應用中,CCGA必將取代CBGA。……