基于Virtex 4 FPGA的全覆蓋二倍線內建自測試*

董宜平，謝文虎，李 光

（中國電子科技集團公司第58研究所，江蘇無錫214035）

基于Virtex 4 FPGA的全覆蓋二倍線內建自測試*

董宜平，謝文虎，李 光

（中國電子科技集團公司第58研究所，江蘇無錫214035）

隨著集成電路技術的發展，高集成度和高復雜度的器件不斷出現，大規模集成電路的測試技術成為重要的研究方向。自建內測試方法是一種有效的系統級大規模集成電路FPGA測試方法。提出了一種基于Xilinx公司Virtex-4（V4）系列芯片全覆蓋的FPGA二倍線內建自測試方法，該方法采用腳本生成Xilinx設計語言（XDL），對V4芯片二倍線進行全局布線，然后進行FPGA配置，施加測試向量，從而對固定故障或者橋接故障進行測試。同時給出了基于XC4VLX100芯片的實際測試結果，驗證了該測試方法的正確性。

XDL；內建自測試；測試向量；全局布線；二倍線

1 引言

可編程邏輯器件FPGA，具有開發周期短、成本低、風險小、集成度高、靈活性強且便于電子系統維護和升級的特點，因此成為了數字芯片的主流，被廣泛應用在通信、控制、視頻、信息處理、消費電子、互聯網、汽車以及航空航天等諸多領域。在FPGA被使用之前需要進行充分的測試，以保證FPGA器件的可靠性。

對FPGA進行功能測試可分為3個主要步驟：首先，給FPGA配置內建測試向量；其次，在配置完成后需要根據內建測試向量在相應的引腳加外部測試向量集；最后，通過觀察輸出引腳的現象來分析判斷芯片的好環。

本文介紹一種基于XDL(Xilinx Design Language)語言的FPGA內建測試向量的編寫方法。第一部分概述了本文研究的內容及意義。……