李 妍
遼寧宜居尚雅科技有限公司
電子元器件的貯存可靠性及評價技術(shù)
李 妍
遼寧宜居尚雅科技有限公司
文章首先針對電子元器件貯存可靠性的意義與開展重要性層面展開分析,并總結(jié)了電子元器件使用過程中發(fā)生失效問題的主要原因,并分析了電子元器件失效的評價技術(shù)方法。
電子元器件;貯存可靠性;評價技術(shù)
電子元器件使用超過一定年限后,在安全性上會有明顯的下降,長時間處于這樣的環(huán)境下,也增大了元器件使用的危害性。對其貯存可靠性展開研究,能夠得出一個詳細的評判體系,了解在使用期間所遇到的問題,以及需要進一步完善優(yōu)化的設(shè)計內(nèi)容,最大程度的降低使用隱患,在電子元器件達到安全使用年限前,可以采取維修或者更換的方法來避免故障問題發(fā)生。貯存性能是電子元器件使用安全性的一個具體體現(xiàn),對其可靠性進行研究會整理全面數(shù)據(jù),達到一個更理想的使用效果,這也是傳統(tǒng)方法中所難以實現(xiàn)的,對于貯存可靠性的深入研究,現(xiàn)場會采取技術(shù)性方法來診斷其中所存在的隱患。通過這種可靠性研究并結(jié)合評價技術(shù)來了解其使用性能,對于電子元器件功能實現(xiàn)也起到了保障作用,在安全時間內(nèi),可以達到理想的使用效果。
1、國內(nèi)電子元器件貯存失效形式及原因
我國的電子行業(yè)發(fā)展起步較晚,在所應(yīng)用過程中大部分故障問題都是由于使用中的外線損壞所造成的,對功能也帶來了直接性的影響。元器件的焊接問題也是比較嚴重的,元器件與焊接線路之間銜接不合理,最終造成了嚴重的安全故障隱患。檢修時間設(shè)置不合理也是造成此類問題的主要原因,間隔過長時間導(dǎo)致電子元器件使用隱患問題不能及時被發(fā)現(xiàn),長時間在這樣的環(huán)境下也增大了運行使用中的電能損耗,保護裝置失去了對電流荷載的控制作用,通過過多的電流導(dǎo)致電子元器件燒毀,也不利于使用功能實現(xiàn)。當前國內(nèi)的檢測評價技術(shù)仍然需要提升,針對檢測結(jié)果方面的研究也缺乏全面性,需要在技術(shù)方面強化研究。
2、國外電子元器件貯存失效形式及原因
國外電子行業(yè)發(fā)展起步較早,在相關(guān)技術(shù)上也較國內(nèi)更為成熟。從國外電子行業(yè)市場整體情況進行研究,可以發(fā)現(xiàn)導(dǎo)致這一問題的主要原因是所開展的設(shè)計連接中存在不合理現(xiàn)象。電子元器件自身使用功能是十分完善的,但受連接過程中的多種因素影響,并不能到達預(yù)期的設(shè)計使用效果,也增大了設(shè)備發(fā)生故障隱患的幾率。電阻器在使用中主要發(fā)揮著線路的保護作用,一旦其喪失效果,接下來的功能也將會受到影響,由于電阻器的使用功能受到限制,所造成的影響問題也十分嚴重,連接后對電子元器件不能發(fā)揮保護作用,在使用期間所遇到的問題表現(xiàn)多樣性,在檢測過程中也很難發(fā)現(xiàn)造成這一問題深層次原因。
1、現(xiàn)場貯存、長期貯存試驗評價
電子元器件貯存可靠性分析評價中,可以通過試驗的方法來檢測是否在運行方面存在故障問題。試驗需要同時針對多種元器件來進行,在開展過程中技術(shù)人員對所檢測得到的數(shù)據(jù)進行記錄,將其錄入到系統(tǒng)中,通過系統(tǒng)的分析檢測來發(fā)現(xiàn)其中存在的問題,這樣對電子元器件的貯存性檢測效果也更全面。同時電子元器件的使用也受周邊環(huán)境因素影響,在試驗過程中環(huán)境因素也是需要考慮,觀察在不同環(huán)境下電子元器件的貯存性變化,試驗是在相同的環(huán)境下,通過改變電子元器件類型來達到理想檢測效果的,對于使用期間可能會出現(xiàn)的問題,在試驗中也都能夠反映出來,繼續(xù)加強使用中的隱患分析,才能夠進一步解決電子元器件的使用安全性下降問題。
試驗要以成本節(jié)約為原則來開展,這樣能夠最大限度的減少使用損壞的問題,避免因電子元器件損壞帶來不必要的成本增大問題,在研究問題中,加強各個系統(tǒng)之間的相互配合,通過配合性來開展更全面的設(shè)備使用功能,這樣使用一段時間后所發(fā)現(xiàn)的問題也能更及時的解決,加強隱患控制對貯存性研究也是十分有利的,常規(guī)使用狀態(tài)下可能發(fā)生的問題在貯存性研究中也能發(fā)揮規(guī)劃的作用。
2、極限應(yīng)力評價
極限應(yīng)力技術(shù)是通過極端使用環(huán)境營造來檢測電子元器件的使用安全性,在這樣的環(huán)境下,發(fā)現(xiàn)任何問題都能從多方面探討原因,極限應(yīng)力檢測中能夠通過多方面因素的探討,檢驗電子元器件使用過程中應(yīng)對極限情況的能力,并幫助提升系統(tǒng)穩(wěn)定性。極限應(yīng)力越強,在使用中設(shè)備儀器的老化現(xiàn)象也能得到更好的控制,這一點是其他方法中所不存在的,也是極限應(yīng)力技術(shù)應(yīng)用所針對的主要內(nèi)容。在開展這一檢測前,需要針對電子元器件的各項功能進行建模處理,依據(jù)模型基礎(chǔ)上將數(shù)據(jù)一次錄入到其中,通過系統(tǒng)完成自動化檢測,與人工分析相比較結(jié)果可靠性有明顯提升,對于不同使用階段的電子元器件,檢測所使用的方法也要做出差異性區(qū)分。
3、加速貯存壽命試驗
試驗方法應(yīng)用雖然能夠解決問題,但在成本上也比較大,普通的電子行業(yè)使用是很難承受這一成本支出的,通過加速貯存壽命試驗?zāi)軌蜻_到一個檢測的效果,在成本上也有明顯降低。當前的檢測以及評價技術(shù),正在向新型技術(shù)創(chuàng)新來轉(zhuǎn)變,能夠幫助解決更多電子元器件使用中所發(fā)生的沖突問題,在對使用中速度下降的問題,通過加速壽命試驗,能夠模擬出電子元器件使用一段時間后的運行狀態(tài),技術(shù)人員再根據(jù)所檢測得到的結(jié)果來分析是否需要更換組件,并作出更優(yōu)化合理的組件選擇方法。技術(shù)評價的最終結(jié)果是對電子組件有一個全面的理解,并根據(jù)所需要的技術(shù)性功能來選擇更合理的組合配套方法。
對比以上三種評價方案,在技術(shù)方面所遇到的問題都能夠采取組合優(yōu)化的方法來繼續(xù)深入解決,雖然每一種方法都存在技術(shù)層面的缺陷,但根據(jù)具體情況來進行探討,也能夠達到理想的評價狀態(tài),這也是單一評價方法中所不能達到的,同時也關(guān)系到未來電子元器件在精密程度與使用安全性方面的發(fā)展。
總之,由于一些特殊裝備或特殊電子元器件會在某種特定的條件下長期處于“長期貯存,一次使用”的狀態(tài)。因此保持電子元器件的穩(wěn)定性具有十分重要的意義。介于目前電子元器件在長期貯存條件下的實效形式和原因。使用長期貯存試驗評價技術(shù),極限應(yīng)力評價技術(shù),加速貯存壽命試驗技術(shù)可以對電子元器件的貯存可靠性進行評價,進而找出相應(yīng)的解決措施。
[1] 電子元器件的貯存可靠性研究[J].李坤蘭,邱森寶.電子元件與材料.2010(09)