結(jié)構(gòu)參數(shù)對(duì)彈上電子設(shè)備雙層減振系統(tǒng)減振性能的影響規(guī)律研究

姚建軍,向偉榮,閆紅松,甄 瑞,余盛強(qiáng)

(北京自動(dòng)化控制設(shè)備研究所,北京 100074)

結(jié)構(gòu)參數(shù)對(duì)彈上電子設(shè)備雙層減振系統(tǒng)減振性能的影響規(guī)律研究

姚建軍,向偉榮,閆紅松,甄 瑞,余盛強(qiáng)

(北京自動(dòng)化控制設(shè)備研究所,北京 100074)

針對(duì)彈上電子設(shè)備雙層減振系統(tǒng)結(jié)構(gòu)參數(shù)設(shè)計(jì)問題,研究了一二級(jí)減振系統(tǒng)的頻率比、質(zhì)量比、阻尼比對(duì)雙層減振系統(tǒng)在隨機(jī)振動(dòng)激勵(lì)下的絕對(duì)加速度響應(yīng)峰值、全頻段的加速度響應(yīng)均方根值、高頻段的加速度響應(yīng)均方根值、相對(duì)位移響應(yīng)均方根值、耦合頻率等動(dòng)力學(xué)參數(shù)的影響規(guī)律,得出一般性的結(jié)論,并探討了雙層減振技術(shù)的應(yīng)用,可為彈上電子設(shè)備雙層減振系統(tǒng)的減振性能設(shè)計(jì)提供理論支撐。

雙層減振;隨機(jī)振動(dòng);響應(yīng)特性

0 引言

導(dǎo)彈等航天器在空中飛行的過程中,由于邊界紊流等的影響而受到強(qiáng)烈的隨機(jī)振動(dòng)激勵(lì)。振動(dòng)造成彈上電子設(shè)備性能下降或電子元器件損壞而影響正常工作。減振設(shè)計(jì)歷來是彈上電子設(shè)備環(huán)境適應(yīng)性設(shè)計(jì)的重點(diǎn)和難點(diǎn)。在電子設(shè)備對(duì)振動(dòng)環(huán)境不太敏感或環(huán)境條件不太惡劣的情況下,對(duì)設(shè)備整體或設(shè)備內(nèi)部的易損部件通過減振器進(jìn)行單層減振通常是可行的。但當(dāng)設(shè)備對(duì)振動(dòng)環(huán)境特別敏感或者振動(dòng)環(huán)境特別惡劣而使單層減振難以滿足要求的情況下,人們便把目光投向雙層減振。所謂雙層減振,就是將設(shè)備或設(shè)備內(nèi)部的部件通過減振器等裝置柔性地聯(lián)結(jié)到已經(jīng)經(jīng)過一級(jí)減振的基礎(chǔ)結(jié)構(gòu)上進(jìn)行二次減振,其力學(xué)模型如圖1所示。……