IEC 62228-2：2016中對(duì)靜電放電試驗(yàn)的要求

侯新偉，許龍

(中國(guó)電子技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)化研究院，北京，100007）

IEC 62228-2：2016中對(duì)靜電放電試驗(yàn)的要求

侯新偉，許龍

(中國(guó)電子技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)化研究院，北京，100007）

介紹了IEC 62228-2：2016《集成電路 收發(fā)器的EMC評(píng)估-LIN收發(fā)器》（以下簡(jiǎn)稱(chēng)IEC 62228-2：2016）中靜電放電試驗(yàn)的試驗(yàn)配置和方法要求，詳細(xì)討論了直接放電和間接放電在試驗(yàn)中的實(shí)際應(yīng)用。

IEC 62228-2；ISO 10605；IC；ESD；LIN

0 引言

近日IEC公布了關(guān)于集成電路（IC）電磁兼容（EMC）測(cè)量的新標(biāo)準(zhǔn)IEC62228-2:2016。作為集成電路電磁兼容標(biāo)準(zhǔn)體系中的一員，IEC 62228-2:2016定義了LIN收發(fā)器IC的EMC評(píng)價(jià)方法，其規(guī)定主要包括了對(duì)試驗(yàn)配置、試驗(yàn)條件、試驗(yàn)信號(hào)、失效等級(jí)、試驗(yàn)步驟和試驗(yàn)板等的諸多要求，適用于標(biāo)準(zhǔn)的LIN收發(fā)器IC以及帶有嵌入式LIN收發(fā)器IC的EMC測(cè)量。

對(duì)于處于運(yùn)行模式下的LIN收發(fā)器IC的試驗(yàn)評(píng)價(jià)，IEC 62228-2：2016引用的IEC 61967-4、IEC62132-4和IEC62215-3分別針對(duì)射頻傳導(dǎo)發(fā)射、直接功率注入和脈沖傳導(dǎo)抗擾度試驗(yàn)（參見(jiàn)表1）規(guī)定了具體試驗(yàn)條件和測(cè)量方法。ISO 10605是汽車(chē)整車(chē)及電子零部件靜電放電（ESD）試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)，針對(duì)無(wú)源模式下LIN收發(fā)器IC的ESD評(píng)價(jià)，本標(biāo)準(zhǔn)雖然參考引用了ISO 10605，但針對(duì)芯片級(jí)別的ESD試驗(yàn)要求必然有所差異，以下將進(jìn)行具體闡述。

表1 IEC 62228-2試驗(yàn)項(xiàng)目和要求

2 試驗(yàn)條件和測(cè)量管腳

IEC 62228-2：2016中規(guī)定對(duì)LIN收發(fā)器IC進(jìn)行ESD試驗(yàn)前后要進(jìn)行功能驗(yàn)證及I-V特性曲線(xiàn)驗(yàn)證。因此，對(duì)于所有運(yùn)行狀態(tài)下的測(cè)量，需要設(shè)置基于12V的供電電壓，而對(duì)于不加電時(shí)的靜電放電試驗(yàn)條件應(yīng)遵循ISO 10605的規(guī)定。

IEC 62228-2:2016中對(duì)標(biāo)準(zhǔn)LIN收發(fā)器IC進(jìn)行ESD試驗(yàn)規(guī)定了三個(gè)受試管腳，分別是管腳LIN、管腳VSUP和管腳Wake，受試管腳詳情參見(jiàn)圖1。對(duì)于嵌入式LIN收發(fā)器IC，受試管腳至少應(yīng)為管腳LIN和管腳VSUP。……