基于V93000 ATE的大電流測(cè)試方法研究

趙 樺，王建超

（中國(guó)電子科技集團(tuán)公司第五十八研究所，江蘇 無(wú)錫 214072）

基于V93000 ATE的大電流測(cè)試方法研究

趙 樺，王建超

（中國(guó)電子科技集團(tuán)公司第五十八研究所，江蘇 無(wú)錫 214072）

在當(dāng)今超大規(guī)模集成電路的設(shè)計(jì)中，特別是在系統(tǒng)芯片SOC設(shè)計(jì)中，大電流電路已經(jīng)非常普遍。實(shí)現(xiàn)對(duì)大電流電路的測(cè)試是集成電路測(cè)試中一個(gè)十分重要的內(nèi)容。V93000集成電路測(cè)試系統(tǒng)是一款可擴(kuò)展型平臺(tái)，它集合了數(shù)字測(cè)試、模擬測(cè)試和射頻測(cè)量等資源。通用性的電源供電資源可實(shí)現(xiàn)最大到100 A的電流測(cè)試。

測(cè)試技術(shù)；ATE；大電流

1 引言

在當(dāng)今超大規(guī)模集成電路的設(shè)計(jì)中，特別是在系統(tǒng)芯片SOC的設(shè)計(jì)中，大電流電路的設(shè)計(jì)方法已經(jīng)非常普遍。大電流電路的測(cè)試是集成電路測(cè)試中一個(gè)十分重要的內(nèi)容，隨著電路電流的不斷增大，如何提供或者測(cè)試幾十安培或者幾百安培的電流同時(shí)又能保證測(cè)試精度成為了一個(gè)難題。

V93000集成電路測(cè)試系統(tǒng)是一款可擴(kuò)展型平臺(tái)，它集合了數(shù)字測(cè)試、模擬測(cè)試和射頻測(cè)量等資源。Per-pin程序控制確保靈活的I/O端口分配和并行執(zhí)行多個(gè)領(lǐng)域的功能。通用性和可擴(kuò)展的電源供電資源的測(cè)量能力能夠?qū)崿F(xiàn)高精度的小電流測(cè)量，又可以實(shí)現(xiàn)最大到100 A的電流測(cè)量。V93000集成電路測(cè)試系統(tǒng)為實(shí)現(xiàn)這兩種看似矛盾的測(cè)試方法，提供了一種稱為“Ganging”的方法。

2 Ganging的基本原理

Gang在英文中是“一幫、一伙、一組”的意思。V93000集成電路測(cè)試系統(tǒng)利用類似的理念，將V93000集成系統(tǒng)中的基本單元如PMU的pin、MS_DPS電源的pin等相同類型的pin腳組合在一起，形成一組以達(dá)到大電流的測(cè)量輸出。……