湯凱亦 內蒙古自治區民航機場集團有限責任公司呼和浩特分公司
機場通信導航臺站接地技術與方法研究
湯凱亦 內蒙古自治區民航機場集團有限責任公司呼和浩特分公司
當前通信和導航臺站的接地裝置已經較為復雜,并且在實際應用中存在許多的不同性質、類型的接地技術。但是,因為場地、經費、系統特殊性等方面的因素影響,導致通信和導航等工程的建設仍然是存在許多問題,例如故障頻發,導致系統工作質量嚴重受損。對此,本文詳細分析機場通信導航臺站接地技術與方法。
機場通信 導航臺站 接地技術與方法
接地這一技術看似相當簡單,但是在實際應用中確實非常復雜。對于電子通信工程而言,接地的含義是將電平參考點作為基礎,將設備與基礎進行連接的方式,接地線的定義是電流返回到源頭的低阻抗通道。隨著電子設備不斷增多,機場通信導航臺站中的電子干擾情況越發嚴重,這也間接影響著接地技術的應用。對此,探討機場通信導航臺站接地技術與方法具備顯著意義和價值。
將系統和大地或公共地線隔離開,同時懸浮和地的絕緣電阻普遍在50MΩ以上,便成為懸浮接地。懸浮接地的優勢在于三點,第一點是接地位置處于電路系統的浮點,其能夠有效的抑制住其他地線系統的影響;第二點是機場通信導航站臺的電源浮點接地,能夠顯著減少對系統本身的腐蝕性影響,使用壽命更長;第三點是在照明系統采用浮點接地,其能夠在漏電的情況下規避點擊對人體的影響。但是,浮點接地也存在一些缺陷,例如設備不是和大地直接連接,系統的基礎電位會發生漂浮,所以有可能會形成噪音干擾,并且有可能形成靜電積累,在積累到一定程度之后會適當靜電并形成擊穿,導致設備損壞。
在系統和設備應用單獨行的地線或獨立的地網接地的時候,便成為獨立接地。假設周邊存在兩個獨立接地的設備,其中一個設備無論是否存在電流的通過,對于另一個設備都會形成任何的電位影響。理論上而言,兩種接地裝置的間距在無限遠的情況下可以當做是完全獨立,但是在實際的工程當中一般間距超過15米的時候,便可以忽略地網之間的電位影響。獨立接地的優勢在于結構相當簡單,單一性的設備接地或接地場地便可以應用這一種方式,缺陷在于有可能導致環路干擾。
公用接地主要是將多種設備連接到一個接地網當中從而達到接地的效果。其中,最為典型的便是共母線的接地方式。在不同性質的地線和多種子系統地線串、并聯到一個公共接地點時便成為共母線接地。因為將所有設備應用一條母線連接到網絡當中,所以也成為串聯或并聯單點接地。公用接地的優勢在于施工方式簡單,電路設計簡單。缺陷在于每一個系統的接地回路和其他子系統接地回路存在重疊的情況,很容易導致地線噪聲干擾。
為了更好的保障機場通信導航臺接地質量,需要及時對接地質量進行檢查,在接地電阻的檢測過程中,可以按照下列的順序進行檢測:1、明確具體的檢測內容和對象。導航臺站當中的接地電阻具體檢測內容是導航臺站在接地施工過程中所采用的接地電阻檢測;2、明確檢測的憑據和標準。按照導航臺站施工質量驗收標準作為基本規定,并根據導航臺站的具體特點添加具體的檢測要求,檢測接地設施的電阻值并需滿足相應的設計和保護性要求,除此之外每一個導航臺站的接地電阻都必須能夠滿足設計部門的設計圖紙要求,一般有3個方面,第一個方面,按照相關規定以及工作人員的工作經驗進行檢測,一般導航臺站的防雷接地電阻不能超過10歐姆。第二個方面,導航臺站的接地設施和計算機系統同時接地的時候,其聯合接地的電阻值均不能超過1歐姆。第三個方面,導航臺站的接地設備在和其他供電系統公用接地系統時,聯合的接地電阻值不能夠超過4歐姆;3、檢測導航臺站環境。按照相關規定,對導航臺站的環境進行嚴格的檢測,在計算機接地電阻檢測的過程中,需要先對土壤當中的環境進行細致性考察。例如干旱、土壤凍結等現象會嚴重影響接地設施的有效性,所以在檢測接地電阻之前對導航臺站周邊的外界環境進行細致的分析,并分析不同季節、不同環境之下的接地電阻值具體要求;4、對導航臺站的導航臺站接地電阻檢測的具體方式。在實際的檢測過程中,測量導航臺站的導航臺站接地電阻方式非常多,例如電壓表、電流表測量,補償法以及電橋法等。例如,以我市某房地產公司為例,其借助ZC29B2型號的接地電阻測量儀測量接地電阻的具體方式是按照補償法的檢測原理進行改造的。
綜上所述,因為導航臺站當中存在著許多的電子設備,為了規避相互支架不影響,可以按照系統要求設計局部性的電位連接。在設備工作范圍屬于直流或低頻時,其自身的電壓電平與功率需要降低,同時對市電頻率、高頻的共模噪聲具備較為明顯的共模抑制比,此時便可以采用浮點接地的方式處理。在實際工作中,需要根據實際情況不斷的改進和優化接地技術,從而保障機場通信導航臺站的安全性。
[1]王永慶,代傳金,趙修斌,等.PAR輔助光電設備的飛機著陸監測與評估系統設計[J].航空學報,2016,37(12):3803-3810.
[2]趙馨,牛俊坡,劉云清,等.導航衛星中激光通信/測距一體化技術及鏈路特性分析[J].激光與光電子學進展,2015,52(6):79-85.