第三代等離子技術產品在華發布可安全高效實現氣體分離與檢測

2018年 6月23日，作為全球等離子發射檢測器主要供應商LDETEK公司授權的中國區技術服務中心，北京華宇博泰科技發展有限公司在北京發布了5項氣體分析檢測新技術及相應新設備產品。這意味著世界先進的氣體分析檢測技術設備將便捷高效地服務于國內企業。

會上發布的氣體分析檢測新技術包括第三代低溫等離子發射技術、氧氬分離技術、痕量氖(Ne)的分析技術、氮氣做載氣的等離子體發射技術，相應的新設備則包括基于第三代等離子發射技術而開發的MD2(MultiDetek第二代)專用氣相色譜儀和PlasmaDetek 3檢測器等。

據北京華宇博泰科技發展有限公司總經理黎文宇介紹，第三代等離子發射技術的發布和應用，為我國的氣體產業升級、石油化工、冶金、環保、生化醫療等領域提供了一種高效分析手段，特別在氣體微量含量分析領域具有應用優勢，LDETEK成為世界上首家擁有此技術的廠家?；谶@一技術，該公司開發了一系列衍生技術和產品。其中，氧氬分離技術采用了專有的色譜柱和光譜濾光技術，可減少檢測的中間環節以及誤差和誤操作，提高安全性，適用于高純氣體、特種氣體、電子氣體行業的分析應用;痕量Ne的分析技術已在中國計量院等單位得到了應用和驗證，對Ne的檢測有很高的響應度，可以實現1ppb等級的痕量Ne分析;氮氣做載氣的等離子體發射技術可以替代火焰離子化檢測儀(FID)，檢測烴類、揮發性有機化合物(VOCs)等氣體，可達到ppb級分析靈敏度，且運行成本極低。

“基于第三代低溫等離子發射技術，LDETEK開發出MD2專用氣相色譜儀新產品和PlasmaDetek 3檢測器產品。” MD2專用氣相色譜儀可實現用N2作為載氣、氧氬分離以及痕量Ne檢測。與MD2色譜儀配套的PlasmaDetek 3檢測器產品不僅可更換濾光片、可加熱，還具有多方面的應用優勢。一是具有較高的選擇性，可最大程度避免主組分干擾，且其直線型結構可實現無死體積、吹掃快速。二是根據不同的檢測要求，氦(He)、氮(N2)、氬(Ar)、氖(Ne)均可作為載氣，且檢測過程無放射性、無放電電極，能避免載氣或樣品氣的污染。三是檢測靈敏度高，同等條件下，可達0.5ppb～1ppb的檢出限，特別對苯、VOCs等氣體雜質均有很高的響應，如Ne、H2S、COS、C6H6均能達到1ppb檢出限。四是不需使用脫氧肼或脫氧柱就能實現對O2、Ar的直接檢測。

北京市華宇博泰專業提供微量痕量氣體分析儀器和分析應用技術，集氣體分析業務的設計、生產、集成、銷售、服務為一體，可實現一站式的“交鑰匙工程”服務。由華宇博泰主導制訂的國家推薦性標準《氣體分析—等離子發射色譜法》已于去年8月完成所有測試和審核，將為氣體生產及應用等行業提供一套可靠的微量痕量分析方法。