李海 張海瑞 張瀚元 蓋大圣 齊偉
扁平足一直沒有明確、公認(rèn)的定義,它是常見的足部畸形疾病,指的是正常足弓的缺失或足弓塌陷。扁平足的分類也較多,目前普遍認(rèn)同的是根據(jù)其形成特點(diǎn)、軟組織病理改變分為易變性和僵硬性扁平足兩類。目前,由于人們生活水平的提高,偏胖的人群越來越多,同時(shí)穿高跟鞋和休閑鞋的人也越多,以至于扁平足在青少年、成年男女中比例不斷增加。及時(shí)準(zhǔn)確的檢測出扁平足,對扁平足的矯形治療效果越好。所以對扁平足的檢測方法認(rèn)知有著重要意義。
目前扁平足的檢測方法主要有形態(tài)測量法、足印分析法、影像學(xué)檢查法。
該方法是通過測量足長L(跟點(diǎn)至趾尖點(diǎn)之間的最大直線距離),測量足背高H(脛骨前下點(diǎn)至地面的垂距)。依據(jù)M.O“弗里德良指數(shù)”計(jì)算足弓指數(shù)F=(H/L)×100。評定:正常足,F(xiàn)值為27~29;輕度扁平足,F(xiàn)值為25~27;重度扁平足,F(xiàn)值小于25[1]。這種測量方法,方便、簡單,易于操作和推廣,但相對的精確度不高。
足印分析是一種簡單、快速、經(jīng)濟(jì)的測量方法。通過足印分析間接診斷扁平足,由于其方便和高效,被廣泛用于評價(jià)足弓的降低以及跟骨外翻。通過測量足印圖可以對足進(jìn)行分類,評價(jià)內(nèi)側(cè)足弓高度和跟骨外翻程度等。目前已經(jīng)有多種方法可以用于足印的采集工作。例如:Harris Mat足印、電容傳感器足印、墨水足印、鏡像照片足印、足底壓力足印等。
1.2.1 劃線法 劃線法也叫三線法,是畫足弓內(nèi)緣切線為第一線,自第三趾中心至腳跟正中畫線為第二線,一、二線相交成角,畫該角的等分線為第三線。三線將足印分成內(nèi)側(cè)、中間、外側(cè)。正常足足弓內(nèi)緣在外側(cè)部分,輕度和中度扁平足的足弓內(nèi)側(cè)分別在中間和內(nèi)側(cè),重度患者足弓內(nèi)緣超出內(nèi)側(cè)部分[2],如圖1所示。
1.2.2 比值法 比值法是在足印的拇趾內(nèi)側(cè)至足跟內(nèi)側(cè)緣畫一切線,過足印最凹處做最凹處切線的垂線,并延長與兩側(cè)相交,此垂線與基線,足印內(nèi)、外側(cè)緣分別相交于a、b、c 3點(diǎn)(圖2),測量ab和bc距離,根據(jù)ab/bc的比值將足印足弓分為9個(gè)類型。Ⅰ型(1∶ 0)為拱形足弓,Ⅱ型(3∶ 1),Ⅲ型(2∶ 1),Ⅳ型(1.5∶ 1)為常態(tài)足弓,Ⅴ型(1∶ 1)為中間型,Ⅵ型(1∶ 1.5)為輕型扁平足,Ⅶ型為中度扁平足(1∶ 2),Ⅷ型(1∶ 3)、Ⅸ型(0∶ 1)為重度扁平足[3]。

圖1 劃線法
1.2.3 Harris Mat足印圖測量足印角及C-S指數(shù)法 受試者需以雙足負(fù)重站立于Harris足印測量板上,時(shí)間至少為5 s,保證站立重心的穩(wěn)定,所得到的即為Harris足印。采集到的足印通過掃描,并應(yīng)用計(jì)算機(jī)輔助進(jìn)行測量。由足印凹陷的前半向第一跖趾關(guān)節(jié)引一直線,此線與足印內(nèi)緣基線之間的夾角為足印角。足弓最小寬度與前足最大寬度的比值為C-S指數(shù)。足印角正常足弓>42°形態(tài)學(xué)扁平足為0°~29°足印角隨著扁平足嚴(yán)重程度的增加而減小,C-S指數(shù)正常足弓為0.1%~29.9%,中間足弓為30.0%~39.9%,足弓降低為40.0%~44.9%,如圖3所示。C-S指數(shù)隨著扁平足嚴(yán)重程度的增加而增大[4]。因此足印角和C-S指數(shù)是測量和評價(jià)內(nèi)側(cè)縱弓的可靠指標(biāo);足印圖測量結(jié)果有助于扁平足的早期診斷和分級,并指導(dǎo)扁平足的二級預(yù)防。
由于近些年計(jì)算機(jī)領(lǐng)域的高速發(fā)展,還有一些基于足印圖像采集后通過計(jì)算機(jī)技術(shù)結(jié)合均值算法等開發(fā)出的扁平足檢測設(shè)備,但還沒有廣泛的應(yīng)用于實(shí)際。

圖2 比值法

圖3 足印角(a)C-S指數(shù)(c/b%)
1.3.1 負(fù)重位的X線檢查法 X線檢查亦是評價(jià)足部結(jié)構(gòu)的重要方法,應(yīng)用足部負(fù)重位X線測量的方法,可以對扁平足畸形進(jìn)行診斷和評估。
(1)扁平足X線負(fù)重正位片的測量和評估。①跟骨距跟角:是指距骨縱軸與跟骨縱軸之間的夾角,是判斷正常足與先天性畸形足的常用測量角度。正常足平均為15°~30°[5]。②距舟覆蓋角:距骨關(guān)節(jié)面最內(nèi)側(cè)與最外側(cè)兩點(diǎn)連線,舟骨關(guān)節(jié)面最內(nèi)側(cè)與最外側(cè)兩點(diǎn)連線,這兩條直線垂線的夾角即為距舟覆蓋角。正常人平均:10°(14°),扁平足平均≥22°[6]。③距骨第2跖骨角:距骨頸取兩條平行線,其中點(diǎn)的連線與第2跖骨軸線之間的夾角。正常足:<16°(3~6°)。④距骨第1跖骨角:距骨頸取兩條平行線,其中點(diǎn)的連線與第1跖骨軸線之間的夾角。正常足平均0°,扁平足平均 16.5°[7]。
除上述幾種測量及評價(jià)指標(biāo)外,扁平足負(fù)重位正位片還有對跟骨骰骨角、跟骨第5跖骨角、距舟關(guān)節(jié)不吻合角、距舟關(guān)節(jié)不吻合距離的測量和評價(jià)指標(biāo)。
(2)扁平足X線負(fù)重側(cè)位片的測量和評估。①距骨第1跖骨角(meary角):距骨線與第一跖骨線的夾角。其對扁平足的嚴(yán)重程度進(jìn)行分類,即正常足的距骨第1跖骨角為(0±4)°,輕度扁平足的距骨第1跖骨角為4°~15°,中度扁平足的距骨第1跖骨角為15°~30°,重度扁平足的距骨第1跖骨角>30°[8]。②內(nèi)側(cè)縱弓角:自距舟關(guān)節(jié)隙下方向前至第一跖骨頭下緣引一直線,向后到跟骨結(jié)節(jié)下方引另一直線,兩線之間的夾角。內(nèi)側(cè)縱弓角的正常值為113°~130°,扁平足時(shí)角度變大。③外側(cè)縱弓角:自跟骰關(guān)節(jié)隙下方向前至第五跖骨頭下緣引一直線,向后到跟骨結(jié)節(jié)下方引另一直線,兩線之間的夾角。外側(cè)縱弓角的正常值為130°~150°,扁平足時(shí)角度變大。④跟骨傾斜角(Pitch角):跟骨下緣連線與跟骨下緣與第一跖骨頭下緣連線的夾角。足弓正常:20°~30°,足弓升高:>30°,足弓降低:10°~ 20°[9]。
除上述幾種測量及評價(jià)指標(biāo)外,扁平足負(fù)重側(cè)位片還有對跟骨傾斜角、脛骨跟骨角、距骨傾斜角、第1跖楔關(guān)節(jié)高度、第1跖楔關(guān)節(jié)裂隙等的測量和評價(jià)。
1.3.2 核磁共振成像與計(jì)算機(jī)三維重建技術(shù)法 此方法由北京師范大學(xué)侯曼等人與清華大學(xué)、臺北體育學(xué)院合作研究,利用MRI圖像和計(jì)算機(jī)三維重建技術(shù),對足骨組織結(jié)構(gòu)和外形進(jìn)行三維重建。在研究過程中,讓受試者的雙足按矢狀軸,從足跟到足趾端進(jìn)行MRI掃描拍攝。每張圖片厚度3 mm。此方法用圖像較準(zhǔn)確地再現(xiàn)足的主要結(jié)構(gòu)及形態(tài),對扁平足的檢驗(yàn)較準(zhǔn)確,而且可檢出用其他方法無法檢出的畸形足,利于深入研究扁平足形成的原因及扁平足的形態(tài)特征[10]。
綜上所述,各種檢測方法都有各自的優(yōu)缺點(diǎn),首先,形態(tài)測量法、比值法和劃線法雖然只能粗略的檢測,準(zhǔn)確性相對也低,但是它們簡易方便、成本低、耗用小、用時(shí)短,所以適用于普通的、大范圍的篩查。而X線影像學(xué)測量法相對準(zhǔn)確性更高,并且可以發(fā)現(xiàn)產(chǎn)生扁平足的病因。但同時(shí)也存在著投入成本較高、檢測效率相對低、X射線輻射危害、X線的足部拍攝方法及各種評價(jià)指標(biāo)的測量方法不統(tǒng)一等問題。對于磁共振成像結(jié)合計(jì)算機(jī)三維重建技術(shù)的方法,其精確度更高,再現(xiàn)足的三維模型對扁平足矯形手術(shù)術(shù)式的選擇、扁平足成因的研究都有很好的指導(dǎo)作用。但其成本更高,后期的處理也較復(fù)雜,難以大范圍推廣應(yīng)用。
所以目前基于足印分析法和X線影像學(xué)是主要的檢測診斷方法,兩者亦可相互結(jié)合,互相補(bǔ)充。未來希望通過科技的發(fā)展和新技術(shù)的引入,使足印的采集和測量更快捷而準(zhǔn)確,使其更廣泛地應(yīng)用于扁平足的篩查和臨床診斷。亦希望X線影像學(xué)檢測能盡快統(tǒng)一足部拍攝、測量、評價(jià)標(biāo)準(zhǔn),更好的為扁平足診斷提供依據(jù)。
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中國衛(wèi)生標(biāo)準(zhǔn)管理2018年9期