熱性驚厥腦電圖改變對預測癲癇發作特點的關系探討

張國新

山東省聊城市冠縣中心醫院兒科，山東聊城 252500

熱性驚厥與年齡關系密切，多發于嬰幼兒時期。大多與遺傳因素有關。目前對其發病機制的研究尚未完全明了。其可能是受嬰幼兒大腦發育不完全，且易受外界刺激導致腦神經電位的興奮增強以及神經傳到速度增快有關，尤其是當腦神經元細胞異常放電，則臨床上往往表現為驚厥的發生。熱性驚厥的主要癥狀為突然的局部或全身肌群強直性和陣攣性抽搐，且絕大多數患者合并有意識障礙的出現[1]。熱性驚厥患者發生的年齡及復發率與其腦電圖檢測異常程度有密切聯系，同時也與其腦發育程度及遺傳有一定的聯系[2]。所以對于熱驚厥患兒，及時進行腦電圖的檢測，能有效的對患兒日后發生癲癇的特點做到一定的預測，故該研究選擇2016年1月—2017年6月該院收治的熱性驚厥患兒80例，探討其熱性驚厥臨床和腦電圖特征與日后癲癇發生特點關系，現報道如下。

1 資料與方法

1.1 一般資料

選擇該院收治的熱性驚厥患兒80例，入選標準：診斷為熱性驚厥；低于12歲,入組前與患兒家屬簽署知情同意書且申報醫院倫理委員會批準。排除標準：中樞神經系統感染者；其他原因引起的癲癇發作者。該研究經醫院倫理委員會批準。按照數字隨機法將入組患兒分為兩組，各40例，其中腦電圖正常組：男24例，女16例，年齡超過3歲者17例，≤3歲者23例，發熱時體溫超過39℃者24例，39℃以內者16例，存在癲癇家族史者4例，無癲癇家族史者36例；腦電圖異常組：男25例，女15例，年齡超過3歲者16例，≤3歲者24例，發熱時體溫超過39℃者25例，39℃以內者15例，存在癲癇家族史者5例，無癲癇家族史者35例，兩組性別、年齡、發熱持續時間及癲癇家族史等差異無統計學意義（P＞0.05）。

1.2 腦電圖檢查方法

采用日本光電公司的1200C型數字化腦電圖儀進行腦電圖檢查，采用10-20系統國際標準放置電極，在患者清醒或睡眠狀態均進行腦電圖的檢測。囑患兒安靜閉眼，保持清醒狀態下進行連續3次的測定，取平均值。清醒狀態下的腦電圖描記時間至少持續15 min，睡眠腦可延長至20 min。

1.3 研究方法及觀察指標

所有患兒入院后均使用腦電圖進行檢查，比較腦電圖檢查結果與癲癇發作的關系,并統計腦電圖結果與3月內癲癇發作次數及每次持續時間的關系。

1.4 統計方法

應用SPSS 13.0統計學軟件進行分析,計量資料以均數±標準差（±s）表示,兩組間均數的比較使用t檢驗，計數資料比較采用 χ2檢驗，用[n（%）]表示，P＜0.05為差異有統計學意義。

2 結果

2.1 腦電圖檢查結果與癲癇發作的關系

腦電圖顯示正常者其局灶發病的比率顯著高于腦電圖異常者（P＜0.05），其全身發病的比率顯著低于異常者（P＜0.05）。 見表 1。

表1 腦電圖檢查結果與癲癇發作的關系[n（%）]

2.2 腦電圖結果與3個月內癲癇發作次數及每次持續時間比較

腦電圖檢查結果顯示正常者其3個月內發作次數顯著少于異常者（P＜0.05），每次持續時間顯著短于異常者（P＜0.05）。 見表 2。

表2 腦電圖結果與3個月內癲癇發作次數及每次持續時間比較（±s）

表2 腦電圖結果與3個月內癲癇發作次數及每次持續時間比較（±s）

指標 發作次數(次) 每次持續時間（s）正常異常t值P值2.1±0.5 6.3±1.1 21.984 0.000 26.8±5.1 83.5±11.3 28.925 0.000

3 討論

目前對熱性驚厥其發病機制未完全明確，最廣為接受的觀點是，因嬰幼兒的興奮及抑制性神經遞質發育欠完善，即使受到較弱的外界電刺激，其神經元細胞也會出現極為強烈的興奮表現從而導致電傳導的擴散，引發神經元細胞的異常放電，臨床表現主要以驚厥甚至癲癇較為明顯[3]。同時該病還受遺傳因素影響，其中三代內近親存在因高熱而導致的癲癇后遺癥者，其患兒因高熱而遺留癲癇的可能性增加5倍以上[4]。熱性驚厥也是一種癇性發作，有部分患者一生中僅出現1次，亦有超過60%的患兒將遺留終生的癲癇發作史。熱性驚厥多發于6個月～4歲小兒。如發熱12 h內[5]，但很快就會消失，意識能夠較快恢復，且連續發作次數較少，消熱后7天腦電圖即可恢復正常，此為單純性高熱驚厥。而復雜性高熱驚厥多數發生在小于6個月或大于6歲的幼兒，初期表現為高熱驚厥，反復發作后轉為低熱或無熱性驚厥，發作次數隨著時間的推移而顯著增加，并合并有腦電圖檢查的持續異常，其臨床預后差，有超過25%的患兒轉變為癲癇[6]。

腦電圖可作為區別熱性驚厥與無熱驚厥和癲癇的重要診斷方法。研究發現驚厥的反復發作可顯著增加腦電圖的異常程度。腦電圖不同的波形其頻率有著較大差異。總體來說頻率慢波幅大，而頻率快波幅小。該研究發現，腦電圖顯示正常者其局灶發病的比率（47.5%）顯著高于腦電圖異常者（17.5%），其全身發病的比率（52.5%）顯著低于異常者（82.5%）（P＜0.05）。與劉偉等[7]研究結果稱，腦電圖顯示正常者其局灶發病的比率及全身發病率均在50%左右，均顯著低于異常者結果相符。頭皮上的電極能夠將大腦電活動形成圖案曲線，其能有效反映大腦的功能與狀態。如癲癇發作時異常放電，就可以通過電極進行捕捉，從而有助于癲癇診斷。局灶性癲癇發作的腦電圖檢查，主要表現為3次/s棘慢或尖慢波綜合。除棘波、尖波或棘慢綜合波等，癲癇患兒的腦電圖還有其它多樣性的表現，如驟發性波幅抑制、低電壓、單節律等。該研究針對腦電圖結果與3個月內癲癇發作次數及每次持續時間比較發現，腦電圖檢查結果顯示正常者其3個月內發作次數（2.1±0.5）次顯著少于異常者（6.3±1.1）次，每次持續時間(26.8±5.1)s顯著短于異常者(83.5±11.3)s（P＜0.05）。與唐靜文等[8]稱腦電圖結果與癲癇發作次數及每次持續均呈一定相關性，正常腦電圖者其癲癇發作次數及每次持續均顯著短于異常者，兩者結果一致。準確了解這些腦電圖有助于快速明確診斷。因此在治療熱驚厥過程中可充分利用腦電圖對治療進行指導。有部分患者在經過長期的治療后，雖然沒有再次發作，但其腦電圖仍存在異常波，在這種情況下就需要繼續治療預防復發。

研究稱[9-10]，熱驚厥發作1周內的腦電圖并不能作為預后的依據。因此在臨床上一般會在發作后12 d左右進行腦電圖檢查。但即使是腦電圖正常的幼兒也有一定幾率發生癲癇。在診斷過程中可充分利用腦電圖進行指導，以評估病情嚴重程度及治療效果。本組發現，腦電圖異常者以癲癇全身發作為主，同時其發作持續時間延長，發作次數更為頻繁。癲癇患者會在沒有誘因而經常性發生癇性發作，在發病期通過腦電圖能撲捉到棘波與尖波，與臨床治療結合，發現中央顳區出現棘波的患兒轉為良性癲癇可能性較大，但也有一定幾率轉為其他類型的癲癇。而良性癲癇預后良好，可通過藥物有效治療，且不會影響患兒的生長發育，多數在17歲左右停止發作。通過該研究可以認為：腦電圖檢查對于預測熱驚厥患兒癲癇發作狀態、持續時間及發作頻率有一定參考價值。

[1]陳志平.68例熱性驚厥兒童的腦電圖分析[J].吉林醫學,2011,32(18):3735.

[2]況玉玲.78例小兒熱性驚厥復發相關因素分析[J].中國中西醫結合兒科學,2012,4(4):355-356.

[3]任麗君.兒童熱性驚厥腦電圖的分析[J].中國中醫藥咨訊,2011,3(22):92.

[4]徐軍.復雜性熱性驚厥的腦電圖和預后分析[J].江西醫藥,2013,48(11):1053-1055.

[5]徐軍.復雜性熱性驚厥患兒臨床特征的初步研究[J].河北醫科大學學報,2012,33(6):710-712.

[6]鄒明艷,彭倩,尹映儀.腦電圖對熱性驚厥患兒預后評估的價值探討[J].實用預防醫學,2010,17(3).

[7]劉偉.熱性驚厥小兒腦電圖分析[J].中國社區醫師,2012,14(16):269-270.

[8]唐靜文,廖紅梅,王平,等.小兒熱性驚厥的臨床特點及腦電圖分析[J].中國醫師進修雜志,2011,34(22):57-58.

[9]張瑾,杜閩,馬衛東2.小兒熱性驚厥的腦電圖表現及轉歸[J].新鄉醫學院學報,2008,25(3):287-289.

[10]孫玉玲.小兒熱性驚厥與癲癇的腦電圖分析[J].中外健康文摘,2011,8(21):206-207.