熊珀藝,孫向明,黃光明,王 東
(華中師范大學像素實驗室 湖北 武漢 430079)
在現代通信系統中,隨著射頻技術的應用越來越廣泛,對射頻信號功率的測量精度要求也越來越高。傳統的射頻信號接收器采用混頻技術,將射頻信號與本地振蕩器作混頻,然后對混頻后的信號進行采樣分析,由于本地振蕩器帶來幅度噪聲很大,因此,傳統的射頻信號接收器對信號幅度的測量精度不高。近年來高速ADC芯片的產生,實現了對射頻信號的直接采樣,大大的提升了射頻功率的測量精度。本文介紹了一種基于高速ADC芯片的吸收式功率測量系統,分析了系統噪聲對測量精度的影響,估算出該功率測量系統的相對精度能夠達到10-7ppm(百萬分之一)。

圖1 高速ADC直接采樣射頻信號系統框圖
本文提出的射頻功率測量系統的結構如圖1所示,該系統的測量噪聲主要來源于ADC的量化噪聲、熱噪聲以及采樣時鐘的相位噪聲[1]。接下來給出系統噪聲功率理論計算步驟,該過程運用了ADC12J4000芯片參數做參考。
熱噪聲是由電子布朗運動引起的噪聲,它存在于所有電子器件和傳輸介質中[2]。由于絕對零度無法達到,因此熱噪聲是不能夠消除的。從圖1可以看出,負載R的的熱噪聲會直接混入ADC的輸入信號中,噪聲功率Pt可表示為

其中KB為玻爾茲曼常數,單位為焦耳/開爾文,T為絕對溫度,單位為開爾文,Δ?為帶寬,單位為赫茲。假設溫度T為290K,熱噪聲的帶寬Δ?為2GHz,得出熱噪聲功率Pt為3.2×10-11W。
連續時間信號傳入ADC后,我們需要對信號采樣。理想情況下,采樣間隔時間為常數,但實際上,時鐘抖動會為采樣結果帶來相位噪聲,假設被采樣的信號為g(t),相位噪聲電壓(RMS volts)2可以表示為[3]

其中σt是采樣時鐘的抖動,單位為(RMS seconds)。如果我們用一個簡單的正弦信號來表示g(t),例如

那么

如果正弦信號g(t)的頻率為1.3GHz,信號幅度A為1V,時鐘的抖動σt為100fs,可以算出σ2err為7.075×10-8V2,相位噪聲功率為1.415×10-9W,負載為50Ω。

信號采樣后會被ADC量化,此過程會給數據帶來量化噪聲。對于一個N位(ENOB)的ADC,量化器的最小分辨率Q為對于一個理想的量化過程,誤差電壓q(j)將在間均勻分布[4],并且均勻覆蓋所有的量化電平,因此量化噪聲電壓(RMS volts)2可表示為

假設N為10,Vfs為2V,可以算出其量化噪聲電壓為3.179×10-7V2,量化噪聲功率為6.358×10-8W,負載50Ω。
根據上述對系統噪聲的分析與計算,我們可以估算出測量系統總噪聲功率為6.5027×10-8W,從頻域中看,該噪聲均勻分布在每個頻率點上,那么總噪聲的功率譜密度可以表示為

其中Pnoise為總噪聲功率,單位為瓦特;fs為采樣時鐘的頻率,單位為赫茲。若被測信號頻率為f0,采樣時鐘頻率為fs,FFT數據長度為N,頻率分辨率為fres,可以表示為

那么在頻域內,頻率點f0處,由系統噪聲帶來的功率測量結果的均方差(RMS watts)可以表示為

如果不考慮快速傅里葉變換對信號功率的估算誤差,射頻功率測量的相對精度與系統噪聲的關系可以表示為

其中μP為功率測量結果的均值。假設N為1024,可以算出對μP為1mW的信號,測量的相對精度最高可達10-7。
為了驗證上述三種噪聲與信號功率測量精度的相關性,我們對一個已知信號疊加噪聲并進行采樣分析,其中被測信號為幅度1V,頻率310Hz的正弦信號,采樣時鐘為10KHz,對采樣數據作FFT變換,繪出的二維功率譜分布圖如圖2。由圖可知312.5Hz處信號功率的估算相對精度為111.79ppm,這是由系統噪聲與數據分析誤差共同作用的結果。表1列出了FFT數據長度與結果的相對精度之間的關系,隨著數據長度的提高,相對精度η慢慢變小,該結果與公式(13)基本吻合。

圖2 二維功率譜分布圖

表1 相對精度與傅里葉變換數據長度的關系
根據上述理論推導及仿真,可得出利用采樣率為4GHz、ENOB 10位的ADC直接測量毫瓦左右的射頻信號功率,只考慮系統噪聲的影響,測量的相對精度最高可達10-7。
[1]A.C.Ca'rdenas-Olaya,E.Rubiola,J.M.Friedt et al.Noise characterization of analog to digital converters for amplitude and phase noise measurements.Review of Scientific Instruments. 88:065108(2017).doi:10.1063/1.4984948
[2]J.B.Johnson.Thermal Agitation of Electricity in Conductors.Phys.Rev.32:97(1928).doi:10.1103/PhysRev.32.97
[3]P Smith.Little Known Characteristics of Phase Noise.Application Note AN-741,Analog Devices,Norwood, MA,USA,2004.
[4]H.B. Kushner, M.Meisner,A.V.Levy.Almost uniformity of quantization errors. IEEE Transactions on Instrumentation and Measurement.40(4):682-687(1991).doi:10.1109/19.85334