Match loop測(cè)試方法研究

崔海龍　田愛(ài)國(guó)

摘要：在數(shù)字芯片測(cè)試中，當(dāng)遇到芯片的數(shù)據(jù)輸出時(shí)間點(diǎn)不確定的情況時(shí)，測(cè)試儀無(wú)法編寫(xiě)嚴(yán)格時(shí)序的測(cè)試向量，而采用match loop向量編程的測(cè)試方法可有效的解決以上問(wèn)題。本文分析了兩種基本match loop方法，針對(duì)一款基帶芯片，采用match loop測(cè)試方法進(jìn)行了詳細(xì)的分析，最終完成測(cè)試。

關(guān)鍵詞：ATE；match loop；數(shù)字芯片測(cè)試；時(shí)鐘同步

中圖分類號(hào)：TN407 文獻(xiàn)標(biāo)識(shí)碼：A 文章編號(hào)：1007-9416（2018）04-0112-02

數(shù)字芯片以其優(yōu)于模擬芯片的先天優(yōu)勢(shì)，在集成性、高速性上有著飛速的發(fā)展。得益于相同的技術(shù)基礎(chǔ)，自動(dòng)測(cè)試儀器（ATE）自動(dòng)化地完成測(cè)試序列，通過(guò)測(cè)試響應(yīng)采檢驗(yàn)芯片是好是壞[1]。在如何使測(cè)試儀基于芯片內(nèi)部時(shí)鐘向芯片加載向量的問(wèn)題上，當(dāng)前主流自動(dòng)測(cè)試儀均未有高精度的解決方案。測(cè)試工程師在深入理解測(cè)試機(jī)硬件和測(cè)試原理的基礎(chǔ)上，通過(guò)向量編程可實(shí)現(xiàn)兩者的同步，主流解決方案為match loop向量編程。

1 向量編程原理

數(shù)字芯片測(cè)試時(shí)，通常數(shù)據(jù)向量都是由測(cè)試儀按照嚴(yán)格的時(shí)序供給被測(cè)芯片，但有些情況下，芯片處理數(shù)據(jù)的時(shí)間是不確定的，測(cè)試儀需等待芯片數(shù)據(jù)處理完成輸出后，再加載向量，因此加載向量的時(shí)間點(diǎn)是不確定的。match loop向量編程的方法可以解決這一問(wèn)題。

match loop向量編程首先分析芯片功能生效前后電平狀態(tài)區(qū)別，通過(guò)不間斷比對(duì)一段固定數(shù)據(jù)的向量，當(dāng)匹配到預(yù)期的正確向量，則向量跳至正常功能測(cè)試部分，通過(guò)測(cè)試儀找到芯片開(kāi)始工作的真實(shí)時(shí)間點(diǎn)。采用循環(huán)的方法減少了向量長(zhǎng)度對(duì)測(cè)試儀通道向量深度的要求，并節(jié)約了編程時(shí)間。……