文/張婷婷 周建勇 陳紅兵 任思偉
隨著CCD技術的發展,內線轉移、全幀轉移、幀轉移、TDI、EM、PtSi紅外焦平面探測器等各類CCD圖像傳感器在各個領域得到廣泛應用,CCD器件需求量顯著提高。其中,在CCD工藝檢測方面,尤其在保證不毀壞芯片的同時,判斷CCD傳感器內部電極之間是否存在短路或漏電情況,即快速檢測CCD器件管腳漏電流成為CCD在生產封裝過程中一項非常關鍵的技術。現階段,每款CCD器件的漏電流測試均需設計對應的電路,設置測試電壓、漏電流大小范圍、測試持續的時間等以實現其漏電流的測試。同時,測試CCD器件漏電流一般包括CCD柵電極對地漏電流和CCD管腳間漏電流測試兩種測試要求。其中CCD柵電極對地漏電流測試的是柵電極(管腳)相對于器件信道(地)的總漏電流。CCD管腳間漏電流測試的器件的每個引線端(管腳)和其它不同定義引線端(管腳)之間的漏電流總和。針對漏電流的測試具有準確性和快速性這一矛盾的測試特點,我們尋求一種新的方案,能高效、準確的進行漏電流測量,以保證項目的質量和進度。
CCD圖像傳感器種類眾多,結構差異大,管腳數量不一,針對不同的CCD漏電流測試需要設計對應的測試電路。同時,一方面在漏電流測試過程中,一般要求操作簡單安全,以防止由于檢測而損壞芯片,保證檢測結果的可靠性,另一方面由于需檢測的器件需求量大,每只器件被測管腳數量多,從而對檢測速度提出了很高的要求。針對這些測試特點,本領域技術人員進行了相關探索,開展了CCD器件漏電流測試裝置的設計研究,采用一種裝置同時實現各常規CCD柵電極對地漏電流和CCD管腳間漏電流測試功能。并在保證漏電流檢測的可靠性前提下,提高檢測速度,克服CCD器件漏電流測試電路設計制作周期長,測試操作復雜,工作量大等問題。
測量系統由測量電路和上位機兩部分組成。其結構方案如圖所示。測量電路包括FPGA模塊、SPDT模塊、CCD插座模塊、電流表和串口模塊組成。FPGA模塊以FPGA為核心,接收上位機的各項控制命令,控制SPDT通道選擇,控制可添加可調電壓大小,返回測試狀態等。SPDT模塊以選用SPDT繼電器單元,使一個SPDT繼電器單元電路均與一個CCD管腳連接,采用多路SPDT繼電器,構成SPDT模組模塊。CCD插座模塊通過結合分析當前常規CCD器件管腳分布及排列,設計兼容常規CCD器件管腳可用插座。如圖1所示。
本測試電路以選用單刀雙擲開關為要點,采用多路SPDT開關排列組合,形成SPDT開關模塊,通過FPGA模塊控制SPDT開關選通待測管腳,給被測管腳加電VCC,其余管腳的SPDT開關選通連接GND,添加限流保護電路,連接電流表,形成漏電流測試單元電路。在測試不同CCD管腳時,選擇對應SPDT繼電器單元電路連接至穩壓電源輸入,其余管腳對應的SPDT繼電器單元電路連接至GND,在不改變硬件電路設計的前提下,只用通過上位機軟件操作,使用FPGA控制,實現對CCD管腳多通道選通,實現其各漏電流測試的功能。
本測試系統的上位機采集部分,基于硬件多通道電路設計,結合串口通信接口,設計軟件控制及采集,實現對電壓的設置、CCD管腳的選通、測試方式的選擇、測試結果的記錄與保存,以及自動循環測試等功能。同時在各次測試中,可保存各次管腳配置,便于測試的重現及同需求CCD器件管腳的漏電流測試。最后搭配直觀易懂的軟件操作界面,最終實現CCD器件管腳漏電流的智能測試。軟件控制流程圖如圖2所示。

圖1:測試系統原理圖

圖2:軟件控制流程圖
使用本系統進行CCD漏電流測試時,首先檢測測試電路各接口連接器及各,將測量電路與上位機連接,然后將CCD安裝到測量電路的CCD模塊載板上,啟動電源,按要求在上位機采集界面設置好各項參數,最后開始測量。測量系統實物圖如圖3所示。
本次測試以典型的某型CCD器件漏電流為例,測試其各管腳對地漏電流和管腳間漏電流,測量完成后,測量數據直接保存至Excel表。本次測量共耗時16分鐘,測量管腳106只。
經實際測試CCD芯片管腳漏電流試用,該電路能滿足各類常用CCD芯片管腳漏電流測試。該電路元器件選型及各參數設計達到了預期的設計目的。
本文介紹了一種多通道的自動化CCD固體傳感器漏電流測量裝置的設計與實現。使用該系統,最多可以一次同時完成384個通道的漏電流測量,適用于各類常規CCD器件,極大提高了探測器篩選時的效率。使用該系統極大的避免器件測試時的損壞,同時測得的結果誤差小,并且系統還具有成本低和操作簡單等優點,極大地節約了人力物力。本系統已經投入使用,效果良好。在其他需要測量大批探測器漏電流的,本系統具有很重要的參考價值。

圖3:多通道自動化CCD漏電流測試裝置實物圖