TFT-LCD四角發黑Mura的研究與改善

操彬彬， 劉幸一， 陳 鵬， 彭俊林， 楊增乾， 安 暉， 汪 弋， 栗芳芳， 陸相晚， 劉增利， 李恒濱

(合肥鑫晟光電科技有限公司，安徽 合肥 230001)

1 引 言

隨著人們對TFT-LCD品質要求的不斷提高，為進一步降低產品的品質風險，我們在信賴性測試過程中非常重視檢測屏幕出現的Mura類不良[1-2]。Mura一詞源自日語，是液晶面板生產過程中出現的各種色斑類不良現象總稱，主要表現為有效顯示區域內亮度或者顏色顯示不均勻。關于Mura的產生原因，大致可以分為電學性和光學性兩種。其中，光學性Mura是指由液晶分子排布、液晶純度、液晶盒厚或彩色濾光片顏料純度、比例及樹脂材料和厚度等光學因素導致的顯示畫面灰度不均勻造成各種痕跡的現象；而電學性Mura是指在顯示區域中，局部位置亞像素的電壓與同期正常位置上亞像素的電壓存在明顯差異導致的灰度不均勻。本文針對一種在TFT-LCD信賴性過程中出現的一種四角發黑Mura，進行了大量測試和分析推理，并提出了比較切實可行的解決方案，與之相同的研究尚未見報道。

2 不良現象

圖1 四角發黑Mura示意圖。(a)25 d HTO后； (b)50 d HTO后。

本文所述的四角發黑Mura發生在信賴性65/90的THO (Temperature Humidity Operation：溫度65 ℃,濕度90%)測試過程中，主要特征包括：(1)Mura初始發生位置固定在面板的4個角，隨著信賴性時間的進一步增加，不良現象逐漸加重，HTO 50 d后Mura可擴散到整個屏幕的周邊，如圖1所示； (2)0灰階不可見，1～255灰階均可見；(3) Mura區域整體像素偏暗，像素未見閃爍；(4)通常發生在信賴性500 h以后，隨增加時間而不斷惡化，長時間的老化如在60 ℃的老化爐放置3 d并不能使不良現象減輕。……