基于STM32F103的多通道光測試系統的設計*

［嚴建平］

1 引言

隨著光通信技術高速發展，光通信領域也發生相應改變，并在光通信數據領域開始形成各種類型測試系統。多通道光測試系統是針對光通信設備、光器件生產和工程應用的需要而開發的一種多通道光信號測試系統。它是集成了偏振控制器、光功率采集儀、回波損耗測試儀、多通道光源為一體的綜合性測試系統。系統采用精確的數據采集技術和軟件校準技術，結合友好的控制界面軟件，可方便快捷的測試器件的光偏振相關損耗（PDL）、光插入損耗（IL）、光回波損耗（RL），并輸出1 270、1 310、1 490、1 550、1 625 nm五個波長的光源。系統的測試數據具有高精確性特點，非常適應于光信號測試和光通信技術領域的使用和推廣。

2 硬件設計與實現

多通道光測試系統通過STM32F103微處理器管理與控制著偏振控制模塊、光功率采集模塊、光回波損耗測試模塊、多通道光源模塊、以太網接口及界面軟件，每個模塊都具有相應的功能，系統組成框圖如圖1所示。

圖1 系統組成框圖

2.1 STM32F103微處理器

STM32F103系列微處理器是第一款基于ARMv7-M結構體系的32位標準精簡指令集（RISC）處理器。具有極高的代碼效率，在常用8位和16位系統的存儲空間上極大發揮了ARM內核的高性能特點。該系列微處理器內置高達128 K字節的Flash存儲器和20 K字節的SRAM，工作頻率為72 MHz，具有豐富的通用I／O端口。作為最新一代的嵌入式ARM處理器，它為實現微控制單元（MCU）的需要縮減引腳的數目降低了功耗，提供了低成本的平臺、卓越的計算性能及先進的中斷響應系統。……