張利園
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壓力管道在化工生產環境中長期使用會出現多種破壞性問題,主要包括腐蝕、疲勞、蠕變、沖刷損耗等,為了保證壓力管道的正常運行,必須采取相應的檢測技術。有損檢測方法會對壓力管道造成一定傷害,并且檢測不便或精度不高。隨著科學技術的發展,無損檢測技術在壓力管道檢測中的應用愈加廣泛,同時也取得了很高的成就[1]。
在管道低應力條件下可能產生脆性破壞問題,主要是受到了低溫影響,脆性破壞面積較小且深,斷口部位迅速開裂。如果管道生產中所使用的材料韌性不足就容易出現脆性破壞。所以在壓力管道設計、制造中,必須嚴格控制低溫制造工藝,并保證材料質量。
壓力管道在實際運行中會受到多種荷載作用,在各種載荷作用下可能發生沒有出現塑性變形直接產生斷裂。在疲勞破壞中,管壁應力不會發生破壞,管道截面保持彈性,所以對管道變形作用不夠明顯。疲勞破壞可能會造成裂紋、斷裂情況,并且可以用肉眼觀察到破壞情況。
①電化學腐蝕。在管道法蘭、彎頭部位最容易產生電化學腐蝕,出現變薄情況。②點腐蝕。點腐蝕現象不容易察覺,主要存在于焊縫等受熱影響區域。③縫隙腐蝕??p隙溶液滲透、阻礙等影響,加速管道縫隙腐蝕速率,多數存在于焊接缺陷部位。④晶間腐蝕。主要是在焊縫部位出現腐蝕,但不會減小壁厚或金屬色澤。⑤應力腐蝕。受到介質腐蝕以及拉應力影響加速腐蝕,主要出現于奧氏體不銹鋼焊縫、熱影響區,同樣不容易被察覺,但有較大的破壞性。⑥氫腐蝕。氫離子進入到金屬中會導致性能發生變化,主要出現在低合金鋼管、不銹鋼管中出現。
X 射線散射成像技術利用的康普頓散射光子對物體成像,重構物體內部電子密度分布??灯疹D散射檢測技術利用康普頓散射光子來獲得材料密度信息;如圖1 所示,探測系統由三部分組成:X 射線源、X 射線探測器和兩個準直器組成。兩個準直器開孔的大小決定了探測單元體素的體積大小。根據Klein-Nishina 模型,計算入射X 射線能量分別為300,200,100keV 時,其康普頓散射截面跟角度的關系如圖2 所示??梢娚⑸浣孛媾c入射光子的能量和角度非常大的相關行。高能射線前向散射概率大,即大概率會穿透物質;低能射線,背散射概率大。
現階段,常用X 射線機所產生周向的輻射線、長輸管線環焊縫檢測,均需借助平面的陽極靶才可完成。但平面的陽極靶手段之下產生輻射角相對較小一些,并不符合國產25° X 射線管標準,故若處于相對較小焦距情況之下,針對于X 射線的檢測幾何條件和透照范圍各項因素控制,有著一定難度系數。如借助X 射線管道的爬行裝置,對于外徑為Φ325×12mm 管道的環焊縫,設它平面的陽極靶所產生有效的輻射角β25°,帶入到tga=(L/2)r 該列式實施計算分析,a=β/2 當中,L 代表有效輻射寬,r 代表管道直徑。經計算分析后可了解到,有效輻射的寬度最終計算結果是72mm,若實操期間,借助寬度為80mm 膠片,則均勻透照的兩側和焊縫,均做好爬行裝置位置的精準定位操作,以便于更好地把握長輸管道的直徑和X 射線管的散射角兩者關系,為后期無損檢測實操工作順利實施奠定良好基礎[2]。
無損檢測實施期間,若需上下坡,務必要關注爬行裝置自重這一方面因素,主要是因實測期間,上下坡段和正常段定位精度有差異性存在,故實測期間,需結合實際的坡度,把偏差值有效把控至最合理范圍,把正常段定位距離當成參照物加以校正處理,在后續定位操作期間,需以校正處理結果為依據事實。長期使用管道爬行裝置,剎車和傳動位置難免會有磨損或者老化情況出現。電子系統的穩定性方面,主要包含著不同溫度條件下穩定性、抗電磁的干擾和電路設計,焊接作業通常需和爬行裝置同步實施,焊接作業期間所產生電磁、電離,會和電子系統之間有干擾形成,此時務必要將屏蔽措施做好。爬行裝置實際運行期間所遇溫度環境往往有差異存在,故溫度變化會影響到電子系統整體穩定性,更會影響到定位,電路設計指令源在接近于射線機光時,射線機實際運行期間,指令接受裝置會處于激發狀態,影響到它的性能,接受管實際靈敏度必然大大降低。對于精度偏差范圍確定,前文中提到射線有效的輻射范圍與管道直徑為正比例的關系,線性呈現著逐漸上升的趨勢。若設平面的陽極靶25°實施計算分析,便可進一步確定不同管徑條件下,有效輻射及偏差可允許的范圍。實測期間,對于定位精度實際范圍的確定,需要以全部片覆蓋的寬度為參考,盡量把控偏差范圍,將其控制到最適宜范圍內,一般在±10mm 范圍之內。
從總體上來說,X 射線科學技術屬于無損檢測一種常用技術手段,長輸管道的無損檢測實踐工作期間,要求廣大技術員不僅要把握好X 射線科學技術實操要點,還需要結合實際的檢測情況及需求,對X 射線科學技術實操方案予以逐步優化及完善,以確保X 射線科學技術優勢得以發揮,保證長輸管道的無損檢測實踐效果[3]。